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本发明涉及一种用于检测成批的类似集成电路的电气部件的方法，该方法包括：对来自该批的每一个电气部件应用第一检测（６）；和对没通过该第一检测（６）的电气部件应用第二检测（１２）。有利的是，第二检测（１２）直接在第一检测（６）之后实施。优选的是，...
该专利属于皇家菲利浦电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过皇家菲利浦电子有限公司授权不得商用。

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