【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于在电子元件中自测试参考电压的方法和电路装置。在生产过程中，以及当在野外操作时，需要对集成电路进行测试以确保它们正确运行。由于使用外部测试装置存在许多缺点，假定必须与每个芯片单独建立接触，并且在运行条件下随后也不能对芯片进行测试，因此在芯片自身中建立测试电路已成为惯例。这种测试方法以名为BIST(嵌入式自测试)的方法为公众所知。BIST为芯片给出一种用于识别故障的闭环程序。该电路常配有内部调节的电压源，该电压源被用作与属于该电路的集成电路内的电压或电流进行比较的参考电压的源。这些参考电压源预计是尽可能地对温度以及来自外部电源设备的电压波动的影响不敏感。为了能够进行测试来检查这些条件是否得到满足，已知的方式是把来自这种电源的参考电压与外部参考电压相比较。这还具有上述已经针对BIST描述的缺点，即当芯片在野外运行时，必须从外部与其进行接触，这就牵扯到数量不同寻常的电路和费用。本专利技术的一个目的是定义一种电路装置，用于将参考电压的自测试作为片上(on-chip)测试来实现，即对于这种测试不需任何外部参考电压源。根据本专利技术，依赖权利要求1和...
【技术保护点】
一种用于在电子元件中自测试参考电压的方法，其特征在于：该参考电压（Ｕ↓［ｒｅｆ］）被馈送到压控振荡器，该压控振荡器的输出形成维也纳－鲁滨逊电桥的输入，在相位检测器中就维也纳－鲁滨逊电桥的输出信号相对于维也纳－鲁滨逊电桥的输入的相移而检查维也纳－鲁滨逊电桥的输出信号，以检查维也纳－鲁滨逊电桥的平衡，该维也纳－鲁滨逊电桥被设置成：在为该参考电压选定的额定值（Ｕ↓［ｒｅｆ．ｔｅｓｔ］）下在该振荡器中所生成的频率（Ω↓［ｒｅｆ．ｔｅｓｔ］）下达到平衡，如果该电桥达到平衡，就产生通过信号，否则，就产生失败信号。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。