检测成批的电气部件制造技术

本发明专利技术涉及一种用于检测成批的类似集成电路的电气部件的方法，该方法包括：对来自该批的每一个电气部件应用第一检测（６）；和对没通过该第一检测（６）的电气部件应用第二检测（１２）。有利的是，第二检测（１２）直接在第一检测（６）之后实施。优选的是，该第一检测（６）包括功能检测，该第二检测（１２）包括触点和短路检测。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测成批的类似集成电路的电气部件方法、一种制造电气部件的方法、以及一种检测设备。检测成批的电气部件以及制造电气部件在实际应用中是已知的，该电气部件例如为集成电路，但不限于此。在已知方法中，触点和短路检测(C&S-test)应用于成批的电气部件中的每一个。在触点和短路检测(C&S-test)中，检测电气部件的电触点。通过触点和短路检测的电气部件随后在功能检测中被检测，其中检测该电气部件的操作特性。在这种功能检测中，电气部件的一个或多个参数被测量并且与预定的参数范围相比较。在本文中，对术语“参数”的理解是广泛的功能检测可包括参数检测、合格与不合格检测、数字检测、或它们的组合。在后一种情况下，功能检测包括多个子检测。已知方法的方式基于尽可能快地排除不合格品的策略。这种方法的缺点在于，该方法耗费大量的时间。这是由以下事实造成的，即，所有电气部件至少在两个检测过程中进行检测。第一检测是触点和短路检测，第二检测是功能检测。本专利技术的目的是解决所述缺点。本专利技术由独立权利要求限定；从属权利要求限定有利的实施例。本专利技术的主要方面在于提供本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测成批的电气部件的方法，该方法包括：　　　　对来自该批的每一个电气部件应用第一检测（６、２８）；和　　　　对没通过该第一检测（６、２８）的电气部件应用第二检测（１２、３４）。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：CO茨尔克尔，J西蒂萨克萨瓦特，
申请(专利权)人：皇家菲利浦电子有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]