多个元件的电气指标测试方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种多个元件的电气指标测试方法、装置及电子设备，获取多个待测元件后，将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的待测元件的测试文件进行修正；基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。本发明专利技术通过对多个待测元件的批量化夹持及校准，提高了对大量的待测元件的测量效率，降低了人工成本。

Test methods, devices and electronic equipment for electrical indicators of multiple components

【技术实现步骤摘要】
多个元件的电气指标测试方法、装置及电子设备
本专利技术涉及电子电路
，尤其是涉及一种多个元件的电气指标测试方法、装置及电子设备。
技术介绍
相关技术中，在采用飞针设备对同一批次的大量电子元件或电路板的电气指标进行测试时，通常采用单个测量的方法，每次测试都需要进行夹持对准、坐标修正等一系列操作，效率较低，且人工成本较高。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供多个元件的电气指标测试方法、装置及电子设备，以提高对大量的待测元件的测量效率，降低人工成本。第一方面，本专利技术实施例提供了一种多个元件的电气指标测试方法，包括：获取设定数量的待测元件；设定数量大于一；将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的待测元件的测试文件进行修正；基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，上述夹具包括阵列测试夹具；设定数量的待测元件由阵列测试夹具固定；固定后的多个待测元件呈阵列式分布。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，通过飞针设备及摄像头对待测元件进行基准点对预先获取的待测元件的测试文件进行修正的步骤，包括：对当前待测元件进行基准点对准，得到对应的坐标校正参数；通过坐标校正参数对预先获取的当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行修正；判断固定在夹具上的待测元件是否均通过基准点校准；如果否，按照设定的顺序将当前待测元件的下一个待测元件作为当前待测元件，继续执行对当前待测元件进行基准点对准的步骤，直至固定在夹具上的待测元件均通过基准点校准。结合第一方面的第二种可能的实施方式，本专利技术实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，上述图像采集设备包括基于电荷耦合元件的摄像头；该摄像头用于采集图像；该飞针设备包括测针及电机；电机用于带动测针移动；摄像头固定在测针上；上述待测元件的测试文件中保存有待测元件的待测点的坐标信息；对当前待测元件进行基准点对准，得到对应的坐标校正参数的步骤，包括：通过电机带动测针移动，使得当前待测元件出现在摄像头采集的图像中；选取当前的待测元件中两个待测点作为第一基准点及第二基准点；确定第一基准点及第二基准点在在图像中的第一测试坐标及第二测试坐标；基于第一测试坐标、第二测试坐标及第一基准点及第二基准点在测试文件中的第一坐标信息及第二坐标信息，计算当前待测元件的当前坐标相对于测试文件中坐标信息的缩放量、平移量及旋转量；将缩放量、平移量及旋转量确定为坐标校正参数。结合第一方面的第三种可能的实施方式，本专利技术实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，通过坐标校正参数对预先获取的当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行修正的步骤，包括：基于平移量及旋转量依次对当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行平移及旋转处理，得到修正后的测试文件。第二方面，本专利技术实施例还提供一种多个元件的电气指标测试装置，包括：元件获取模块，用于获取设定数量的待测元件；设定数量大于一；元件固定模块，用于将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；修正模块，用于通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的待测元件的测试文件进行修正；测试模块，用于基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。结合第二方面，本专利技术实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式，其中，上述修正模块还用于：对当前待测元件进行基准点对准，得到对应的坐标校正参数；通过坐标校正参数对预先获取的当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行修正；判断固定在夹具上的待测元件是否均通过基准点校准；如果否，按照设定的顺序将当前待测元件的下一个待测元件作为当前待测元件，继续执行对当前待测元件进行基准点对准的步骤，直至固定在夹具上的待测元件均通过基准点校准。结合第一方面的第一种可能的实施方式，本专利技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，上述图像采集设备包括基于电荷耦合元件的摄像头；该摄像头用于采集图像；该飞针设备包括测针及电机；电机用于带动测针移动；摄像头固定在测针上；上述待测元件的测试文件中保存有待测元件的待测点的坐标信息；上述修正模块还用于：通过电机带动测针移动，使得当前待测元件出现在摄像头采集的图像中；选取当前的待测元件中两个待测点作为第一基准点及第二基准点；确定第一基准点及第二基准点在在图像中的第一测试坐标及第二测试坐标；基于第一测试坐标、第二测试坐标及第一基准点及第二基准点在测试文件中的第一坐标信息及第二坐标信息，计算当前待测元件的当前坐标相对于测试文件中坐标信息的缩放量、平移量及旋转量；将缩放量、平移量及旋转量确定为坐标校正参数。