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本发明属于集成电路测试仪．它所提供的这种新型集成电路测试仪比现有的测试仪测试频率更宽，性能好，适应性更强，它能直接产生任何复杂的方波波形，因而控制逻辑和结构也更加简单．特别是它所使用的测试图形可以完全自动生产．这种新型集成电路测试仪取得这些...
该专利属于朱昌衡所有，仅供学习研究参考，未经过朱昌衡授权不得商用。

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