一种材料电磁辐射性能测试探针台制造技术

本发明专利技术公开了一种材料电磁辐射性能测试探针台，包括视像显微机构、扫描接收探头、用于调节扫描接收探头位置的扫描调节机构、用于放置被测件的载物台、支撑载物台的测试座、能够与被测件接触而导通的探针器，所述测试座上设有用于调整探针器位置的探针调节机构。我们通过探针调节机构带动探针器的探针与被测件接触而导通而接受材料测试的馈电，探针器与外界的信号接收处理仪器连接，通过信号接收处理仪器处理被测件在电磁射线环境下的反馈的参数信号，从而测试出被测件的两个表面的近场及辐射特性。

A probe table for testing electromagnetic radiation properties of materials

【技术实现步骤摘要】
一种材料电磁辐射性能测试探针台
本专利技术涉及一种测试装置，特别是一种材料电磁辐射性能测试探针台。
技术介绍
任何材料都具有电磁辐射特性，如果我们需要测试某种材料的电磁辐射特性，传统测试方法是通过封装技术将电磁超材料接上标准接头、然后放在扫描架下面进行上表面测试。然后将电磁超材料翻过来测试另一个表面，由于存在定位误差，使得上下面的结果存在固有错位误差，因而本申请人设计了材料电磁辐射性能测试探针台来解决上述问题。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本专利技术提供一种材料电磁辐射性能测试探针台，可以快速、准确的测试不同几何尺寸的材料电磁辐射特性，特别是具有高精度结构特征的超材料或传统被测件。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种材料电磁辐射性能测试探针台，其特征在于：包括视像显微机构、扫描接收探头、用于调节扫描接收探头位置的扫描调节机构、用于放置被测件的载物台、支撑载物台的测试座、能够与被测件接触而导通的探针器，所述测试座上设有用于调整探针器位置的探针调节机构。所述探针调节机构包括滑臂及带动滑臂前后移动的滑臂移动单元，所述载物台通过滑臂支撑，所述滑臂上设置有通过导轨与滑臂连接的滑板，所述滑板通过精密调节单元一带动而左右移动；所述滑板上设有通过导轨与滑板连接的升降板，所述升降板通过精密调节单元二带动而升降；所述升降板上设有能够带动探针器转动的角度微调机构。所述角度微调机构包括两相对设置于升降板上的轴承座，该轴承座上设有能够转动的转轴，该转轴上固定有转座及转动块，该转座上设有转板组件，所述探针器设置于转板组件上，所述升降板上设有两角度螺纹调节钮，两角度螺纹调节钮分别位于转动块的相对两侧。所述精密调节单元一包括螺纹调节钮一及复位弹簧，所述螺纹调节钮一与设置于滑臂上的L形板固定，且螺纹调节钮一中的调节螺杆能够穿过L形板推动滑板，所述滑板位于L形板上，所述复位弹簧一端与L形板连接，且复位弹簧的另一端与滑板连接。所述精密调节单元二包括螺纹调节钮二、设置于滑板上的两侧板、转动叉，所述侧板上设有避让孔，所述转动叉位于避让孔中且侧板转动连接，所述螺纹调节钮二的调节螺杆能够推动转动叉从而通过转动叉带起升降板。所述滑臂移动单元包括设置于测试座上的滑臂驱动电机、滑臂丝杠及滑臂导轨，所述滑臂与滑臂导轨上的滑臂滑块连接，所述滑臂驱动电机与滑臂丝杠连接。还包括显微镜。所述扫描调节机构包括设置于测试座上的支撑梁与滑动梁，所述支撑梁上设有梁移动单元一，所述支撑梁通过梁移动单元一带动而在支撑梁上移动，所述滑动梁上设有梁座板，所述梁座板通过梁移动单元二带动而在滑动梁上移动，所述梁座板上设有梁升板，梁升板通过梁移动单元三带动而在梁座板上移动，所述扫描接收探头设置于梁升板上。所述滑臂上设有定位槽，所述载物台的边缘位于定位槽中。本专利技术的有益效果是：本专利技术扫描接收探头发射电磁射线，被测件放置于载物台上处于电磁射线的环境中，我们通过探针调节机构带动探针器的探针与被测件接触而导通而接受材料测试的馈电，探针器与外界的信号接收处理仪器连接，通过信号接收处理仪器处理被测件在电磁射线环境下的反馈的参数信号，从而测试出被测件的两个表面的近场及辐射特性。优点如下：1，减少了标准接头引入的误差,2，减少了标准接头焊接和拆除的工作，使操作更便捷、更具标准化潜力。3，本专利技术可同时测试电磁超材料两个表面的近场及辐射特性，大大提高了测试效率的同时，避免了传统方法因定位精度带来的错位误差。(注：特别是大数据量测试时传统方案测试一遍可能会2到3周，显著提升测试效率)。3、本专利技术可以最大程度上减少测试仪表不确定度引入的测试误差。(注：由于测试仪表有长期稳定度指标所以分别测试电磁超材料上、下表面时由环境因素和测试时点的不一样会引入误差。)附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1是本专利技术的整体结构视图；图2是滑臂部分的结构视图；图3是滑臂部分另一方向的结构视图。具体实施方式参照图1至图3，本专利技术公开了一种材料电磁辐射性能测试探针台，包括扫描接收探头1、用于调节扫描接收探头1位置的扫描调节机构、用于放置被测件的载物台2、支撑载物台2的测试座3、能够与被测件接触而导通的探针器4，所述测试座3上设有用于调整探针器4位置的探针调节机构。本申请中的滑臂5有四个，两两相对设置于测试座3上，载物台2位于滑臂5中间位置，扫描接收探头1有两对，分别位于载物台2的上下方，下方的一对扫描接收探头1通过下方的扫描调节机构能够在平面内移动及升降，从而适应不同规格的被测件测试，而上方的一对扫描接收探头1通过上方的扫描调节机构能够在平面内移动及升降，且上方的扫描调节机构通过四根立柱6支撑而能够位于载物台2上方，载物台2的大小也是可以根据被测件的规格而选择的，被测件放置于载物台2的预定位置。如图所示，所述探针调节机构包括滑臂5及带动滑臂5前后移动的滑臂移动单元，所述载物台2通过滑臂5支撑，所述滑臂5上设置有通过导轨与滑臂5连接的滑板7，所述滑板7通过精密调节单元一带动而左右移动；所述滑板7上设有通过导轨与滑板7连接的升降板8，所述升降板8通过精密调节单元二带动而升降；所述升降板8上设有能够带动探针器4转动的角度微调机构。所述精密调节单元一包括螺纹调节钮一9及复位弹簧(图中未显示出)，所述螺纹调节钮一9与设置于滑臂5上的L形板10固定，且螺纹调节钮一9中的调节螺杆能够穿过L形板10推动滑板7，所述滑板7位于L形板10上，所述复位弹簧一端与L形板10连接，且复位弹簧的另一端与滑板7连接，上述结构简单，不用在滑板7两侧均设置螺纹调节钮一9，因而节省成本，L形板10由两块板互成九十度的板构成。所述精密调节单元二包括螺纹调节钮二11、设置于滑板7上的两侧板12、转动叉13，所述侧板12上设有避让孔14，所述转动叉13位于避让孔14中且侧板12转动连接，所述螺纹调节钮二11的调节螺杆能够推动转动叉13从而通过转动叉13顶起升降板8，转动叉13包括两互成九十度的转杆131及一拨杆132，一转杆131与侧板12转动连接，且另一转杆131与升降板8转动连接，且升降板8上设置的是长孔，因而该转杆131通过转杆轴在带动升降板8上升的时候能够沿长孔移动，螺纹调节钮二11的调节螺杆能够推动拨杆132，因为螺纹调节钮是紧密手动调节部件，因而不能直接承受很大的压力，因而我们利用杠杆原理使转动叉13作为中介推动升降板8升降，从而保护了螺纹调节钮，而且结构简单、可靠性好。所述角度微调机构包括两相对设置于升降板8上的轴承座14，该轴承座14上设有能够转动的转轴15，该转轴15上固定有转座16及转动块17，该转座16上设有转板组件18，所述探针器4设置于转板组件18上，所述升降板8上设有两角度螺纹调节钮19，两角度螺纹调节钮19分别位于转动块17的相对两侧，通过该结构只需旋转一侧的角度螺纹调节钮19推动转动块17，转动块17带动带动本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种材料电磁辐射性能测试探针台，其特征在于：包括扫描接收探头、用于调节扫描接收探头位置的扫描调节机构、用于放置被测件的载物台、支撑载物台的测试座、能够与被测件接触而导通的探针器，所述测试座上设有用于调整探针器位置的探针调节机构。/n

