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电位法晶体管在路检测仪制造技术

技术编号:2644230 阅读:223 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术属于一种晶体管在路检测的仪器。本实用新型专利技术有基极、发射极、集电极三个触脚,发射极触脚串接有可调电阻,可调电阻的滑触端连接基极触脚,在集电极触脚串接有保护电阻,在可调电阻上跨接有直流电源,在保护电阻与发射极触脚之间跨接有直流电源,在发射极触脚与集电极触脚之间跨接有表头。本实用新型专利技术结构简单、造价低、操作方便、测量准确,不需从电路板上取下晶体三极管就可实现检测。(*该技术在2003年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于一种晶体管在路检测的仪器。目前,在电子线路中,对晶体三极管的检测,需将晶体三极管从电路板上取下,用万用表或图示仪进行检测。由于晶体管要从电路板上取下检测,增加了焊接次数,操作不方便,同时易造成晶体三极管的焊接烧坏。本技术的目的在于解决上述问题,提供一种结构简单、使用方便、检测准确的电位法晶体管在路检测仪。本技术有基极、发射极、集电极三个触脚,发射极触脚串接有可调电阻,可调电阻的滑触端连接基极触脚,在集电极触脚串接有保护电阻,在可调电阻上跨接有直流电源,在保护电阻与发射极触脚之间跨接有直流电源,在发射极触脚与集电极触脚之间跨接有表头。本技术结构简单、造价低、操作方便、测量准确,不需从电路板上取下晶体三极管就可实现检测。附图说明图1为本技术电路图。图2为本技术实施例1电路图。图3为本技术实施例2电路图。图4为本技术实施例3电路图。以下结合附图对本技术作详细描述。如图1所示,本技术有基极、发射极、集电极三个触脚b、e、c,发射极触脚e串接有可调电阻R1,可调电阻R1的滑触端连接基极触脚b,集电极触脚c串接有保护电阻R2,在可调电阻R1上跨接有直流电源1,在保护电阻R2与发射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电位法晶体管在路检测仪,其特征是其有基极、发射极、集电极三个触脚,发射极触脚串接有可调电阻,可调电阻的滑触端连接基极触脚,集电极触脚串接有保护电阻,在可调电阻上跨接有直流电源,在保护电阻与发射极触脚之间跨接有直流电源,在发射极触脚与集电极触脚之间跨接有表头。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王渝
申请(专利权)人:王渝
类型:实用新型
国别省市:65[中国|新疆]

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