复合式治具的探针改良制造技术

一种复合式治具的探针改良，其特征在于：　　　　在探针的上、下端之间一体成型设有一弹性体，并藉以形成上段探测部与下段接线部；　　　　在该探针的下段接线部是直接安装设有一导线连接于电路测试机。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种复合式治具的探针，特别是涉及一种在探针上、下端之间以一体成型方式设有一弹性体，并在探针底端位置直接装接有一连设于电路测试机的导线所构成的复合式治具的探针改良。本技术结构设置极具简洁、方便与经济性，并可使形成弹性伸缩动作的探针的构成材料更为节省，以及可使探针检测运作的导电性与讯号传输具有更佳效果，而极符进步性与实用性。
技术介绍
一般具有复数个待测点(如电子组件接点)的诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等制成后，均需通过一种专用治具予以检测，藉以确认是否为良品或有无断路现象。又，按现有产业间所采用的检测该诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等待测物的方式，大抵如图1所示，该现有习用的复合式治具的探针，是在一治具10的上表面设置有若干支探针20，该若干支探针20且为配合待测物30底面的各待测点(图中未示)的位置而设置；另，在治具10的下方设有一底座11，以及在底座11的四周配置有接头12，而该等接头12且与电路测试机的排线(图中未示)相连接导通。当检测待测物30时，是预先将电路测试机的排线插入接头12，接续将待测物30对应放置在治具10的探针20上，藉由探针20与待测物30底面的待测点接触后，电路测试机便可显示待测物30是否有断路或不良等的现象。又，为了使待测物30的诸待测点的检测具有确实性，以及为了使待测物30下压于探针20实施检测时，该探针20或待测点不会发生被破坏的现象，该诸探针20是设置为呈可弹性伸缩动作。即，如图2、图3所示，该诸探针20是分别插置在一探针套筒21内，而该诸探针套筒21是分别插置定位在与待测物30的诸待测点呈相对应的针板13的插孔131内；其中，该诸探针套筒21的底端分别安置有一导线22并连接于相对应的接头12，以及在里部装设有一弹簧23，而当探针20插入探针套筒21后，其底端并恰好为弹簧2 3顶承而可产生弹性伸缩的动作。不可否认，上述现有的复合式治具的探针的设置暨安置的方式，确实可达到检测待测物的应时效果，惟，在历经使用后，业者却明显的发觉其存在有下述缺失有待改善1、为了使探针20具有弹性伸缩的动作性，该在针板13预定的插孔131位置将必须逐一安置一探针套筒21，及在探针套筒21里部必须设置有弹簧23，然而，由于该复合式治具的探针改良20的直径极细，故在提供其插置容纳的探针套筒21直径是连带甚小，以及容纳于内的弹簧23是相对更为细小的情形下，显然的，不但在弹簧23的制作成本上有较高之虞，就其组装于探针套筒21的实施性而言，亦连带存在有较为复杂、繁琐、不便与不经济的现象。2、由于该探针20是必须不断的对被待测物30实施下压以进行检测的动作，以及该顶承的弹簧23又是极细而会有使用寿命较短的情形，故一旦弹簧23发生断裂或弹性疲乏时，对于待测物的检测效果便必然会出现大打折扣的情形发生。3、为了促使探针20提供检测效果，该包含构件的探针20、套针套筒21及弹簧23等，除了在制作、组装上较为麻烦、不便及不经济外，对于整体使用的材料亦存在有相对增加的不经济之虞。4、如前项所述，由于该导致探针20发挥检测效果的构件，除了探针20之外，另外还包含探针套筒21、弹簧23等数个间接构件，且该传输检测讯号的导线22，又是连接于电路测试机与间接构件的探针套筒21之间，故在组成构件较多及相对接点亦多，以及该卷绕成型的弹簧23又具有较长的长度等情形下，自然的，该产生的阻抗必然会较大，而存在有产生导电性较差及容易导致检测讯号发生失真之虞。当然，为了改善上述的缺失，此间业者亦曾提供出一种如图4、图5所示的复合式治具的探针的构造，其主要是将原供弹簧容纳的探针套筒予以省略，而将弹簧23直接容置在针板13的插孔131，以及探针20下端穿过数层夹板40后，则插设在对应的针板插孔131并为弹簧23顶端的承块24顶承着，而该导线22则是将其一端直接设于弹簧23底端，另一端是直接连接于电路检测机接头。藉此，该探针20对待测物检测的讯号将可经由弹簧23、导线22而直接传输到电路测试机。不可否认，上述的设置方式，由于省略了探针套筒的结构设置，故在制作上除了较现有的复合式治具的探针改良具有直接节省成本效果外，同时，由于该探针20及弹簧23不需容纳在探针套筒内，则使得现有的复合式治具的探针改良存在的组装较为麻烦、不便、复杂与不经济的缺失亦可达到改善；当然，该弹簧23可在设置为较大的情形下，亦有制作较为简易、经济及使用寿命较为延长的效果。惟，在历经长时间的使用后，业者亦发现该复合式治具的探针改良仍存在以下些许美中不足的缺失，而有待且必须加以改善1、由于该探针20仍然必须藉助另外设置的弹簧23及承块24顶承配合方可具有弹性伸缩动作性，故在制作上仍存在有构件较多、所产生的材料成本增加，以及各构件必须逐一制作、组装的麻烦、不便与不经济性。2、由于该导使探针20发挥检测效果的构件，是依然包含有单独设置的弹簧23、承块24等间接构件，且该导线22亦是连接于电路测试机与间接构件的弹簧23之间，故在检测实施上，该现有的复合式治具的探针改良因其构件较多所产生的接点多，以及该卷绕成型的弹簧23同样具有较长的长度，进而造成阻抗增加、导电性较差与检测讯号容易失真等缺失，同样无法达到改善的效果。由此可见，上述现有的用于检测诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆的复合式治具的探针的结构设计仍存在有实际实施上的美中不足的缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述复合式治具的探针存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。有鉴于上述现有的复合式治具的探针存在的缺陷，为使上述缺失得以确实且有效的改善，并使待测物具有更佳、更准确的检测效果，本设计人基于丰富的实务经验及专业知识，积极加以研究创新，经过不断研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本技术。
技术实现思路
本技术的主要目的在于，克服上述现有的复合式治具的探针存在的缺陷，而提供一种新型结构的复合式治具的探针改良，所要解决的技术问题是使其藉探针是在上、下端之间一体成型设有一弹性体，并在探针底端直接装接有一导线连设于电路测试机，则探针分别定位于针板插孔实施检测动作时，该弹性体可直接提供探针弹性伸缩的动作性，同时，该检测的讯号亦可直接经由导线准确的传输至电路测试机。本技术的次一目的在于，提供一种复合式治具的探针改良，所要解决的技术问题是使其藉探针与弹性体是一体成型，则该探针可达到弹性伸缩效果的实施，不但在制作、组装上确实具有更简易、方便、快速及经济的效果，同时，就制成的材料而言，亦可达到实质节省而具有经济性的积极效果。本技术的另一目的在于，提供一种复合式治具的探针改良，所要解决的技术问题是使其藉探针与弹性体是一体成型而具有极佳的导电性，且该传输讯号的导线又是直接连设于探针与电路测试机之间，而不通过间接构件，则实施检测运作时，该待测物的检测讯号自可以较不失真的极佳准确性传输于电路测试机。本技术的再一目的在于，提供一种复合式治具的探针改良，所要解决的技术问题是使其提供一种结构设置极具简洁、方便与经济性，且可使形成弹性伸缩动作的探针本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘朝昇，
申请(专利权)人：陈东汉，
类型：实用新型
国别省市：