【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于集成电路测试领域。目前普遍使用的集成电路特别是大规模和超大规模集成电路测试仪，是采用波形合成部件来产生被测器件引脚上所需的方波波形。波形合成部件结构复杂、成本高，频宽受限制，对不同测试要求的适应性差，使用也很困难。随着被测器件工作频率和所需方波波形种类的增加，这些缺点更为突出，波形合成部件和整个测试仪的设计和制造亦更为繁杂。为了从根本上克服这些缺点，本专利技术用波形积分部件替代波形合成部件，它与能自动产生的微分测试图形相配合，组成了一种新型集成电路测试仪。所说的微分测试图形是用方波波形微分法自动将被测器件引出脚上所需的方波波形进行微分而得到的许多串由0，1组成的信号序列。在实际测试时，这种微分测试图形再由波形积分部件按微分步长积分，而直接产生被测器件所需的方波波形。实现这种方波波形积分的硬件和工作过程是只要将由0，1组成的信号序列按一定的频率从数据端打入到触发器(如D型触发器)中，便可在其正输出端上产生方波波形。显然，这种互为互补的波形微积分法可以处理任何方波波形，被测器件上所有输入，输出引线上的波形都可以用同样方法处理。这就省略了定时发生器的配合。波...
【技术保护点】
一种用于各种规模集成电路的测试仪，其特征在于采用方波波形积分部件代替方波波形合成部件。所说的方波波形积分部件是由波形积分寄存器（１）、存贮器（３）和波形积分控制器（４）组成。
【技术特征摘要】
1.一种用于各种规模集成电路的测试仪，其特征在于采用方波波形积分部件代替方波波形合成部件。所说的方波波形积分部件是由波形积分寄存器(1)、存贮器(3)和波形积分控制器(4)组成。2.根据权利要求1所说的集成...
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