检测用探针制造技术

一种检测用探针，其特征在于：在探针的上、下端之间一体成型设有一弹性体，并藉以形成上段探测部与下段接线部，而在该探针的下段接线部是直接安设有一导线连接于电路测试机。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测用探针，特别是涉及一种在探针的上、下端之间以一体成型方式设有一弹性体，并在探针底端位置直接装接有一连设于电路测试机的导线所构成的检测用探针。藉此，该必须以弹性伸缩动作形态实施检测运作的探针，将不但具有制作更简洁、方便与经济的效果，尤其更具有构成材料更为节省、导电性更佳及讯号更不失真的积极效果。
技术介绍
一般具有复数个待测点(如电子组件接点)的诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等制成后，均需通过一种专用治具予以检测，藉以确认是否为良品或有无断路现象。又，按现有产业间所采用的检测该诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等待测物的方式，大抵如图1所示，该现有习用的检测用探针，是在一治具10的上表面设置有若干支探针20，该若干支探针20且为配合待测物30底面的各待测点(图中未示)的位置而没置；另，在治具10的下方设有一底座11，以及在底座11的四周配置有接头12，而该等接头12且与电路测试机的排线(图中未示)相连接导通。当检测待测物30时，是预先将电路测试机的排线插入接头12，接续将待测物30对应放置在治具10的探针20上，藉由探针20与待测物30底面的待测点接触本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘朝昇，
申请(专利权)人：陈东汉，
类型：发明
国别省市：