一种薄膜厚度测试仪的防风罩制造技术

本实用新型专利技术公开了一种薄膜厚度测试仪的防风罩，其包括罩体，所述的罩体安装在薄膜后厚度测试仪的工作台上面，所述的罩体底部设有一个罩口，所述的罩口内侧的周边设有密封胶。采用上述结构后，本实用新型专利技术具有的效果是：防风罩可以稳固的安装在薄膜厚度测试仪的工作台上，并且可以有效的防止测试环境的干扰，能够防止外界的风到测试仪的工作台导致薄膜厚度测量的结果不准确，也能够防止受到外界温度高或低对薄膜厚度造成影响，从而导致厚度测量的不准确；本实用新型专利技术的结构简单，安装方便，安装后稳固，不易受外界的碰撞而掉落，提高薄膜厚度测试仪测量的准确度，确保薄膜厚度的测量测量环境的干扰。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种薄膜厚度测试仪的防风罩，其包括罩体，所述的罩体安装在薄膜后厚度测试仪的工作台上面，所述的罩体底部设有一个罩口，所述的罩口内侧的周边设有密封胶。采用上述结构后，本技术具有的效果是：防风罩可以稳固的安装在薄膜厚度测试仪的工作台上，并且可以有效的防止测试环境的干扰，能够防止外界的风到测试仪的工作台导致薄膜厚度测量的结果不准确，也能够防止受到外界温度高或低对薄膜厚度造成影响，从而导致厚度测量的不准确；本技术的结构简单，安装方便，安装后稳固，不易受外界的碰撞而掉落，提高薄膜厚度测试仪测量的准确度，确保薄膜厚度的测量测量环境的干扰。【专利说明】 一种薄膜厚度测试仪的防风罩
本技术涉及薄膜厚度测试仪的辅助设备领域，尤其涉及的是一种薄膜厚度测试仪的防风罩。
技术介绍
薄膜厚度测试仪作为现有测量薄膜厚度的一个非常重要的工具，特别是在一些需要用到高精度薄膜的领域上或生产薄膜的检测上都需要使用薄膜厚度测试仪进行检测薄膜的厚度；但现有的薄膜厚度测试仪在检测薄膜厚度的时候容易受到外界环境的干扰，例如，测量环境的风、温度等都会影响到薄膜厚度的测量。在测量的时候，测量环境的风吹过来，带动薄膜上下浮动，那么厚度测试仪所测量到的厚度就有可能产生误差，使得测量结果不够精确；在温度高的测量环境，薄膜的容易受到温度的影响产生膨胀，导致测量的结果变大，在温度较低的测量环境下，薄膜受到温度的影响产生收缩，那么测量的结果就会变小，总之都会导致测量厚度的结果不准确；所以能够给薄膜厚度测试仪增加一些防风的辅助工具，从而保证了薄膜的测量不受到外界的干扰，使得测量结果的变高。 因此，现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种薄膜厚度测试仪的防风罩，旨在解决现有薄膜厚度测试仪测试薄膜厚度受到外界环境的影响的问题。 本技术的技术方案如下:一种薄膜厚度测试仪的防风罩，包括罩体，其中，所述的罩体安装在薄膜后厚度测试仪的工作台上面，所述的罩体底部设有一个罩口，所述的罩口内侧的周边设有密封胶。 所述的薄膜厚度测试仪的防风罩，其中，所述的罩体背部设置有一个嵌入槽。 所述的薄膜厚度测试仪的防风罩，其中，所述的罩体相对应嵌入槽的另一面上设有一个薄膜进出门。 所述的薄膜厚度测试仪的防风罩，其中，所述的嵌入槽的三条边设有密封胶。 所述的薄膜厚度测试仪的防风罩，其中，所述的罩口上设置有嵌入长条。 所述的薄膜厚度测试仪的防风罩，其中，所述的密封胶是一种具有弹性的密封软胶。 所述的薄膜厚度测试仪的防风罩，其中，还包括与罩体相接的安装组件。 所述的薄膜厚度测试仪的防风罩，其中，所述的安装组件是一种合页。 本技术的有益效果:本技术通过在罩体底部设有一个罩口，并且在罩口内侧的周边设有密封胶，罩体安装在薄膜厚度测试仪的平台上，密封胶可以与平台紧密的接触，在薄膜放入工作平台后，可以防止测量环境的风吹过来，扰乱测量的结果，同时也可以隔绝外界温度对薄膜的影响，避免薄膜在测量时受到温度影响变厚或者变薄，确保测量的薄膜是最初始的厚度。在罩体的背部设置一个嵌入槽，使得防风罩与薄膜厚度测试仪能够很好镶嵌成一个整体；所述的罩口上的嵌入长条可以嵌入薄膜厚度测试仪的工作平台，可以将防风罩稳固的安装在测试仪的平台上；整个防风罩的结构简单，安装起来方便，能够有效防止外界环境对测试的干扰，确保薄膜厚度测量结果的精度和准确度。 