带测试接口的集成电路制造技术

本发明专利技术涉及带测试接口的集成电路，该测试接口用于测试集成电路中的电源焊点与功能块电源之间的传导连接。电流测试电路具有与沿该传导连接的第一和第二点耦合的测试输入，用于将跨在测试输入上的电压与一个阈值进行比较。该电流测试电路包括一个阈值改变电路，当该阈值改变电路处于激活状态时，它根据跨在输入上的电压来改变阈值。上述测试分为二步进行，当在测试输入上施加第一电压时，激活阈值改变电路并且在测试输入处将第二电压与已改变的阈值进行比较。当集成电路被设置成对所述传导连接进行分流时，第一和第二电压中的一个是跨在传导连接上的电压降，第一和第二电压中的另一个是参考电压。在一个实施方案中，集成电路有一个分路，该电路引发与功能块电流并联的通过被测传导连接的电流。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及带测试接口的集成电路以及包含该类集成电路的电路中的电源连接的测试方法。为确保集成电路在各种条件下正常工作，人们希望能够对IC的电源连接进行故障测试。原则上，处于完全故障状态的电源连接可以通过探测不到应从电源连接接收功率的功能块响应的方式来得知。但是这种方法不能探测所有可能的故障。例如，如果集成电路对相同的电源电压有多于一个的电源连接，在一个连接处发生的故障就可能被掩盖，这是因为电源电流可以通过其它连接到达功能块。这可能使功能块虽然在某些情况下不能完全胜任地运行，但是在某些情况下却可以作出响应，例如当它突然必须消耗增加的电源电流。作为一种替代方法，可以监测沿电源连接的电压降。但是采用这种测试集成电路中故障电源连接的方法是困难的，因为除了寄生电压降外没有任何其它电压降能沿电源连接存在。美国专利5894224和5963038描述了采用线圈对沿电源连接电流进行测试的技术，但是这种技术只适用于结合了没有太多寄生效应的线圈的集成电路。美国专利5068604公开了一种测试集成电路的电源连接的功能的方法，该集成电路对相同的电压有多个电源连接。该测试方法对集成电路中不同节点电压之间本文档来自技高网...

【技术保护点】
带测试接口的集成电路，该集成电路包括－电源焊点；－带电源输入的功能块；－电源焊点与电源输入之间的传导连接－带测试输入的电流测试电路，该测试输入与沿着传导连接的第一和第二点相耦合，用于将跨在测试输入上的电压与阈值进行比较，该电 流测试电路包括用于在其处于激活状态时，根据跨在测试输入上的电压来将阈值改变到一个改变值的阈值改变电路；－其中的测试接口与阈值改变电路和电流测试电路相连接，并且该测试接口提供用于执行的测试命令，该执行至少包括以下步骤：当在测试输入上施加第 一电压时激活阈值改变电路并且将在测试输入上的第二电压与被改变阈值进行比较，第一和第二电压中的一个是当...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：FGM德容，RF舒特尔特，J德维尔德，GW登贝斯滕，BMJ库普，AJPM范乌登，
申请(专利权)人：皇家菲利浦电子有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]