探针、检查夹具和检查单元制造技术

本实用新型专利技术提供探针、检查夹具和检查单元，该检查夹具具有该探针，该检查单元具有该检查夹具，能够与大小不同的多个接触对象物更加可靠地接触。探针具有：板状的主体部；第1触点部，其设置于主体部的第1方向上的一端；以及一对第2触点部，它们设置于主体部的第1方向上的一端，与第1触点部隔开间隔地分别配置于第1触点部的第2方向上的两侧，并延伸至比第1触点部更远离主体部的位置。各第2触点部具有引导面，该引导面在第2方向上相互地相对配置，朝向第1触点部引导沿着第1方向与第1触点部接近的接触对象物。

Probe, inspection fixture and inspection unit

【技术实现步骤摘要】
探针、检查夹具和检查单元
本技术涉及探针(probepin)、检查夹具和检查单元。
技术介绍
在照相机或液晶面板等电子部件模块中，一般而言，在该电子部件模块的制造工序中，进行导通检查和动作特性检查等。这些检查通过使用探针(probepin)将用于与设置在电子部件模块上的主体基板连接的端子和检查装置的端子连接来进行。作为这样的探针，存在专利文献1所记载的探针。该探针具有上部针轴、下部针轴和配置在上部针轴和下部针轴之间的螺旋弹簧，在上部针轴的上部侧形成有具有夹入焊球的狭缝构造的末端夹持部。该末端夹持部构成为具有在圆周上隔开间隔配置的多个弹性部件，各弹性部件在半径方向上扩开，由此在各弹性部件之间接受并夹持焊球。专利文献1：日本特开2001-318119号公报
技术实现思路
在上述探针中，预先确定了能够由末端夹持部夹持的焊球。因此，例如，有时难以使所述探针与比预先确定的焊球小的焊球可靠地接触。本技术的目的在于提供一种能够与大小不同的多个接触对象物更加可靠地接触的探针、具有该探针的检查夹具和具有该检查夹具的检查单元本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针，其特征在于，其具有：/n板状的主体部；/n第1触点部，其设置于所述主体部的第1方向上的一端，从所述一端起沿着所述第1方向延伸；以及/n一对第2触点部，它们设置于所述主体部的所述一端，与所述第1触点部隔开间隔分别配置于所述第1触点部的第2方向上的两侧，所述一对第2触点部从所述一端起沿着所述第1方向分别延伸至比所述第1触点部更远离所述主体部的位置，其中所述第2方向与所述第1方向以及所述主体部的板厚方向交叉，/n所述一对第2触点部分别具有引导面，该引导面在所述第2方向上相互相对地配置，沿着所述第1方向将要与所述第1触点部接近的接触对象物朝所述第1触点部引导。/n

【技术特征摘要】
20190610 JP 2019-1079821.一种探针，其特征在于，其具有：
板状的主体部；
第1触点部，其设置于所述主体部的第1方向上的一端，从所述一端起沿着所述第1方向延伸；以及
一对第2触点部，它们设置于所述主体部的所述一端，与所述第1触点部隔开间隔分别配置于所述第1触点部的第2方向上的两侧，所述一对第2触点部从所述一端起沿着所述第1方向分别延伸至比所述第1触点部更远离所述主体部的位置，其中所述第2方向与所述第1方向以及所述主体部的板厚方向交叉，
所述一对第2触点部分别具有引导面，该引导面在所述第2方向上相互相对地配置，沿着所述第1方向将要与所述第1触点部接近的接触对象物朝所述第1触点部引导。


2.根据权利要求1所述的探针，其特征在于，
所述第1触点部由在所述第2方向上隔开间隔配置的一对突起构成。


3.根据权利要求2所述的探针，其特征在于，
所述一对突起分别关于中心线对称地配置，其中所述中心线通过所述主体部的所述一端在所述第2方向上的中心并且在所述第1方向上延伸，
所述一对第2触点部分别关于所述中心线对称地配置。


4.根据权利要求2所述的探针，其特征在于，
所述主体部具有一对脚部，该一对脚部设置于所述主体...

【专利技术属性】
技术研发人员：笹野直哉，寺西宏真，酒井贵浩，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：新型
国别省市：日本;JP