一种用于半导体的引线框架自动化检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于半导体的引线框架自动化检测设备，包括AOI检测设备、进料入口和收料出口，所述进料入口固定安装于AOI检测设备一端，所述收料出口固定安装于AOI检测设备另一端，所述AOI检测设备一端位于进料入口上方处固定安装有洁净机构，所述洁净机构包括除尘框和净化箱，所述净化箱固定安装于除尘框顶端靠近轴心处，所述除尘框顶端一侧固定安装有空压机；本实用新型专利技术通过安装的洁净机构，喷嘴喷出的气流可将引线框架表面难以清除的碎屑和脏污吹起，最后再由两组吸尘罩进行吸附，从而可有效清除引线框架表面残留的碎屑和脏污，可保证引线框架检测的精准性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体的引线框架自动化检测设备
本技术涉及引线框架检测
，具体为一种用于半导体的引线框架自动化检测设备。
技术介绍
引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助于键合材料（金丝、铝丝、铜丝）实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料，引线框架用铜合金大致分为铜一铁系、铜一镍-硅系、铜一铬系、铜一镍一锡系(JK--2合金)等，三元、四元等多元系铜合金能够取得比传统二元合金更优的性能，更低的成本，铜一铁系合金的牌号最多，具有较好的机械强度，抗应力松弛特性和低蠕变性，是一类很好的引线框架材料，一般在引线框架在生产加工中，需要用到引线框架检测设备对引线框架进行光学检测。但是，目前市场上多数的引线框架检测设备功能性都比较单一，使用起来也非常不便，传统的引线框架检测设备在使用时，需要对生产出来的引线框架进行检测，但由于刚生产出来的引线框架表面会有部分残留碎屑和脏污，若直接进行检测，会影响检测的精准性。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于半导体的引线框架自动化检测设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于半导体的引线框架自动化检测设备，包括AOI检测设备、进料入口和收料出口，所述进料入口固定安装于AOI检测设备一端，所述收料出口固定安装于AOI检测设备另一端，所述AOI检测设备一端位于进料入口上方处固定安装有洁净机构，所述洁净机构包括除尘框和净化箱，所述净化箱固定安装于除尘框顶端靠近轴心处，所述除尘框顶端一侧固定安装有空压机，所述除尘框内部通过支架固定安装有支撑板，所述支撑板底端靠近轴心处通过立杆固定安装有喷气管，所述喷气管底端固定安装有喷嘴，且喷嘴设有多组，所述支撑板底端两侧通过连接杆固定安装有吸尘罩。优选的，所述净化箱内部顶端固定安装有风机，所述净化箱内部底端固定安装有过滤网和活性炭滤网，且活性炭滤网位于过滤网上端，其中两组所述吸尘罩顶端固定连接有抽气支管，所述抽气支管一端通过三通管与净化箱之间管道连接。优选的，所述空压机出气端固定连接有进气管，所述进气管远离空压机出气端的一端固定连接于喷气管内部。优选的，所述净化箱顶端固定连接有排风管。优选的，所述风机的出风端朝向于排风管一侧。优选的，所述喷嘴均匀分布在喷气管底端，且每个所述喷嘴之间的间距相等。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、本技术通过安装的洁净机构，在实际使用时，风机工作可产生吸力，使得前一组吸尘罩可将引线框架表面易吸附的碎屑和脏污进行吸附，而一些卡在引线框架上的碎屑和脏污则继续留在引线框架上，当引线框架继续向AOI检测设备内移动时，空压机工作可将气体通过进气管注入喷气管内，然后再由喷嘴喷出，喷嘴喷出的气流可将引线框架表面难以清除的碎屑和脏污吹起，最后再由两组吸尘罩进行吸附，从而可有效清除引线框架表面残留的碎屑和脏污，可保证引线框架检测的精准性。附图说明图1为本技术的整体结构示意图；图2为本技术的洁净机构结构示意图；图3为本技术的净化箱内部结构示意图。图中：1-AOI检测设备；2-进料入口；3-收料出口；4-洁净机构；5-除尘框；6-净化箱；7-空压机；8-支撑板；9-支架；10-抽气支管；11-三通管；12-进气管；13-连接杆；14-喷嘴；15-喷气管；16-吸尘罩；17-过滤网；18-活性炭滤网；19-风机；20-排风管。