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用于在电子元件中自测试参考电压的方法和电路装置制造方法及图纸
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下载用于在电子元件中自测试参考电压的方法和电路装置的技术资料
文档序号:2633339
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提供一种用于在电子元件中自测试参考电压的方法,通过该方法规定了一种能够以片上测试的形式来实现参考电压自测试的电路装置,即,对于片上测试,不需要任何地外部参考电压源,并且规定:将参考电压(U↓[ref])馈送到压控振荡器,该压控振荡器的输出形...
该专利属于NXP股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过NXP股份有限公司授权不得商用。
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