【技术特征摘要】
1.一种材料电磁辐射性能测试探针台，其特征在于：包括扫描接收探头、用于调节扫描接收探头位置的扫描调节机构、用于放置被测件的载物台、支撑载物台的测试座、能够与被测件接触而导通的探针器，所述测试座上设有用于调整探针器位置的探针调节机构。


2.根据权利要求1所述的一种材料电磁辐射性能测试探针台，其特征在于:所述探针调节机构包括滑臂及带动滑臂前后移动的滑臂移动单元，所述载物台通过滑臂支撑，所述滑臂上设置有通过导轨与滑臂连接的滑板，所述滑板通过精密调节单元一带动而左右移动；所述滑板上设有通过导轨与滑板连接的升降板，所述升降板通过精密调节单元二带动而升降；所述升降板上设有能够带动探针器转动的角度微调机构。


3.根据权利要求2所述的一种材料电磁辐射性能测试探针台，其特征在于:所述角度微调机构包括两相对设置于升降板上的轴承座，该轴承座上设有能够转动的转轴，该转轴上固定有转座及转动块，该转座上设有转板组件，所述探针器设置于转板组件上，所述升降板上设有两角度螺纹调节钮，两角度螺纹调节钮分别位于转动块的相对两侧。


4.根据权利要求2所述的一种材料电磁辐射性能测试探针台，其特征在于:所述精密调节单元一包括螺纹调节钮一及复位弹簧，所述螺纹调节钮一与设置于滑臂上的L形板固定，且螺纹调节钮一中的调节螺杆能够穿过L形板推动滑板，所述滑板位于L形板上，所述复位...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡呈祥，
申请(专利权)人：中山米微科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44