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本申请适用于集成电路技术领域，提供了一种芯片的成品测试方法、装置、终端设备和存储介质。该成品测试方法包括：在完成多颗芯片的成品测试后，获取测试记录文件，所述测试记录文件记录所述多颗芯片中通过所述成品测试的每颗合格芯片的唯一标识符；若所述测试...
该专利属于深圳米飞泰克科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳米飞泰克科技有限公司授权不得商用。

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