探针连接器制造技术

本发明专利技术涉及一种探针连接器（１），其连接电路板（２）以及包括轴向端子（１６２）和周围的端子（１６３）的同轴插头（３）。该探针连接器的同轴探针（５１）包括中心端子（５２）和外部端子（６１），该中心端子连接到所述电路板和所述轴向端子，而所述外部端子与所述中心端子同轴，且连接到所述电路板和所述周围的端子。所述外部端子包括圆柱形的外部导体（６２）、锚状物（６３）以及导电盖（９１），所述圆柱形的外部导体包围所述中心端子并且与所述周围的端子配合；所述锚状物通过机加工工艺作为突起（６９）形成在所述外部导体的外表面的一部分上，使得在所述外表面的一部分上形成了孔；所述导电盖覆盖并封闭所述孔，并且电连接到所述外部导体。因此，即使当将同轴插头插入同轴探针或从同轴探针拔出时，所述同轴探针的位置也只会略微地移动。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开大体上涉及一种探针连接器，且更具体地讲，涉及一种其中当将同轴插头插入同轴探针或从同轴探针拔出时，同轴探针的位置略微地发生移位或偏离的探针连接O
技术介绍
日本技术申请第60-123666号声称公开了一种用在检测装置中的同轴可移动的接触探针851，如图16所示。该同轴可移动的接触探针851包括中心导体852和外部导体861，该外部导体861具有普通的圆柱形形状并且包围中心导体852。如图17所示，探针851由可移动的板802保持，而该可移动的板802可相对于上面安装了检测目标集成电路(“IC”)的检测目标电路板801移动。而且，同轴连接器(“同轴插头”)961被连接到探针851的一端。每个同轴插头961经由同轴电缆962连接到测量电路板(未显示)，该测量电路板上可安装信号发生器电路、比较仪等。检测时，可移动的板802朝向检测目标电路板801移动，以使探针851的另一端与检测目标电路板801接触。结果，同轴插头961和电路板801通过探针851连接到其上，由此连接检测目标电路板801和测量电路板。当使用同轴结构类型的同轴探针851时，在探针中将不太可能发生信号的高频分量的衰减或反射。因此，由测量电路板中的信号发生器电路输出的输入信号经由探针851 传送或传输到检测目标电路板801，同时令人满意地保持其波形。而且，由检测目标电路板 801中的检测目标IC输出的输出信号经由探针851传送或传输到检测目标电路板801，同时令人满意地保持其波形。然而，’ 666申请中的探针851具有普通的圆柱形形状，且只是被压配合到形成在可移动的板802中的腔814中。因此，例如当将同轴插头961插入探针851或从探针851 拔出时，探针851可能会相对于可移动的板802发生移位或移动。这将导致，在被压配合到单个可移动的板802中的探针851之间，探针851从单个可移动的板802伸出的量是不同的或不一致的。因此，尽管每个探针都采用可膨胀且可收缩的探针结构以便能够与检测目标电路板801弹性接触，但探针851相对于检测目标电路板801的接触压力在探针851之间是变化的。而且，如果伸出的量的变化的范围变大，则探针851之间相对于检测目标电路板801的接触压力变化的范围将不会落在预定的高压力范围内，且因此，探针851之间相对于检测目标电路板801的接触阻力变化的范围将不会落在预定的范围内。
技术实现思路
本公开的一个目的是提供一种探针连接器，在这种探针连接器中，即使当将同轴插头插入同轴探针或从同轴探针拔出时，同轴探针的位置也几乎不会发生移位或偏离。根据这一点，提供了一种探针连接器，其连接电路板和同轴插头，所述同轴插头包括轴向端子和周围的端子，探针连接器包括同轴探针，而该同轴探针包括中心端子和外部端子，所述中心端子电连接到同轴插头的轴向端子和电路板，而所述外部端子与中心端子同轴，且电连接到周围的端子和电路板；其中所述外部端子包括外部导体、锚状物以及导电盖，所述外部导体被形成为围绕中心端子的圆柱形形状内并且与周围的端子配合，所述锚状物作为突起 (projection)形成在外部导体的一部分外表面上，使得在这一部分外表面上形成了孔，而所述导电盖覆盖所述孔，并且电连接到外部导体。在同轴探针中，锚状物被形成为从外部端子的表面突出的突起。如果探针连接器包括例如连接到电路板或类似物的壳体，且腔被形成为穿过所述壳体，并将同轴探针插入所述腔，则锚状物可与所述壳体以某种状态结合从而使得同轴探针插入所述腔内。也就是说，同轴探针和壳体可经由外部端子的锚状物彼此接合。