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一种厚度测试仪制造技术

技术编号:2516974 阅读:200 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种厚度测试仪,其特征在于:包括一对激光器(1)、一对物镜(2)、一对CCD接受器(3)、C型测量架(4)和电机(5),激光器(1)分别设置在C型测量架(4)的上部和下部,物镜(2)也分别设置在C型测量架(4)的上部和下部,物镜(2)和激光器(1)两两对应,激光器(1)发射出的激光经被测物折射后,折射在物镜(2)上,CCD接受器(3)设置在物镜(2)后面,折射光经过物镜(2)可到达CCD接受器(3),C型测量架(4)下部装有轮子(7),电机(5)可驱动C型测量架(4)移动。(*该技术在2012年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种板材的测厚装置,主要用于板材或带钢生产线的厚度在线测量。目前,企业普遍应用的测厚装置一般是接触式或者射线式测厚仪。前者采用双触点测量方法,测量时由于触点受震动影响上下跳动,测量精度较低,另外一个致命的缺点是双触点对板材表面有所划伤,影响板材质量射线式测厚仪采用α或β射线对厚度进行测试,尽管解决了测厚精度及板材表面质量,但射线对人体会造成严重伤害,现场人员必须穿着保护服才可以进行操作。此外,现有的各种测厚装置一般只测试一条直线,不能准确反应板材在横向范围上的厚度。本技术的目的在于提供一种克服上述缺点、操作方便、测厚精确的厚度测试仪。本技术是这样实现的一种厚度测试仪,包括一对激光器、一对物镜、一对CCD接受器、C型测量架和电机,激光器分别设置在C型测量架的上部和下部,物镜也分别设置在C型测量架的上部和下部,物镜和激光器两两对应,激光器发射出的激光经被测物折射后,折射在物镜上,CCD接受器设置在物镜后面,折射光经过物镜可到达CCD接受器,C型测量架下部装有轮子,电机可驱动C型测量架移动。本技术的优点是1、不会对板材表面造成划伤。本装置的测量原理是利用激光在板材上的折射所产生的变化来计算板材厚度的,测量时不会对板材表面造成任何损伤。2、测量精度高。利用激光折射产生的位移变化来计算板材厚度,测量精度高。3、测量范围大。C型测量架可以由电机驱动在整个板材内运动,做S形整体测试,改进了旧有设备只测试一条直线的弊端,能更真实的反映出整个板材横行范围内的厚度。以下结合附图对本技术作进一步详细的描述附图为本技术的应用状态示意图。如图所示,激光器1、物镜2和CCD接受器3分别对应安装在C型测量架4的上部和下部,其对应关系为,激光器1发出的激光粒子经被测物折射后到达物镜2和CCD接受器3,C型测量架4底部安装有轮子7,C型测量架4上还安装有电机5,通过电机5驱动,C型测量架4可以移动。CCD接受器3与信号记录分析装置6相连接,信号记录分析装置6具有存储和分析功能,该装置6可以对接受到的信号数据进行存储,并自动分析厚度变化的情况和原因。本装置的测量原理如下激光器1发出的激光粒子照射在板材表面,此时光点折射,并产生位移,光点经折射到物镜2,然后到达CCD接受器3,在CCD接受器3将光点位移转换成为与位移量成比例关系的电信号,该信号转换为数字量后经计算机处理即可得到光点的位移。光点的位移与激光器1到折射点的距离成比例关系,通过计算即可得到到折射点的距离。设定C型测量架4内口上表面到折射点的距离为b,下表面到折射点的距离为a,内口上下表面之间的距离为c,板材的厚度为h,则h=c-a-b。权利要求1.一种厚度测试仪,其特征在于包括一对激光器(1)、一对物镜(2)、一对CCD接受器(3)、C型测量架(4)和电机(5),激光器(1)分别设置在C型测量架(4)的上部和下部,物镜(2)也分别设置在C型测量架(4)的上部和下部,物镜(2)和激光器(1)两两对应,激光器(1)发射出的激光经被测物折射后,折射在物镜(2)上,CCD接受器(3)设置在物镜(2)后面,折射光经过物镜(2)可到达CCD接受器(3),C型测量架(4)下部装有轮子(7),电机(5)可驱动C型测量架(4)移动。2.根据权利要求1所述的厚度测试仪,其特征在于该测厚仪还包括信号记录分析装置(6),信号记录分析装置(6)与CCD接受器(3)相连接。专利摘要本技术公开了一种厚度测试仪,该厚度测试仪包括包括一对激光器1、一对物镜2、一对CCD接受器3、C型测量架4和电机5,激光器1分别设置在C型测量架4的上部和下部,物镜2也分别设置在C型测量架4的上部和下部,物镜2和激光器1两两对应,激光器1发射出的激光经被测物折射后,折射在物镜2上,CCD接受器3设置在物镜2后面,折射光经过物镜2可到达CCD接受器3,C型测量架4下部装有轮子7,电机5可驱动C型测量架4移动。此种结构的厚度测试仪操作方便、测量范围大、测厚精确。文档编号G01B11/06GK2550718SQ0226734公开日2003年5月14日 申请日期2002年6月3日 优先权日2002年6月3日专利技术者于效军, 王淑华, 韩会涛 申请人:于效军本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:于效军王淑华韩会涛
申请(专利权)人:于效军
类型:实用新型
国别省市:

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