【专利附图】【附图说明】 图1是本技术的一种结构示意图。 图2是本技术的辅助的薄膜厚度测试仪的结构示意图。 图3是本技术的另一种结构示意图。 图4是本技术的一种实施方式结构示意图。 图5是本技术的另一种实施方式结构示意图。 图6是本技术的另一种结构示意图。 【具体实施方式】 为使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本技术进一步详细说明。 如图1和2所示，本技术开了一种薄膜厚度测试仪的防风罩，包括罩体1，其中，所述的罩体I安装在薄膜后厚度测试仪的工作台21上面，所述的罩体I底部设有一个罩口 15，所述的罩口 15内侧的周边设有密封胶13，罩口 15的上还设置有嵌入长条151，用于与薄膜后厚度测试仪的工作台的凹槽23镶嵌；罩体I背部还设置有一个嵌入槽11。 采用上述结构后，本技术通过嵌入长条151镶嵌在薄膜厚度测试仪的工作台21上面，使得防风罩可以稳固的安装在薄膜厚度测试仪2，并在罩口 15内侧的周边设有密封胶13，确保盖上罩体I后，可以密封，罩体I背部设置的嵌入槽11可以使得罩体I与薄膜厚度测试仪的探测头部件相配合，这样测量环境外界的风无法进入，隔绝外界的温度不受干扰，使得薄膜厚度测量的结果更加准确。 如图3所示，本技术的另一种结构，其包括罩体1，所述的罩体I底部设有一个罩口 15，所述的罩口 15内侧的周边设有密封胶13，罩口 15的上还设置有嵌入长条151 ；所述罩体I的背部还设置有一个嵌入槽11，所述罩体I相对应嵌入槽11的另一面上设有一个薄膜进出门12，进出门12的上端设有一个拉环121，用来打开或者关闭进出门12，该进出门12的一侧固定有N极的磁铁122，并在相对N极的磁铁的罩体I位置上固定一块S极的磁铁122。 采用上述结构后，本技术在罩体I上设置的进出门，在测试一些小块的薄膜厚度时，无需打开整个防风罩，只需要拉住拉环121打开进出门12将薄膜方进去即可；减少操作的麻烦，同时利用异性磁铁122相吸的原理来固定关闭后的进出门12 ;整个进出门的关闭或者打开的结构简单，实用性强。 如图2所示，本技术相配套的薄膜厚度测试仪2，包括工作平台21和测试仪探头22，所述的工作台的四周边缘设置有与嵌入长条151相对应的凹槽23。 如图4所示，为本技术的一种实施方式，防风罩安装在薄膜厚度测试仪的工作台上面；其包括罩体I和薄膜厚度测试仪2，薄膜厚度测试仪是设有工作台21和测试仪探头22，且该工作台上设有凹槽23 ;所述罩体I的底部设有一个罩口 15，所述的罩口 15内侧的周边设有密封胶13，罩口 15的上还设置有嵌入长条151，改嵌入长条与凹槽相对应，两者镶嵌便可以将防风罩安装在薄膜厚度测试仪2上；所述罩体I的背部还设置有一个嵌入槽11，嵌入槽的边上设有密封胶13。 采用上述的结构后，本技术通过在薄膜厚度测试仪的工作台21上设置凹槽23，该凹槽23与设置在罩口 15上的嵌入长条151相配合，使得罩体I能够稳定的固定在薄膜厚度测试仪上，整个固定安装方式简单、方便；并在罩口 15内侧的周边设有密封胶13，保证了整个防风罩良好的密封性能。 如图5所示，为本技术的另一种实施方式，防风罩通过安装组件安装在薄膜厚度测试仪的工作台上面；其包括罩体I和薄膜厚度测试仪2，薄膜厚度测试仪是设有工作台21和测试仪探头22 ;所述罩体I的底部设有一个罩口 15，所述的罩口 15内侧的周边设有密封胶13,罩口 15的上还设置有嵌入长条151,改嵌入长条与凹槽相对应,两者镶嵌便可以将防风罩安装在薄膜厚度测试仪2上；所述罩体I的背部还设置有一个嵌入槽1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种薄膜厚度测试仪的防风罩，包括罩体，其特征在于，所述的罩体安装在薄膜后厚度测试仪的工作台上面，所述的罩体底部设有一个罩口，所述的罩口内侧的周边设有密封胶。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：于中友，
申请(专利权)人：于中友，
类型：新型
国别省市：广东;44