一种可快速更换电子零件的探针卡，包括有一电路板、复数个探针以及复数个容置座，电路板布设有电子电路并具有复数个用以连接被动组件的电性节点；探针为电性连接于电子电路，探针卡通过由探针对待测组件做电性量测；各容置座设有二具导电性的固接件，分别设于上述的电性节点上，各容置座形成有一容置部与至少一开口，容置部可用以容置上述的被动组件，使各被动组件与所对应的二固接件为电性导通，透过开口可换置各被动组件。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术是与探针卡有关，特别是指一种便于更换电子零件的探针卡。
技术介绍
现有探针卡上的电子零件如电阻、电容等被动(passive)组件，是以焊接方式将其导电部位或金属引脚固设于电路板上，容易因焊接高温而使电路中其它组件受到高温的影响，因而改变组件原本应有的特性，间接导致探针卡的电性偏移，使探针卡用以电性量测时失去应有的准确性及可靠度(reliability)。另外，探针卡于长时间使用后也会因为电路中的热消耗而使温度升高，因此经过多次量测使用后难免电子零件特性有所偏移，同样使探针卡用以电性量测时失去应有的准确性及可靠度；特别是，一般以探针卡量测电子组件时，不仅为正常电压或温度条件下的电测操作，往往也需测试电子组件于高、低温或高电压、电流操作时的特性，甚至做升温或升压等冲击(stress)下的破坏性检测，如此使探针卡上的电子零件也运作于恶劣的测试条件下，大幅缩减了该些电子零件的耐用寿命(lifetime)，因此探针卡上的电子零件需时常更新以维持电测应有的准确性；然更换电子零件的方式除了重新置换整个探针卡之外，则将焊接于探针卡上的电子零件先解焊再重新焊上新的零件，不但同样面临上述高温焊接的缺点，且重焊的作业费时又不具可靠性。
技术实现思路
因此，本专利技术的主要目的乃在于提供一种可快速更换电子零件的探针卡，不但方便于探针卡上电子零件的汰旧换新，且减少高温焊接对探针卡的影响，进而维持探针卡的电测品质。本专利技术的另一目的乃在于提供一种可快速更换电子零件的探针卡，具有良好的散热功用以及减少探针卡中电路的热消耗功率，进而可延长电子零件的耐用寿命。为达成前揭目的，本专利技术所提供一种可快速更换电子零件的探针卡，包括有一电路板、复数个探针以及复数个容置座，该电路板布设有电子电路并具有复数个用以连接被动组件的电性节点；该些探针为电性连接于该电子电路，该探针卡通过由该些探针对待测组件做电性量测；各该容置座设有二具导电性的固接件，分别设于上述的电性节点上，各该容置座形成有一容置部与至少一开口，该容置部可用以容置上述的被动组件，使各该被动组件与所对应的二该固接件为电性导通，透过该开口可换置各该被动组件。以下，兹配合图示列举若干较佳实施例，用以对本专利技术的结构与功效作详细说明，其中所用图示的简要说明如下附图说明图1是本专利技术所提供第一较佳实施例的结构示意图；图2是上述较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图3是第二较佳实施例所提供容置座的结构立体图； 图4是第三较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图5是第四较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图6是第五较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图7是第六较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图8是第七较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图9是第八较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图10是第九较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图11是第十较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图12是第十一较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图13是第十二较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图14是第十三较佳实施例所提供容置座的结构立体图；图15是第十四较佳实施例所提供容置座的结构立体图；主要组件符号说明1探针卡10电路板 11电子电路110电性节点 20探针21座体22针头30、50、51、52、60、70、80、90容置座31、37、63固接件 