【技术实现步骤摘要】
用于指示测量装置探针位置的感应位置检测配置
本公开涉及精确计量,并且更具体地涉及用于与坐标测量机一起使用的探针的感应型感测配置。
技术介绍
坐标测量机(CMM)可以获取被检查工件的测量值。在美国专利No.8,438,746中描述的一种示例性现有技术的CMM包括用于测量工件的探针、用于检测工件的探针、用于移动探针的移动机构、以及用于控制运动的控制器,所述美国专利No.8,438,746的全部内容通过引用并入本文。美国专利No.7,652,275描述了包括表面扫描探头的CMM,所述美国专利No.7,652,275全部内容通过引用并入本文。如其中所公开的,机械接触探针或光学探针可以跨越工件表面扫描。美国专利6,971,183还描述了采用机械接触探针的CMM,所述美国专利6,971,183全部内容通过引用并入本文。其中公开的探针包括具有表面接触部分的探针、轴向运动机构和旋转运动机构。轴向运动机构包括移动构件,其允许接触部分在测量探针的中心垂直方向(也称为Z方向或轴向方向)上移动。旋转运动机构包括允许接触部分垂直于Z方向移动的旋转构件。轴向运动机构嵌入旋转运动机构的内部。接触部分位置和/或工件表面坐标是基于旋转构件的位移和轴向运动移动构件的轴向位移确定的。感应式感测技术已知具有环境鲁棒性(robust),并且具有各种理想的感测特性。已知使用精密LVDT等来测量与上述类似的机械接触探针中的各种内部元件的位移或位置。然而,LVDT和其他已知的足够精确地用于CMM探头的感应型传感器可能太大或难以并入,并且相关的运动机 ...
【技术保护点】
1.一种用于坐标测量机的扫描探头,所述扫描探头包括:/n探针悬置部分,其联接到所述扫描探头的框架,包括:/n探针联接部分,其配置为刚性地联接到探针;以及/n探针运动机构,其配置为实现所述探针联接部分沿轴向方向的轴向运动,以及所述探针联接部分围绕旋转中心的旋转运动;以及/n探针位置检测部分,其沿着中心轴线布置,所述中心轴线平行于所述轴向方向且名义上与所述旋转中心对齐,所述探针位置检测部分包括:/n接收器线圈部分,包括平坦的顶部线圈基板以及平坦的底部线圈基板,所述顶部线圈基板包括顶部轴向感测线圈配置和N个顶部旋转感测线圈,所述底部线圈基板包括底部轴向感测线圈配置和N个底部旋转感测线圈,其中N是至少为3的整数,且顶部线圈基板和底部线圈基板以固定的关系安装到所述扫描探头的框架,所述底部线圈基板更靠近所述探针悬置部分,且顶部线圈基板和底部线圈基板名义上彼此平行且名义上正交于所述中心轴线,且沿着所述中心轴线间隔开并且扰动器运动体积位于其之间;/n扰动器配置,包括扰动器元件,所述扰动器元件包括提供扰动器区域的导电板或导电回路,其中所述扰动器元件沿着所述中心轴线位于顶部线圈基板和底部线圈基板之间的扰动 ...
【技术特征摘要】
20181101 US 16/178,2951.一种用于坐标测量机的扫描探头,所述扫描探头包括:
探针悬置部分,其联接到所述扫描探头的框架,包括:
探针联接部分,其配置为刚性地联接到探针;以及
探针运动机构,其配置为实现所述探针联接部分沿轴向方向的轴向运动,以及所述探针联接部分围绕旋转中心的旋转运动;以及
探针位置检测部分,其沿着中心轴线布置,所述中心轴线平行于所述轴向方向且名义上与所述旋转中心对齐,所述探针位置检测部分包括:
接收器线圈部分,包括平坦的顶部线圈基板以及平坦的底部线圈基板,所述顶部线圈基板包括顶部轴向感测线圈配置和N个顶部旋转感测线圈,所述底部线圈基板包括底部轴向感测线圈配置和N个底部旋转感测线圈,其中N是至少为3的整数,且顶部线圈基板和底部线圈基板以固定的关系安装到所述扫描探头的框架,所述底部线圈基板更靠近所述探针悬置部分,且顶部线圈基板和底部线圈基板名义上彼此平行且名义上正交于所述中心轴线,且沿着所述中心轴线间隔开并且扰动器运动体积位于其之间;