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-3，本技术提供一种技术方案：一种用于半导体的引线框架自动化检测设备，包括AOI检测设备1、进料入口2和收料出口3，所述进料入口2固定安装于AOI检测设备1一端，所述收料出口3固定安装于AOI检测设备1另一端，所述AOI检测设备1一端位于进料入口2上方处固定安装有洁净机构4，所述洁净机构4包括除尘框5和净化箱6，所述净化箱6固定安装于除尘框5顶端靠近轴心处，所述除尘框5顶端一侧固定安装有空压机7，所述除尘框5内部通过支架9固定安装有支撑板8，所述支撑板8底端靠近轴心处通过立杆固定安装有喷气管15，所述喷气管15底端固定安装有喷嘴14，且喷嘴14设有多组，所述支撑板8底端两侧通过连接杆13固定安装有吸尘罩16，使用时，风机19工作可产生吸力，使得前一组吸尘罩16可将引线框架表面易吸附的碎屑和脏污进行吸附，而一些卡在引线框架上的碎屑和脏污则继续留在引线框架上，当引线框架继续向AOI检测设备1内移动时，空压机7工作可将气体通过进气管12注入喷气管15内，然后再由喷嘴14喷出，喷嘴14喷出的气流可将引线框架表面难以清除的碎屑和脏污吹起，最后再由两组吸尘罩16进行吸附，从而可有效清除引线框架表面残留的碎屑和脏污，可保证引线框架检测的精准性。其中，由于前一组吸尘罩16可将易吸附的碎屑和脏污进行吸附，则能使引线框架上的碎屑和脏污减少，可避免喷嘴14喷出的气流造成碎屑和脏污的飞溅。其中，所述净化箱6内部顶端固定安装有风机19，所述净化箱6内部底端固定安装有过滤网17和活性炭滤网18，且活性炭滤网18位于过滤网17上端，其中两组所述吸尘罩16顶端固定连接有抽气支管10，所述抽气支管10一端通过三通管11与净化箱6之间管道连接，被吸尘罩16所吸附的空气会通过抽气支管10集中进入到净化箱6内，然后穿过过滤网17和活性炭滤网18，最后再从排风管20排出，过滤网17和活性炭滤网18可将空气中的碎屑和脏污进行拦截，确保排出气体的干净度，同时也可对碎屑和脏污进行收集，便于人们的清理。其中，所述空压机7出气端固定连接有进气管12，所述进气管12远离空压机7出气端的一端固定连接于喷气管15内部，空压机7产生的气流可从喷嘴14喷出，则能实现对引线框架的表面清洁。其中，所述净化箱6顶端固定连接有排风管20。其中，所述风机19的出风端朝向于排风管20一侧。其中，所述喷嘴14均匀分布在喷气管15底端，且每个所述喷嘴14之间的间距相等，确保喷出气流的均匀性。工作原理：在使用时，伺服系统通过引力逐步将引线框架从进料入口2送入AOI检测设备1内，同时风机19工作可产生吸力，使得前一组吸尘罩16可将引线框架表面易吸附的碎屑和脏污进行吸附，而一些卡在引线框架上的碎屑和脏污则继续留在引线框架上，当引线框架继续向AOI检测设备1内移动时，空压机7工作可将气体通过进气管12注入喷气管15内，然后再由喷嘴14喷出，喷嘴14喷出的气流可将引线框架表面难以清除的碎屑和脏污吹起，最后再本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于半导体的引线框架自动化检测设备，包括AOI检测设备（1）、进料入口（2）和收料出口（3），所述进料入口（2）固定安装于AOI检测设备（1）一端，所述收料出口（3）固定安装于AOI检测设备（1）另一端，其特征在于：所述AOI检测设备（1）一端位于进料入口（2）上方处固定安装有洁净机构（4），所述洁净机构（4）包括除尘框（5）和净化箱（6），所述净化箱（6）固定安装于除尘框（5）顶端靠近轴心处，所述除尘框（5）顶端一侧固定安装有空压机（7），所述除尘框（5）内部通过支架（9）固定安装有支撑板（8），所述支撑板（8）底端靠近轴心处通过立杆固定安装有喷气管（15），所述喷气管（15）底端固定安装有喷嘴（14），且喷嘴（14）设有多组，所述支撑板（8）底端两侧通过连接杆（13）固定安装有吸尘罩（16）。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体的引线框架自动化检测设备，包括AOI检测设备（1）、进料入口（2）和收料出口（3），所述进料入口（2）固定安装于AOI检测设备（1）一端，所述收料出口（3）固定安装于AOI检测设备（1）另一端，其特征在于：所述AOI检测设备（1）一端位于进料入口（2）上方处固定安装有洁净机构（4），所述洁净机构（4）包括除尘框（5）和净化箱（6），所述净化箱（6）固定安装于除尘框（5）顶端靠近轴心处，所述除尘框（5）顶端一侧固定安装有空压机（7），所述除尘框（5）内部通过支架（9）固定安装有支撑板（8），所述支撑板（8）底端靠近轴心处通过立杆固定安装有喷气管（15），所述喷气管（15）底端固定安装有喷嘴（14），且喷嘴（14）设有多组，所述支撑板（8）底端两侧通过连接杆（13）固定安装有吸尘罩（16）。


2.根据权利要求1所述的一种用于半导体的引线框架自动化检测设备，其特征在于：所述净化箱（6）内部顶端固定安装有风机（19），所述净化箱（6）内部底端固定安装有过滤网（...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱永嘉，王军帅，谢国平，
申请(专利权)人：泰州炬昕微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32