310、630、840、850连接部311卡榫 312箝制部313、630插接部314弹片32底座33、62、810上盖331套孔 34、341、64、82容置部 35、351、65、83开口36插座370连接座 371锁片372螺 40电子零件41接点 61、81绝缘座体631、841、851导电部71绝缘底座72、84第一固接件 73、85第二固接件具体实施方式请参阅图1所示本专利技术所提供的第一较佳实施例，为一探针卡1的装置示意图，具有一电路板10、多数个探针20、多数个容置座30以及各该容置座30中所设置的各电子零件40，其中该电路板10是布设有电子电路11，该电子电路11的布局(layout)有多个电性节点110，用以电性连接电阻、电容或电感等任一被动组件。各该探针20是包括有一座体21以及一针头22，该电子电路11透过各座体21电气连接于针头22，使该探针卡1可将各该针头22与待测组件(图中未示)接触，并通过由该电子电路11与量测用机台(图中未示)相电气连接，因此对该待测组件做电性量测。各该容置座30为对应设置于相邻二该电性节点110上，是具有相对的二固接件31、一底座32、一上盖33以及之间所形成的一容置部34，图2参照，且该上盖33为可拆卸式的结构，使于该容置部34上方具有一开口35，因此可透过开口35容置各该电子零件40并方便替换，各该电子零件40则为上述的被动组件，具有用以传导电性的二接点41，分别与各该固接件31相接触以作电性连接，以下是针对该容置座30的细部功能结构做更进一步的描述 该二固接件31为具导电性的金属材料，并以该底座32作为连接该二固接件31的支撑材，该底座32为不具导电性的绝缘材料以免该二固接件31相互电性短路；该二固接件31由下而上分别设有一连接部310、一箝制部312以及一卡榫311，各该连接部310用以焊接于上述的各该电性节点110，各该箝制部312为以锯齿状的结构相对设置，可用以箝制各该电子零件40，该上盖33并有二套孔331可分别对应于各该卡榫311而相套设，使该二固接件31相对固定而避免因金属受热或外力影响发生形变导致电子零件40松脱，该上盖33同样需具有不使该二固接件31相互电性短路的特性。因此将各该固接件31的连接部310焊接于电子电路11的电性节点110，使各该容置座30固设于电路板10上，再将适当的各电子零件40置入容置部34，则可通过由二固接件31的金属材料特性，使该电子零件40与该电子电路11为电性导通，达到该探针卡1电性量测的功用；由于各电子零件40未经直接焊接的高温影响，可确保其电性品质，且通过由以各该固接件31传导电性的连接方式，较之于现有直接以电子零件的金属引脚连接，具有更大的电性传导面积可降低电流传导线路中的寄生电性阻抗，因此减少整体电路板10的热消耗功率，并且利用大面积范围的金属散热作用，可辅助电路板10使用状态时的散热，进而延长各该电子零件40的耐用寿命；而当该探针卡1经过长时间使用或做过高温高压等冲击性测试后，欲更换部分的该电子零件40时，则将容置座30的上盖33移开，对各固接件31的卡榫311部位或附近稍微施以反向相背的力，使撑开容置部34的空间，因此可轻易自开口35取出所欲更换的电子零件40，重新置入电性稳定正常的电子零件40，同样不须经过焊接的高温影响，以使该探针卡1维持准确的电性量测。如图3是本专利技术第二较佳实施例所示的容置座50，其异于第一较佳实施例中容置座30的各固接件31以连接部310直接焊接于电性节点110的设计，先将一插座36焊接于电性节点110，各固接件31改采为以一插接部313插设于一插座36上，由于该插座36同为具导电性的金属材料，故亦可使电子零件40与电性节点110为电性导通，如此不但电子零件40可方便替换，因此本实施例除了插座36外其本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种可快速更换电子零件的探针卡，其特征在于，包括有：一电路板，布设有电子电路，该电路板具有复数个用以连接被动组件的电性节点；复数个探针，电性连接于该电子电路，该探针卡通过由该些探针对待测组件做电性量测；以及复数个容置座，各该容置座设有二具导电性的固接件，分别设于上述的电性节点上，各该容置座形成有一容置部与至少一开口，该容置部可用以容置上述的被动组件，使各该被动组件与所对应的二该固接件为电性导通，透过该开口可换置各该被动组件。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：顾伟正，
申请(专利权)人：旺矽科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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