用于测试陶瓷表面贴装元件及其它电子元件的接触器组合装置制造方法及图纸

可用在元件测试系统上的接触器组合装置，用于与被测器件（ＤＵＴ）上的端子电接触，以进行参数测试及作为元件批处理的一部分的最后的归类。提供至少三个触头以帮助确保至少其中的两个与ＤＵＴ端子接触，每一触头具有用于与ＤＵＴ端子物理及电接触的前边缘。可安装在元件测试系统上的触头支撑结构以并排关系支撑触头，用于第一、第二和第三前边缘移向或远离ＤＵＴ端子的独立运动；第一弹簧独立于第二前边缘而使第一和第三前边缘偏向ＤＵＴ端子，第二弹簧独立于第一和第三边缘而使第二前边缘偏向ＤＵＴ端子，从而有助于确保触头的至少两个前边缘支撑ＤＵＴ端子，以降低杂散串联阻抗（ＳＳＩ）。根据本发明专利技术构造的多触头、恒力接触器组合装置的四弹簧、十二叶片型的实施例包括由绝缘体隔开的叶片型触头，其能够在保护电位支撑至少一个叶片。滚柱触头和弹簧针触头也在本发明专利技术的范围之内。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术总体上涉及微型电子电路元件的批处理，包括无源元件、二端元件、陶瓷电容器、电阻器、电感器、及类似的元件。具体地，其涉及用于与上述元件或其它被测器件(DUT)的一端进行电接触的接触器组合装置，该装置作为用于参数测试目的的批处理的一部分。2.现有技术在此所感兴趣的电路元件的很小的尺寸使处理变得复杂。通常制造的平行六面体形状的元件具有如0.020″×0.010″×0.010″小的尺寸，或多或少，这些难处理的元件要求适当的设备及精密处理技术。有时被称作“载体极板”的东西在间隔开的位置垂直支撑上千个元件，每一元件的末端被涂以导电材料以产生电端子。在增加端子后，“测试极板”支撑大批元件以移动通过测试系统的接触器组合装置，从而用于参数测试目的及最后的归类。每一这些元件的有意义的设计均促进了有效的处理。对于一些现有技术中的元件处理系统和测试技术的例子，可参考美国专利申请6,204,464、6,294,747、6,194,679、6,069,480、4,395,184、4,669,416。在此特别感兴趣于接触器组合装置。其为具有电触头的装置，电触头在测试极板移动DUT通过接触器组合装置时本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可用在元件测试系统上的接触器组合装置，用于在元件测试系统移动被测器件通过接触器组合装置时与被测器件上的端子电接触，接触器组合装置包括：至少三个具有前边缘的触头，前边缘用于在元件测试系统移动被测器件通过接触器组合装置时与被测器件上 的端子进行物理和电接触，包括具有第一前边缘的第一触头、具有第二前边缘的第二触头、及具有第三前边缘的第三触头；可安装在元件测试系统上的触头支撑结构，用于以并排关系支撑触头，用于在被测器件移动通过接触器组合装置时第一、第二和第三前边缘移 向或远离被测器件上的端子的独立运动；及用于弹压第一、第二和第三前边缘朝向被测器件上的端子的装置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯蒂安R索尼耶，詹姆斯G加斯克，曼努埃尔A加拉尔多，
申请(专利权)人：陶瓷元件技术公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]