用于量测发光二极管之装置制造方法及图纸

一种用于量测发光二极管之装置，其特征在于，包括：　　　　一固定片；　　　　两气缸，分别位于该固定片之两侧；　　　　两导电片，分别位于该固定片与该气缸之间，该每一导电片连接至一光电特性测试端；　　　　由此，将待测发光二极管之两导脚分别置于该固定片与该导电片之间，再激活该两气缸，以挤压该两导电片，使该两导电片接触该两导脚，即可进行量测工作。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

专利
本技术系有关于一种量测装置，特别是一种用于量测发光二极管之装置。
技术介绍
参考图1，现有技术中的发光二极管测试机之量测装置1系为一探针座组，其系由一主体及由该主体延伸出之四探针11、12、17、18所组成，该等探针11、12、17、18之材质通常为硬质铍铜或工具钢。该探针座组通常固定于一压克力治具13中，而由一带动机构将该治具13连同该探针座组以直线式往复运动来带动该等探针11、12、17、18去点测发光二极管14之两导脚15、16。由于该等探针11、12、17、18之方向与发光二极管导脚15、16之方向系为垂直，因此每一探针与导脚接触的地方只有一点，而且该探针座组在往复移动过程中，定位会有困难，加上发光二极管两导脚15、16间之距离十分小，都使得量测时容易因接触不良而使量测结果有误差。此外，该治具13之材质为压克力，容易损坏，而需时常更换。因此，有必要提供一种创新且进步的发光二极管量测装置，以解决上述问题。
技术实现思路
本技术之主要目的是提供一种用于量测发光二极管之装置，使得在量测发光二极管之过程中，确保稳固地挟持该发光二极管的导脚，且量测之接触面积确实，而得到正确本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴金明，
申请(专利权)人：扬亦科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：