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本实用新型公开了一种用于半导体的引线框架自动化检测设备，包括AOI检测设备、进料入口和收料出口，所述进料入口固定安装于AOI检测设备一端，所述收料出口固定安装于AOI检测设备另一端，所述AOI检测设备一端位于进料入口上方处固定安装有洁净机构...
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