自动分析装置制造方法及图纸

在自动分析装置具有接近配置在直线上的多个位置的、或进行圆弧轨道的动作的机构的情况下，无法使圆弧与直线完全一致，因此需要进行位置调整，以使它们的偏移为最小。因此，自动分析装置具有：收纳多个沿中心线配置有多个吸引口的试剂瓶(3)，并通过旋转动作来将试剂瓶传送至所希望的位置的试剂盘(2)；以及进行旋转动作，来吸引位于试剂盘上的规定的吸引位置的试剂瓶的试剂的试剂分注机构(10)，其中，在试剂盘(2)上，在试剂盘的至少1处的试剂瓶的搭载位置，夹着试剂瓶的搭载位置设有第1标记和第2标记(35、36)。

Automatic analyzer

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】自动分析装置
本专利技术涉及自动分析装置。
技术介绍
在检测检体中所包含的测定对象物的自动分析装置中，在反应容器内使检体与试剂反应。此时，存在如下工序(分注工序)：利用试剂探针从保持在规定的位置的试剂容器吸引试剂，并向保持在其它规定的位置的反应容器喷出所吸引的试剂。从装置的可靠性的观点出发，优选为在吸引试剂时试剂探针与试剂容器的吸入口的中心尽可能相一致，并且在喷出试剂时试剂探针与反应容器的中心尽可能相一致。因此，需要进行吸引/喷出试剂的试剂分注机构与试剂容器和反应容器之间的位置调整。专利文献1中公开了如下示例：为了调整试剂分注臂的吸引位置，在试剂支架上将金属制的销设置于固定位置。检测试剂分注臂的探头前端与销之间的静电电容的变化来搜索销的位置，并将表示根据销的检测位置而预先存储的销与试剂容器口之间的相对位置关系的信息所示的位置决定为吸引位置。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利特开2010-249601号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题在自动分析装置具有接近配置本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动分析装置，其特征在于，具有：/n试剂盘，该试剂盘收纳多个沿中心线配置有多个吸引口的试剂瓶，通过绕中心轴在圆周方向上进行旋转动作，从而将试剂瓶传送至所希望的位置；以及/n试剂分注机构，该试剂分注机构绕转轴进行旋转动作，来吸引位于所述试剂盘上的规定的吸引位置的所述试剂瓶的试剂，/n在所述试剂盘上，在所述试剂盘的至少1处的试剂瓶的搭载位置，夹着所述试剂瓶的搭载位置设有第1标记和第2标记，/n配置所述试剂分注机构，以使得所述试剂分注机构的圆弧轨道在所述第1标记和所述第2标记上通过，/n所述试剂分注机构接近通过所述试剂盘的旋转动作而被传送至所述规定的吸引位置的试剂瓶的多个所述吸引口中的任一个...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180228 JP 2018-0345831.一种自动分析装置，其特征在于，具有：
试剂盘，该试剂盘收纳多个沿中心线配置有多个吸引口的试剂瓶，通过绕中心轴在圆周方向上进行旋转动作，从而将试剂瓶传送至所希望的位置；以及
试剂分注机构，该试剂分注机构绕转轴进行旋转动作，来吸引位于所述试剂盘上的规定的吸引位置的所述试剂瓶的试剂，
在所述试剂盘上，在所述试剂盘的至少1处的试剂瓶的搭载位置，夹着所述试剂瓶的搭载位置设有第1标记和第2标记，
配置所述试剂分注机构，以使得所述试剂分注机构的圆弧轨道在所述第1标记和所述第2标记上通过，
所述试剂分注机构接近通过所述试剂盘的旋转动作而被传送至所述规定的吸引位置的试剂瓶的多个所述吸引口中的任一个来进行试剂的吸引。


2.如权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
具有培养盘，该培养盘绕转轴进行旋转动作，并搭载多个反应容器，
进一步配置所述试剂分注机构，以使得所述试剂分注机构的圆弧轨道通过所述培养盘的喷出位置，并对位于所述培养盘上的所述喷出位置的反应容器喷出试剂。


3.如权利要求2所述的自动分析装置，其特征在于，
具有控制计算机，
所述控制计算机将所述试剂分注机构向所述第1标记和所述第2标记的旋转移动量存储在其存储装置中，
所述试剂分注机构所接近的、且向被传送至所述规定的吸引位置的试剂瓶的多个所述吸引口中的任一个的旋转移动量基于所述试剂分注机构向所述第1标记和所述第2标记的旋转移动量来决定。


4.如权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述第1标记和所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：坂入进，大草武德，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：发明
国别省市：日本;JP