【技术实现步骤摘要】
本专利技术属半导体器件和电阻性双口网络特性的测试装置。现有的半导体器件特性测试装置，国际上有代表性的是美国Tekt-ronix公司生产的Type 576Curve Tracer，Type 577 Curve Tracer;国内产品为QT2型晶体管特性图示仪等。国内外现有的这一类图示仪，其工作原理大致相同，都是以波形分别为正、负半波正弦波的电压源为测试扫描信号，以正、负阶梯的阶梯波电压源和电流源为控制信号，被测器件两端的电压和流经相应端口的电流分别由电压、电流测试电路进行测量，然后分别加到显示装置的水平通道和垂直通道，在萤光屏上将被测器件的特性以曲线形式显示出来。这类图示仪只能直接测试电压控制型半导体二端器件的i-v特性和三端或双口器件的输入、输出特性曲线族，并且只能分别显示上半平面或下半平面的特性，而不能直接测试电流控制型半导体二端器件的i-v特性，特别是不能测试半导体三端或双口器件(或网络)的正、反向传输特性。目前，对半导体三端或双口器件(或网络)的正、反向传输特性的直接测试，还是国际上半导体器件特性测试方法和技术上长期存在的难题和空白，因而半导...
【技术保护点】
一种半导体器件特性测试装置，其中包括：一个产生输出波形为正、负半波或全波正弦波的扫描信号产生电路，一个产生输出波形按正阶梯或负阶梯变化的阶梯波信号的阶梯信号产生电路，以及电流、电压测量电路和显示装置等，将扫描信号产生电路和阶梯信号产生电路输出的测试信号（扫描信号和阶梯波信号）输入到被测器件（或网络）的有关端口，被测器件相应端口上的待测电流和电压传送到电流、电压测量电路进行测量，再将电流、电压测量电路的输出信号传送到显示装置以图示被测器件的特性曲线，其特征在于装置中具有传输特性测试运算放大器、寄生振荡抑制电路和功能转换控制电路，所说的扫描信号产生电路产生的扫描信号包括电压源扫...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：钟国群，
申请(专利权)人：中国科学院广州电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：81[中国|广州]
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