一种检测治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种检测治具，包括底座，所述底座上设有若干个通孔对和若干个卡槽对；各通孔对中包括第一通孔和第二通孔，所述第一通孔和第二通孔的横截面形状相同，所述第一通孔和第二通孔的横截面尺寸不同；各卡槽对中包括第一卡槽和第二卡槽，二者均沿着底座的厚度方向设置；所述第一卡槽和第二卡槽的横截面形状相同，所述第一卡槽和第二卡槽的深度不同，且二者的深度均小于待检测引脚的总长度；所述底座的厚度大于待检测引脚总长度的40％‑50％。本实用新型专利技术能够快速筛选出弯曲以及尺寸超规格的引脚，保证重复使用以及植引脚质量，降低了报废，而且操作方便、节约人力。

【技术实现步骤摘要】
一种检测治具
本技术属于治具
，具体涉及一种检测治具。
技术介绍
在通信行业高速发展的背景下，PCB板层间对位精度的要求越来越高，层间对位作为PCB内转外工艺的关键品质项目，受到越来越多的关注，对位能力不仅仅对企业的接单以及报废成本产生重大影响外，其带来的其它附加影响，如对高频插损的干扰也随着高层次PCB的导入逐渐变得越来越引人关注。目前除了设备升级进行能力提升外，对治工具和作业方式的细致化管理也变得越来越重要。针对定位引脚的检验，之前检测只能靠人员抽检进行，而且无法识别到轻微的定位引脚针变形弯曲，容易漏失，这种漏失引脚的使用会影响产品的层间对位；而且植引脚时因为无法观测Busher内的状况，植引脚的质量无法保障，过程中品质的不确定性，同样会影响到产品的最终对位品质。
技术实现思路
针对上述问题，本技术提出一种检测治具，能够快速筛选出弯曲以及尺寸超规格的引脚，保证重复使用以及植引脚质量，降低了报废，而且操作方便、节约人力。为了实现上述技术目的，达到上述技术效果，本技术通过以下技术方案实现：一种检测治具，包括底座，所述底座上设有若干个通孔对和若干个卡槽对；各通孔对中包括第一通孔和第二通孔，所述第一通孔和第二通孔的横截面形状相同，所述第一通孔和第二通孔的横截面尺寸不同；各卡槽对中包括第一卡槽和第二卡槽，二者均沿着底座的厚度方向设置；所述第一卡槽和第二卡槽的横截面形状相同，所述第一卡槽和第二卡槽的深度不同，且二者的深度均小于待检测引脚的总长度；所述底座的厚度大于待检测引脚总长度的40％-50％。作为本技术的进一步改进，所述第一通孔与第二通孔的横截面尺寸之差等于2倍设计公差。作为本技术的进一步改进，所述第一卡槽的深度等于待测试引脚总长度的98％；所述第二卡槽的深度等于待测试引脚总长度的90％。作为本技术的进一步改进，所述底座由不锈钢材料制成。作为本技术的进一步改进，所述检测治具包括两组通孔对，其中一组通孔对中的第一通孔和第二通孔的横截面形状均为圆形，另一组通孔对中的第一通孔和第二通孔的横截面形状均为矩形。作为本技术的进一步改进，所述检测治具包括两组卡槽对，其中一组卡槽对中的第一卡槽和第二卡槽的横截面形状尺寸大于另一组卡槽对中的第一卡槽和第二卡槽的横截面形状尺寸。与现有技术相比，本技术的有益效果：本技术提出一种检测治具，能够快速筛选出弯曲以及尺寸超规格的引脚，保证重复使用以及植引脚质量，降低了报废，而且操作方便、节约人力。附图说明为了使本专利技术的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本专利技术作进一步详细的说明，其中：图1为本技术一种实施例的检测治具的结构示意图；其中：1-底座，201-第一通孔，202-第二通孔，301-第一卡槽，302-第二卡槽。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术的保护范围。下面结合附图对本技术的应用原理作详细的描述。如图1所示，本技术提供了一种检测治具，包括底座1，所述底座1上设有若干个通孔对和若干个卡槽对；在本技术的具体实施过程中，为了提高治具的硬度，所述底座1可以采用304不锈钢材质制成；各通孔对中包括第一通孔201和第二通孔202，所述第一通孔201和第二通孔202的横截面形状相同，所述第一通孔201和第二通孔202的横截面尺寸不同；各卡槽对中包括第一卡槽301和第二卡槽302，二者均沿着底座1的厚度方向设置；所述第一卡槽301和第二卡槽302的横截面形状相同，所述第一卡槽301和第二卡槽302的深度不同，且二者的深度均小于待检测引脚的总长度；所述底座1的厚度大于待检测引脚总长度的40％-50％。