电位法晶体管在路检测仪制造技术

本实用新型专利技术属于一种晶体管在路检测的仪器。本实用新型专利技术有基极、发射极、集电极三个触脚，发射极触脚串接有可调电阻，可调电阻的滑触端连接基极触脚，在集电极触脚串接有保护电阻，在可调电阻上跨接有直流电源，在保护电阻与发射极触脚之间跨接有直流电源，在发射极触脚与集电极触脚之间跨接有表头。本实用新型专利技术结构简单、造价低、操作方便、测量准确，不需从电路板上取下晶体三极管就可实现检测。（*该技术在2003年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于一种晶体管在路检测的仪器。目前，在电子线路中，对晶体三极管的检测，需将晶体三极管从电路板上取下，用万用表或图示仪进行检测。由于晶体管要从电路板上取下检测，增加了焊接次数，操作不方便，同时易造成晶体三极管的焊接烧坏。本技术的目的在于解决上述问题，提供一种结构简单、使用方便、检测准确的电位法晶体管在路检测仪。本技术有基极、发射极、集电极三个触脚，发射极触脚串接有可调电阻，可调电阻的滑触端连接基极触脚，在集电极触脚串接有保护电阻，在可调电阻上跨接有直流电源，在保护电阻与发射极触脚之间跨接有直流电源，在发射极触脚与集电极触脚之间跨接有表头。本技术结构简单、造价低、操作方便、测量准确，不需从电路板上取下晶体三极管就可实现检测。附图说明图1为本技术电路图。图2为本技术实施例1电路图。图3为本技术实施例2电路图。图4为本技术实施例3电路图。以下结合附图对本技术作详细描述。如图1所示，本技术有基极、发射极、集电极三个触脚b、e、c，发射极触脚e串接有可调电阻R1，可调电阻R1的滑触端连接基极触脚b，集电极触脚c串接有保护电阻R2，在可调电阻R1上跨接有直流电源1，在保护电阻R2与发射极触脚e之间跨接有直流电源2，在发射极触脚e与集电极触脚c之间跨接有表头3。当检测在路晶体三极管时，把本技术三个触脚与被测晶体三极管的管脚对应，调整可调电阻，表头的数值发生变化，由此而判断晶体三极管的好坏。图2为实施例1。如图2所示，本技术有基极、发射极和集电极三个触脚b、e、c，发射极触脚e串接有可调电阻R1，可调电阻R1的滑触端连接基极触脚b，集电极触脚c串接有保护电阻R2，在可调电阻R1上跨接有直流电源A，在保护电阻R2与发射极触脚e之间跨接有直流电源B，在集电极触脚c与发射极触脚e之间跨接有表头。直流电源和表头通过连动开关K跨接，也可以分离开关跨接。直流电源A、B为二个，其分别通过开关跨接在可调电阻R1上和保护电阻R2与发射极触脚e之间。直流电源A由电源变压器B1、整流桥堆QL1、三端集成稳压块W7801、滤波电容C1组成高质量的直流电源，直流电源B由电源变压器B2、整流桥堆QL2、三端集成稳压块W7812、滤波电容C2组成，直流电源A、B为典型电路。如图2所示，每个跨接点都有两个抽头，对NPN、PNP管选择不同的开关方向就可检测。图3为实施例2。如图3所示，本技术有基极、发射极、集电极三个触脚b、e、c，发射极触脚e串接有可调电阻R1，可调电阻R1的滑触端连接基极触脚b，集电极触脚c串接有保护电阻R2，在保护电阻R2与发射极触脚e之间跨接有直流电源，直流电源采用一个，其直接跨接在保护电阻R2与发射极触脚e之间，并通过分压电阻R3在可调电阻R1上形成分压直流电源，也可完成晶体三极管的检测。图4为实施例3，如图4所示，直流电源为电池组，其它电路与实施例1相同。权利要求1.一种电位法晶体管在路检测仪，其特征是其有基极、发射极、集电极三个触脚，发射极触脚串接有可调电阻，可调电阻的滑触端连接基极触脚，集电极触脚串接有保护电阻，在可调电阻上跨接有直流电源，在保护电阻与发射极触脚之间跨接有直流电源，在发射极触脚与集电极触脚之间跨接有表头。2.根据权利要求1所述的电位法晶体管在路检测仪，其特征是直流电源为二个，其分别跨接在可调电阻上和保护电阻与发射极触脚之间。3.根据权利要求1所述的电位法晶体管在路检测仪，其特征是直流电源为一个，其跨接在保护电阻与发射极触脚之间，并通过分压电阻在可调电阻上形成分压直流电源。4.根据权利要求1～3之一所述的电位法晶体管在路检测仪，其特征是直流电源由电源变压器、整流桥堆、三端集成稳压块、滤波电容组成。5.根据权利要求1～3之一所述的电位法晶体管在路检测仪，其特征是直流电源为电池组。6.根据权利要求1～3之一所述的电位法晶体管在路检测仪，其特征是直流电源和表头通过连动开关跨接。7.根据权利要求6所述的电位法晶体管在路检测仪，其特征是每个跨接点都有两个抽头。专利摘要本技术属于一种晶体管在路检测的仪器。本技术有基极、发射极、集电极三个触脚，发射极触脚串接有可调电阻，可调电阻的滑触端连接基极触脚，在集电极触脚串接有保护电阻，在可调电阻上跨接有直流电源，在保护电阻与发射极触脚之间跨接有直流电源，在发射极触脚与集电极触脚之间跨接有表头。本技术结构简单、造价低、操作方便、测量准确，不需从电路板上取下晶体三极管就可实现检测。文档编号G01R31/26GK2172875SQ9324473公开日1994年7月27日 申请日期1993年11月14日 优先权日1993年11月14日专利技术者王渝 申请人:王渝本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电位法晶体管在路检测仪，其特征是其有基极、发射极、集电极三个触脚，发射极触脚串接有可调电阻，可调电阻的滑触端连接基极触脚，集电极触脚串接有保护电阻，在可调电阻上跨接有直流电源，在保护电阻与发射极触脚之间跨接有直流电源，在发射极触脚与集电极触脚之间跨接有表头。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王渝，
申请(专利权)人：王渝，
类型：实用新型
国别省市：65[中国|新疆]