芯片的成品测试方法、装置、终端设备和存储介质制造方法及图纸

本申请适用于集成电路技术领域，提供了一种芯片的成品测试方法、装置、终端设备和存储介质。该成品测试方法包括：在完成多颗芯片的成品测试后，获取测试记录文件，所述测试记录文件记录所述多颗芯片中通过所述成品测试的每颗合格芯片的唯一标识符；若所述测试记录文件记录的所述唯一标识符的数量和清点后获得的所述多颗芯片的合格芯片的数量相同，则判定所述多颗芯片的成品测试通过。本申请通过统计测试记录文件中芯片的唯一标识符的数量和清点后得到的合格芯片的数量作比较，以两个数量相同作为成品测试通过的判断依据，能够避免出现芯片成品漏测的现象，从而提高批量生产测试的准确性和质量水平。

【技术实现步骤摘要】
芯片的成品测试方法、装置、终端设备和存储介质
本申请属于集成电路
，尤其涉及一种芯片的成品测试方法、装置、终端设备和存储介质。
技术介绍
随着工业化、信息化的不断发展，集成电路的需求量、使用量越来越大，集成电路的生产规模也随之增大。大规模生产带动经济增长的同时也带来了一系列的问题，尤其是在芯片的成品测试环节，目前通常仅对测试合格的芯片成品清点数量，无法判断是否存在芯片成品漏测的现象，而该现象一旦出现则可能引发严重的质量问题，甚至导致整个装配批次的整机返工或者报废，造成严重的经济损失。
技术实现思路
有鉴于此，本申请实施例提供了一种芯片的成品测试方法、装置、终端设备和存储介质，能够避免出现芯片成品漏测的现象，从而提高批量生产测试的准确性和质量水平。第一方面，本申请实施例提供了一种芯片的成品测试方法，包括：在完成多颗芯片的成品测试后，获取测试记录文件，所述测试记录文件记录所述多颗芯片中通过所述成品测试的每颗合格芯片的唯一标识符；若所述测试记录文件记录的所述唯一标识符的数量和清点后获得的所述多颗芯片的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片的成品测试方法，其特征在于，包括：/n在完成多颗芯片的成品测试后，获取测试记录文件，所述测试记录文件记录所述多颗芯片中通过所述成品测试的每颗合格芯片的唯一标识符；/n若所述测试记录文件记录的所述唯一标识符的数量和清点后获得的所述多颗芯片的合格芯片的数量相同，则判定所述多颗芯片的成品测试通过。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片的成品测试方法，其特征在于，包括：
在完成多颗芯片的成品测试后，获取测试记录文件，所述测试记录文件记录所述多颗芯片中通过所述成品测试的每颗合格芯片的唯一标识符；
若所述测试记录文件记录的所述唯一标识符的数量和清点后获得的所述多颗芯片的合格芯片的数量相同，则判定所述多颗芯片的成品测试通过。


2.如权利要求1所述的成品测试方法，其特征在于，所述多颗芯片为带有可读写存储区的芯片，所述成品测试方法还包括：
在所述多颗芯片的成品测试过程中，每当所述多颗芯片中任意的一颗目标芯片的成品测试通过，则从所述目标芯片的可读写存储区中读取所述目标芯片的唯一标识符，并将读取到的唯一标识符记录到所述测试记录文件中。


3.如权利要求2所述的成品测试方法，其特征在于，所述多颗芯片为通过晶圆测试的芯片，在所述多颗芯片的成品测试过程之前，还包括：
针对所述多颗芯片中的每颗芯片，分别将各自的唯一标识符写入各自的可读写存储区中。


4.如权利要求3所述的成品测试方法，其特征在于，在针对所述多颗芯片中的每颗芯片，分别将各自的唯一标识符写入各自的可读写存储区中之后，还包括：
针对所述多颗芯片中的每颗芯片，分别从各自的可读写存储区中读取出各自的已写入数据，并根据各自的已写入数据确定各自是否已成功写入唯一标识符；
针对未成功写入唯一标识符的芯片，重复执行写入唯一标识符的步骤，直至所述多颗芯片中的每颗芯片都成功写入唯一标识符。


5.如权利要求4所述的成品测试方法，其特征在于，针对所述多颗芯片中的每颗芯片，根据各自的已写入数据确定各自是否已成功写入唯一标识符包括：
将各自的已写入数据和预设的标识符数据格式进行匹配；
若所述匹配通过，则确定各自已成功写入唯一标识符；
若所述匹配未通...

【专利技术属性】
技术研发人员：王英广，王健，孔晓琳，栗伟斌，欧纲，李安平，
申请(专利权)人：深圳米飞泰克科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44