在本技术的一种具体实施例中，所述第一通孔201与第二通孔202的横截面尺寸之差等于2倍设计公差。在本技术的一种具体实施例中，所述第一卡槽301的深度等于待测试引脚总长度的98％；所述第二卡槽302的深度等于待测试引脚总长度的90％。在本技术的一种具体实施例中，所述底座1由不锈钢材料制成。在本技术的一种具体实施例中，所述检测治具包括两组通孔对，其中一组通孔对中的第一通孔201和第二通孔202的横截面形状均为圆形，另一组通孔对中的第一通孔201和第二通孔202的横截面形状均为矩形。具体地，如图1所示，其中一组通孔对为A-1，另一组通孔对为B-1，A-1和B-1分成两种加工尺寸(具体尺寸可以按照检验需求的公差进行设计)，假设圆形定位引脚的尺寸(直径)为A+公差，则A-1中第一通孔A-1-1的尺寸X设计为(A+允许误差)+/-公差，第二通孔A-1-2的尺寸Y设计为(A-允许误差)+/-公差，如此当定位引脚通过第一通孔时说明其直径尺寸小于X，无法通过第二通孔时说明其直径大于Y，故可以将尺寸锁定在<X，Y>之间，可以拦截住超过或者低于管控规格的定位引脚。在本技术的一种具体实施例中，所述检测治具包括两组卡槽对，其中一组卡槽对中的第一卡槽301和第二卡槽302的横截面形状尺寸大于另一组卡槽对中的第一卡槽301和第二卡槽302的横截面形状尺寸。具体地，如图1所示，其中一组卡槽对为A-2，另一组卡槽对为B-2，A-2和B-2分成两种加工尺寸，A-2中的第一卡槽A-2-1的高度H-A-1控制为定位引脚总长度的98％，A-2中的第二卡槽A-2-2的高度H-A-2控制为定位引脚总高度的90％，故使用卡槽去测试引脚通过后，实际引脚植入的深度为PIN总长度的2％-10％，可以实现植引脚深度品质的控制。综上所述，设定第一通孔的横截面尺寸大于第二通孔的横街面尺寸，设定第一卡槽的深度大于第二卡槽的深度；本技术的工作原理具体为：(1)引脚的横截面尺寸检测：操作手将定位引脚在同一组通孔对中的第一通孔和第二通孔中试塞，如果可以在第一通孔中通过，但在无法在第二通孔内通过，则判定该引脚合格，实现拦截住超过或者低于管控直径规格的定位引脚，且能够筛选出弯曲引脚；(2)引脚的植入深度检测：当引脚的底部已经被植入电路板上的对应位置后，操作手将同一组卡槽对中的第一卡槽和第二卡槽分别覆盖至引脚上露在外面的部分，看基座的边缘能否与电路板接触，实现植引脚深度品质的控制。下面结合具体的实例进行详细说明。假设待检测定位引脚为圆柱形，长度为57.5mm，直径为250+0/-0.5mil；在对应的治具上加工出组合A-1的圆孔，其中第一通孔A-1-1的尺寸为250.5+/-0.5mil,第二通孔A-1-2的尺寸为249.3+/-0.5mil，卡槽A-2-1高度H-A-1为56.35mm，卡槽A-2-2高度H-A-2为51.75mm，基本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测治具，其特征在于，包括底座，所述底座上设有若干个通孔对和若干个卡槽对；/n各通孔对中包括第一通孔和第二通孔，所述第一通孔和第二通孔的横截面形状相同，所述第一通孔和第二通孔的横截面尺寸不同；/n各卡槽对中包括第一卡槽和第二卡槽，二者均沿着底座的厚度方向设置；所述第一卡槽和第二卡槽的横截面形状相同，所述第一卡槽和第二卡槽的深度不同，且二者的深度均小于待检测引脚的总长度；/n所述底座的厚度大于待检测引脚总长度的40％-50％。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测治具，其特征在于，包括底座，所述底座上设有若干个通孔对和若干个卡槽对；
各通孔对中包括第一通孔和第二通孔，所述第一通孔和第二通孔的横截面形状相同，所述第一通孔和第二通孔的横截面尺寸不同；
各卡槽对中包括第一卡槽和第二卡槽，二者均沿着底座的厚度方向设置；所述第一卡槽和第二卡槽的横截面形状相同，所述第一卡槽和第二卡槽的深度不同，且二者的深度均小于待检测引脚的总长度；
所述底座的厚度大于待检测引脚总长度的40％-50％。


2.根据权利要求1所述的一种检测治具，其特征在于：所述第一通孔与第二通孔的横截面尺寸之差等于2倍设计公差。


3.根据权利要求1所述的一种检测治...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴鹏，薛磊，
申请(专利权)人：沪士电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32