测试探针模块与测试插座制造技术

本发明专利技术公开一种测试探针模块。所述测试探针模块包括：导电管；探针，被非接触式地插入于所述管中且可沿长度方向弹性伸缩；以及绝缘探针支撑部件，被配置成在所述管的内壁与所述探针的外表面之间支撑所述探针。本发明专利技术的测试探针模块在噪声屏蔽效能上得以改良且便于修理探针，乃因探针是通过被非接触式地支撑于金属管中而被安装至探针插座。

Test probe module and test socket

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测试探针模块与测试插座
本专利技术涉及一种用于对欲测试的射频半导体或高速半导体或者类似物件进行测试的测试探针模块(testprobeassembly)与测试插座(testsocket)。
技术介绍
在用于测试射频半导体或高速半导体的测试插座中，信号探针被非接触式地安装至导电块(conductiveblock)以屏蔽来自相邻信号探针的噪声。在此种情形中，信号探针所包括的相对的两个端部分在信号探针非接触式地经过导电块之后被支撑于绝缘支撑板上，所述绝缘支撑板安排于导电块的两侧上。然而，对于此种传统的方法而言，当绝缘支撑板的厚度不足以支撑探针时，难以支撑住探针。另一方面，当绝缘支撑板是厚的时，支撑板会造成噪声在各信号探针之间泄漏的问题。为解决此种问题，韩国专利公开案第10-2010-0105622号的相关技术已公开：在导电测试插座中的探针孔的相对两端处安排环氧树脂绝缘体且以环氧树脂绝缘体来支撑信号探针。大测量试探针被安装至测试插座。此种传统的方法具有如下问题：甚至在安装至测试插座的测试探针中仅有一个测试探针受损坏时，亦必须更换整个测试插座。此外本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试探针模块，包括：/n导电管；/n探针，被非接触式地插入于所述管中且可沿长度方向弹性伸缩；以及/n绝缘探针支撑部件，被配置成在所述管的内壁与所述探针的外表面之间支撑所述探针。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171107 KR 10-2017-0147488;20180614 KR 10-2018-001.一种测试探针模块，包括：
导电管；
探针，被非接触式地插入于所述管中且可沿长度方向弹性伸缩；以及
绝缘探针支撑部件，被配置成在所述管的内壁与所述探针的外表面之间支撑所述探针。


2.根据权利要求1所述的测试探针模块，其中所述探针支撑部件是在被插入至所述管中之前预先制造出。


3.根据权利要求1所述的测试探针模块，其中所述探针支撑部件包括突起部容置器，所述突起部容置器容置通过向内挤压所述管而形成的突起部。


4.根据权利要求1所述的测试探针模块，其中所述探针支撑部件是通过在所述管中注射液体环氧树脂并使所述液体环氧树脂硬化而形成。


5.根据权利要求1所述的测试探针模块，其中所述管包括彼此纵向连接的第一管及第二管。


6.根据权利要求1所述的测试探针模块，其中：
所述探针支撑部件包括管插入部分、自所述管插入部分径向延伸的延伸部分、以及形成于所述管插入部分的外表面上的第一螺纹，且

【专利技术属性】
技术研发人员：郑宰欢，金勤洙，申晶澈，
申请(专利权)人：李诺工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR