用于测试电气部件的电气接头制造技术
【技术实现步骤摘要】
本专利技术总体上涉及在测试电气部件期间用于接触电气部件的电气接头以及用于测试电气部件的包括该电气接头的设备。
技术介绍
在电子/电气部件的制造中，通常需要对电子/电气部件进行功能测试，诸如Kelvin接触测试，以确保在测试下该装置处于工作状况下并且履行其规范。利用诸如接触装置的测试设备能够测试电气部件，该测试设备通常包括：安装块，该安装块用于安装电气部件；以及诸如接触指的一个或多个电气接头，该电气接头用于接触电气部件的引线。为了进行测试，待被测试的电气部件定位成使得电气部件的引线建立与接触装置的接触指的电接触。通常，在测试设备的电气接头中设置两个分离的接触片以接触正被测试的电气部件的一个引线从而进行Kelvin触头测试。一个接触片被构造成提供测试信号，而另一个接触片被构造成感测/接收信号。接触片被联接到处理器单元，该处理器单元实施测试程序并且分析所述信号以获得测试的结果。为了实现足够的电接触，电气部件的引线应该被定位在或者安置在两个接触片上。然而，可能产生的一个问题是由于执行多个电气部件的测试所在的高速度，因此电气部件可能发生位置偏移，从而使得在测试期间电气部件...
【技术保护点】
一种用于接触电气部件的电气接头，所述电气接头包括：第一构件，该第一构件纵向地延伸并且具有端部，所述第一构件具有第一纵向侧和第二纵向侧；第二构件，该第二构件具有：第一节段，该第一节段与所述第一构件的所述第一纵向侧纵向相邻地延伸，第二节段，该第二节段与所述第一构件的所述第二纵向侧纵向相邻地延伸，和第三节段，该第三节段基本横向于所述第一构件延伸并且定位成与所述第一构件的所述端部相邻，该第三节段设置成将所述第一节段与所述第二节段联接；其中，在所述第一构件和所述第二构件之间限定有连续沟槽，使得所述第一构件和所述第二构件彼此电绝缘。
【技术特征摘要】
2015.06.10 US 14/735,4051.一种用于接触电气部件的电气接头，所述电气接头包括：第一构件，该第一构件纵向地延伸并且具有端部，所述第一构件具有第一纵向侧和第二纵向侧；第二构件，该第二构件具有：第一节段，该第一节段与所述第一构件的所述第一纵向侧纵向相邻地延伸，第二节段，该第二节段与所述第一构件的所述第二纵向侧纵向相邻地延伸，和第三节段，该第三节段基本横向于所述第一构件延伸并且定位成与所述第一构件的所述端部相邻，该第三节段设置成将所述第一节段与所述第二节段联接；其中，在所述第一构件和所述第二构件之间限定有连续沟槽，使得所述第一构件和所述第二构件彼此电绝缘。2.根据权利要求1所述的电气接头，其中，所述第二构件终止在位于所述第二节段处的端部处，所述第二构件的所述端部与所述第一构件的所述第二纵向侧相邻。3.根据权利要求1所述的电气接头，其中，所述第二构件的所述第一节段和所述第二节段基本上平行于所述第一构件。4.根据权利要求1所述的电气接头，其中，所述第一构件和所述第二构件中的一个被构造成向所述电气部件供应信号，并且所述第一构件和所述第二构件中的另一个被构造成检测来自所述电气部件的信号。5.根据权利要求1所述的电气接头，其中，所述第一构件和所述第二构件均被构造成具有平坦表面，用于建立与所述电气部件的引线的接触。6.根据权利要求5所述的电气接头，其中，所述第一构件的所述平坦表面和所述第二构件的所述平坦表面是共面的。7.一种用于测试电气部件的设备，所述设备包括：至少一个电气接头，该电气接头用于接触所述电气部件，所述电气接头包括：第一构件，该第一构件纵向地延伸并且具有端部，所述第一构件具有第一纵向侧和第二纵向侧；第二构件，该第二构件具有：第一节段，该第一节段与所述第一构件的所述第一纵向侧纵向相邻地延伸，第二节段，该第二节段与所述第一构件的所述第二纵向侧纵向相邻地延伸，和第三节段，该第三节段基本横向于所述第一构件延伸并且定位成与所述第一构件的所述端部相邻，该第三节段设置成将所述第一节段与所述第二节段联接；其中，在所述第一构件和所述第二构件之间...
【专利技术属性】
技术研发人员：张雨时，刘启峰，
申请(专利权)人：先进科技新加坡有限公司，
类型：发明
国别省市：新加坡;SG
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