因为同轴探针通过这种接合由壳体保持，所以，即使当将同轴插头插入同轴探针或从同轴探针拔出时，同轴探针也几乎不会相对于壳体发生移位或移动。如上所描述的，因为锚状物足以用作防止同轴探针离开或脱离的接合部分，锚状物可与除了壳体之外的另一构件接合，且所述另一构件包括例如保持板等。因为即使当将同轴插头插入同轴探针或从同轴探针拔出时，同轴探针也不容易发生移位，所以连接到单个壳体等的多个同轴探针的突出的量可基于初始排列而得到维持。 而且，因为同轴探针的突出的量大体上稳定地保持在预定的状态，所以有可能使同轴探针之间相对于电路板的接触压力变化的范围落在预定的高的压力范围内，从而使同轴探针之间相对于电路板的接触阻力变化的范围落在预定的范围内。此外，本公开的同轴探针具有采用外部导体的同轴结构，而外部导体具有圆柱形的形状。因为外部导体通常由金属制成，所以诸如锚状物的突起部分适合于由机加工工艺形成。通过采用机加工工艺来形成锚状物，即使当外部导体具有l_3mm的小直径以便例如用在IC检测及测试装置中的时候，也有可能在圆柱形外部导体上将锚状物形成为突起。而且，通过利用机加工工艺来形成锚状物，不再需要为了在外部导体上形成锚状物而增大外部导体的直径尺寸，且因此有可能将多个同轴探针连接到壳体等，所述多个同轴探针具有与没有锚状物形成的同轴探针的尺寸相同的尺寸。也就是说，在具有预定尺寸的壳体中，例如，同轴探针可以按与使用不具有锚状物的同轴探针的情况相同的沟道数量连接到壳体。然而，如上所述，在锚状物由机加工工艺形成的情况下，在圆柱形外部导体上还形成了对应于锚状物的孔。机加工的孔造成信号的高频分量的衰减、反射和/或类似情况。因此，在本公开中，由于锚状物的突出而形成在圆柱形外部导体中的孔由电连接到外部导体的导电盖覆盖。通过用导电盖覆盖机加工的孔，外部导体的外表面，包括形成所述机加工的孔的外表面的部分，由金属覆盖，且因此是电均勻的。因此，在同轴探针中不太可能发生信号的高频分量的衰减和/或反射。而且，有可能抑制由探针连接器的插入引起的信号的高频分量的插入损失(导致高频带的大量损失的DIP特性)。而且，经由同轴探针的中心端子传输的信号几乎不会从同轴探针泄露，从而有效地防止了信号之间的串扰。结果，例如， 在两个电路板由探针连接器连接的情况下，信号在两个电路板之间传输，使得将一个电路板的信号传输到另一个电路板，同时保持信号输出的大小和波形与从一个电路板输出的相同。在本公开中，探针连接器还可以包括薄的圆柱体部分、外部螺旋弹簧以及圆柱形接触件，在外部导体上，所述薄的圆柱体部分形成在外部导体的另一部分上，该另一部分比形成锚状物的部分更靠近电路板的一侧，并且所述薄的圆柱体部分被形成为具有比形成锚状物的部分薄的圆柱形形状，所述外部螺旋弹簧中插入有所述薄的圆柱体部分，所述圆柱形接触件被形成为圆柱体的形状，在其一端内插入有薄的圆柱体部分的一端，而其另一端从壳体伸出以与电路板接触。在这种情况下，当壳体被连接到电路板时，圆柱形接触件可沿着薄的圆柱体部分移动以压缩外部螺旋弹簧，从而借助于外部螺旋弹簧的弹簧力而与电路板压力接触。在本公开中，在壳体被连接到电路板的状态下，由于外部螺旋弹簧的弹簧力，圆柱形接触件与电路板压力接触。这种压力接触可以将圆柱形接触件之间相对于电路板的接触阻力变化的范围维持在期望的范围内。具体地，因为每个同轴探针的外部螺旋弹簧被压缩在通过锚状物设置在壳体或类似物内的外部导体以及与电路板接触的圆柱形接触件之间， 所以在壳体被连接到电路板的状态下，有可能使多个圆柱形接触件之间相对于电路板的接触压力均勻化。这使得有可能减少圆柱形接触件之间相对本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种探针连接器，其连接电路板以及包括轴向端子和周围的端子的同轴插头，所述探针连接器包括：同轴探针，所述同轴探针包括中心端子和外部端子，所述中心端子电连接到所述同轴插头的轴向端子和所述电路板，而所述外部端子与所述中心端子同轴，且电连接到所述周围的端子和所述电路板；其中所述外部端子包括外部导体、锚状物以及导电盖，所述外部导体被形成为围绕所述中心端子的圆柱形形状并且与所述周围的端子配合，所述锚状物作为突起形成在所述外部导体的外表面的一部分上，使得在所述外表面的一部分上形成了孔，而所述导电盖覆盖所述孔，并且电连接到所述外部导体。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：上坂廖，
申请(专利权)人：莫列斯公司，
类型：发明
国别省市：US