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一种半导体器件特性测试装置，包括扫描信号产生电路，阶梯信号产生电路、电流、电压测量电路和特性显示装置等，特别具有传输特性测试运算放大器，寄生振荡抑制电路以有设计新颖独特的功能转换控制电路。本装置可直接图示包括正、反向传输特性在内的半导体三端...
该专利属于中国科学院广州电子技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院广州电子技术研究所授权不得商用。

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