【技术实现步骤摘要】
高压栅极驱动芯片测试系统
本技术属于半导体集成电路测试
，尤其涉及一种高压栅极驱动芯片测试系统。
技术介绍
在智能开关、汽车电子、平板显示驱动以及通讯等方面，高压栅极驱动芯片作为一种高低端驱动器有着广泛的用途，高压栅极驱动芯片可驱动两个独立的IGBT晶闸管/MOSFET管，其具有稳健的抗干扰性能、可适应恶劣环境、测试欠压时关断通道保护开关管和芯片本身。为了高压栅极驱动芯片能正常工作，应测试高压栅极驱动的各项性能，但是，传统的高压栅极驱动芯片都是通过人工来一一连接高压栅极驱动芯片与开关管来测试高压栅极驱动芯片能否直接驱动目标范围的开关管，测试项目单一而且测试过程繁琐，因此，传统的技术方案中存在耗费人力、测试项目单一且测试过程繁琐的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本技术实施例提供了一种高压栅极驱动芯片测试系统，旨在解决传统的技术方案中存在的耗费人力、测试项目单一且测试过程繁琐的问题。本技术实施例的第一方面提供了一种高压栅极驱动芯片测试系统，与高压栅极驱动芯片连接，所述高压栅极驱动芯片测试系统包括：<...
【技术保护点】
1.一种高压栅极驱动芯片测试系统，其特征在于，与高压栅极驱动芯片连接，所述高压栅极驱动芯片测试系统包括：/n上位机，所述上位机用于为生成第一控制指令、第二控制指令以及第三控制指令；/n测试模块，所述测试模块与所述上位机和所述高压栅极驱动芯片连接，所述测试模块用于根据所述第一控制指令对所述高压栅极驱动芯片进行高压测试并将所述高压测试的第一数据反馈回所述上位机、根据所述第二控制指令对所述高压栅极驱动芯片进行静态电气参数测试并将所述静态电气参数测试的第二数据反馈回所述上位机以及根据所述第三控制指令对所述高压栅极驱动芯片进行动态电气参数测试并将所述动态电气参数测试的第三数据反馈回所...
【技术特征摘要】
1.一种高压栅极驱动芯片测试系统，其特征在于，与高压栅极驱动芯片连接，所述高压栅极驱动芯片测试系统包括：
上位机，所述上位机用于为生成第一控制指令、第二控制指令以及第三控制指令；
测试模块，所述测试模块与所述上位机和所述高压栅极驱动芯片连接，所述测试模块用于根据所述第一控制指令对所述高压栅极驱动芯片进行高压测试并将所述高压测试的第一数据反馈回所述上位机、根据所述第二控制指令对所述高压栅极驱动芯片进行静态电气参数测试并将所述静态电气参数测试的第二数据反馈回所述上位机以及根据所述第三控制指令对所述高压栅极驱动芯片进行动态电气参数测试并将所述动态电气参数测试的第三数据反馈回所述上位机，所述上位机根据所述第一数据、所述第二数据以及所述第三数据判定所述高压栅极驱动芯片的性能；以及
高压转换模块，所述高压转换模块的输入端与所述高压栅极驱动芯片的高压侧驱动输出端连接，所述高压转换模块的输出端与所述测试模块连接，所述高压转换模块用于将所述高压栅极驱动芯片的高压侧驱动输出端的高压输出信号转换为目标电压范围内的方波信号后传输到所述测试模块。
2.如权利要求1所述的高压栅极驱动芯...
【专利技术属性】
技术研发人员：李安平，邓瑞祯，王健，王英广，舒雄，孔晓琳，李建强，云星，欧纲，
申请(专利权)人：深圳米飞泰克科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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