下载带测试接口的集成电路的技术资料

文档序号:2636780

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本发明涉及带测试接口的集成电路,该测试接口用于测试集成电路中的电源焊点与功能块电源之间的传导连接。电流测试电路具有与沿该传导连接的第一和第二点耦合的测试输入,用于将跨在测试输入上的电压与一个阈值进行比较。该电流测试电路包括一个阈值改变电路,...
该专利属于皇家菲利浦电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过皇家菲利浦电子有限公司授权不得商用。

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