第三方面，本专利技术实施例还提供一种电子设备，包括存储器、处理器，存储器中存储有可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述多个元件的电气指标测试方法。第四方面，本专利技术实施例还提供一种机器可读存储介质，机器可读存储介质存储有机器可执行指令，机器可执行指令在被处理器调用和执行时，机器可执行指令促使处理器实现上述多个元件的电气指标测试方法。本专利技术实施例带来了以下有益效果：本专利技术实施例提供了一种多个元件的电气指标测试方法、装置及电子设备，获取设定数量的待测元件后，将设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的待测元件的测试文件进行修正；基于修正后的测试文件，通过飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。该方式通过对多个待测元件的批量化夹持及校准，提高了对大量的待测元件的测量效率，降低了人工成本。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，或者，部分特征和优点可以从说明书推知或毫无疑义地确定，或者通过实施本专利技术的上述技术即可得知。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施方式，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种多个元件的电气指标测试方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的另一种多个元件的电气指标测试方法的流程图；图3为本专利技术实施例提供的基准点的实际坐标与测量文件中的坐标信息组成的余弦定理应用示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种多个元件的电气指标测试装置的结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合实施例对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多个元件的电气指标测试方法，其特征在于，包括：/n获取设定数量的待测元件；所述设定数量大于一；/n将所述设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；/n通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的所述待测元件的测试文件进行修正；/n基于修正后的所述测试文件，通过所述飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种多个元件的电气指标测试方法，其特征在于，包括：
获取设定数量的待测元件；所述设定数量大于一；
将所述设定数量的待测元件固定在设定的夹具上；
通过飞针设备及图像采集设备对预先获取的所述待测元件的测试文件进行修正；
基于修正后的所述测试文件，通过所述飞针设备对各个待测元件的设定的电气指标进行测试。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述夹具包括阵列测试夹具；所述设定数量的待测元件由阵列测试夹具固定；固定后的多个待测元件呈阵列式分布。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过飞针设备及摄像头对待测元件进行基准点对预先获取的待测元件的测试文件进行修正的步骤，包括：
对当前待测元件进行基准点对准，得到对应的坐标校正参数；
通过所述坐标校正参数对预先获取的当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行修正；
判断固定在所述夹具上的待测元件是否均通过基准点校准；
如果否，按照设定的顺序将当前待测元件的下一个待测元件作为当前待测元件，继续执行对当前待测元件进行基准点对准的步骤，直至固定在所述夹具上的待测元件均通过基准点校准。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述图像采集设备包括基于电荷耦合元件的摄像头；所述摄像头用于采集图像；所述飞针设备包括测针及电机；所述电机用于带动所述测针移动；所述摄像头固定在所述测针上；所述待测元件的测试文件中保存有所述待测元件的待测点的坐标信息；
对当前待测元件进行基准点对准，得到对应的坐标校正参数的步骤，包括：
通过所述电机带动所述测针移动，使得当前待测元件出现在所述摄像头采集的图像中；
选取当前的待测元件中两个待测点作为第一基准点及第二基准点；
确定所述第一基准点及第二基准点在在所述图像中的第一测试坐标及第二测试坐标；
基于所述第一测试坐标、所述第二测试坐标及所述第一基准点及第二基准点在所述测试文件中的第一坐标信息及第二坐标信息，计算所述当前待测元件的当前坐标相对于测试文件中坐标信息的缩放量、平移量及旋转量；
将所述缩放量、平移量及旋转量确定为坐标校正参数。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，通过所述坐标校正参数对预先获取的当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行修正的步骤，包括：
基于所述平移量及旋转量依次对当前待测元件的测试文件中的测试点的坐标信息进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：左宁，党景涛，高慧莹，
申请(专利权)人：北京半导体专用设备研究所中国电子科技集团公司第四十五研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11