扰动器配置,包括扰动器元件,所述扰动器元件包括提供扰动器区域的导电板或导电回路,其中所述扰动器元件沿着所述中心轴线位于顶部线圈基板和底部线圈基板之间的扰动器运动体积中,且通过联接配置联接到所述探针悬置部分,其中所述扰动器元件响应于所述探针悬置部分的偏转而相对于未偏转位置在所述扰动器运动体积中移动,所述扰动器元件响应于轴向运动而沿着轴向方向在操作运动范围+/-Rz内移动,且响应于旋转运动而沿着正交于所述轴向方向的正交X和Y方向在相应的操作运动范围+/-Rx和+/-Ry内移动;
场产生线圈配置,至少包括第一场产生线圈,所述第一场产生线圈位于所述扰动器运动体积附近且其名义上是平坦的且正交于所述中心轴线,其中所述第一场产生线圈的线圈区域沿着所述轴向方向的投影包含提供所述扰动器区域的导电板或回路以及位于顶部线圈基板和底部线圈基板上的所有的旋转和轴向感测线圈的线圈区域,所述场产生线圈配置响应于线圈驱动信号而在所述扰动器运动体积中大致沿着轴向方向产生变化的磁通量;以及
信号处理和控制电路,其可操作地连接到所述探针位置检测部分的线圈以提供所述线圈驱动信号,且配置为从所述接收器线圈部分输入信号,所述信号包括由位于顶部线圈基板和底部线圈基板上的相应的旋转和轴向感测线圈提供的相应的信号分量,并且所述信号处理和控制电路配置为输出信号,所述信号指示所述扰动器元件或所述探针中的至少一个相对于所述扫描探头的框架的轴向位置和旋转位置,
其中:
所述扰动器元件沿着所述轴向方向穿过所述顶部轴向感测线圈配置的内部线圈区域的投影限定顶部轴向感测重叠区域TASOA,所述扰动器元件沿着所述轴向方向穿过所述底部轴向感测线圈配置的内部线圈区域的投影限定底部轴向感测重叠区域BASOA,所述扰动器元件沿着所述轴向方向穿过任何相应的顶部旋转感测线圈TRSCi的内部线圈区域的投影限定相应的顶部旋转线圈感测重叠区域TRSCOAi,并且所述扰动器元件沿着所述轴向方向穿过任何相应的底部旋转感测线圈BRSCi的内部线圈区域的投影限定相应的底部旋转线圈感测重叠区域BRSCOAi,其中i是单独线圈识别指数,范围为1至N;
所述接收器线圈部分和所述扰动器元件配置为提供所述顶部轴向感测重叠区域TASOA和所述底部轴向感测重叠区域BASOA,其中,重叠区域TASOA和BASOA中的每一个的量是不变的或独立于所述扰动器元件在所述操作运动范围+/-Rz,+/-Rx和+/-Ry内的位置,并且
所述接收器线圈部分和所述扰动器元件配置为提供旋转感测线圈的N个互补对CPi,每个互补对包括顶部旋转感测线圈TRSCi和底部旋转感测线圈BRSCi,其中对于任何互补对CPi,对于操作运动范围+/-Rz,+/-Rx,和+/-Ry内的任何扰动器元件位移增量,与所述扰动器元件位移增量相关联的重叠区域TRSCOAi和BRSCOAi的变化的幅度在该互补对中名义上是相同的。
2.如权利要求1所述的扫描探头,其中所述接收器线圈部分和所述扰动器元件还配置为,其中对于任何互补对CPi和操作运动范围+/-Rz,+/-Rx,和+/-Ry内的任何扰动器元件位移增量,与所述扰动器元件位移增量相关联的重叠区域TRSCOAi和BRSCOAi的变化的幅度和符号在该互补对中是相同的。
3.如权利要求2所述的扫描探头,其中所述接收器线圈部分还配置为,其中每个互补对CPi包括顶部旋转感测线圈TRSCi和底部旋转感测线圈BRSCi,其特征在于以下中的至少一个:
当沿着所述轴向方向投影时,它们内部区域的形状名义上重合;或
如果它们中的一个的形状围绕所述中心轴线旋转以与另一个围绕所述中心轴线的角度位置重合,然后沿着所述轴向方向投影,则它们的内部区域的形状将在名义上重合。
4.如权利要求2所述的扫描探头,其中所述接收器线圈部分和所述扰动器元件还配置为,其中所述扰动器元件包括至少N个直侧,且对于任何相应的互补对CPi,所述扰动器元件的直侧中的相应的一个横切该相应的互补对的顶部旋转感测线圈TRSCi和底部旋转感测线圈BRSCi二者。
5.如权利要求4所述的扫描探头,其中以下中的至少一个...
【专利技术属性】
技术研发人员:TS库克,SA哈希拉,
申请(专利权)人:株式会社三丰,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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