一种轨道直线度测量方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种轨道直线度测量方法及其装置，包括以下步骤：步骤1：发射激光；步骤2：拍摄图像；步骤3：校正直线；步骤4：移动载体并拍摄图像；步骤5：处理延时后的图像。本发明专利技术能实现对轨道的直线度的测量，测量方法简单，测量精度高，成本低。

A measurement method and device of track straightness

【技术实现步骤摘要】
一种轨道直线度测量方法及其装置
本专利技术涉及光学检测领域，尤其涉及一种轨道直线度测量方法及其装置。
技术介绍
直线导轨又称线轨、滑轨、线性导轨、线性滑轨，用于直线往复运动场合，且可以承担一定的扭矩，可在高负载的情况下实现高精度的直线运动。按照摩擦性质而定，直线运动导轨可以分为滑动摩擦导轨、滚动摩擦导轨、弹性摩擦导轨、流体摩擦导轨等种类。直线轴承主要用在自动化机械上比较多，像德国进口的机床，折弯机，激光焊接机等等，当然直线轴承和直线轴是配套用的。像直线导轨主要是用在精度要求比较高的机械结构上，直线导轨的移动元件和固定元件之间不用中间介质，而用滚动钢球。滑块-使运动由曲线转变为直线。导轨系统使机床可获得快速进给速度，在主轴转速相同的情况下，快速进给是直线导轨的特点。直线导轨与平面导轨一样，有两个基本元件；一个作为导向的为固定元件，另一个是移动元件。由于直线导轨是标准部件，对机床制造厂来说，唯一要做的只是加工一个安装导轨的平面和校调导轨的平行度。目前，直线导轨精度测量大多采用手工测量或接触式传感器进行测量，手工测量导轨滚道平行度时，将导轨装夹在测量平板的夹具上，将表座与导轨侧基准面和导轨安装平面对齐，并将表头对准导轨滚道面上，然后移动表座进行测量，测量的最大和最小值的差值即为导轨滚道平行度误差，该方法需要繁琐的装夹工作，对试验员素质要求高且测量结果重复性差。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术的目的是提供一种轨道直线度测量方法及其装置。为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种轨道直线度测量方法，包括以下步骤：步骤1：发射激光，控制器控制激光发射器发射激光投射到导轨正前方的接受板上；步骤2：拍摄图像，控制器控制相机打开拍摄接受板上激光发射器发射激光投射的图像；步骤3：校正直线，将拍摄的图像传入处理器处理并重复步骤1和步骤2的步骤来校正激光发射器的位置；步骤4：移动载体并拍摄图像，控制器控制带有激光发射器的载体沿着导轨移动，同时控制相机打开延时拍摄移动时的激光投射的图像；步骤5：处理延时后的图像，将延时拍摄的图像传入处理器处理来判断轨道是否为直线。优选地，所述的一种轨道直线度测量方法，所述处理器为PC。优选地，所述的一种轨道直线度测量方法，所述接受板上设置有预设的准确位置。优选地，所述的一种轨道直线度测量方法，所述激光发射器通过稳定器固设在载体上，所述载体为可在轨道上移动的载体。优选地，所述的一种轨道直线度测量方法，所述步骤5中判断依据是相机拍摄的图像，如果出现一条线，则为导轨发生偏移。优选地，所述的一种轨道直线度测量方法，所述轨道的偏移可通过一条线的反向来判断。一种轨道直线度测量装置，包括操作平台，所述操作平台上设置有导轨，所述导轨上设置有移动的载体，可以沿导轨作直线运动，所述操作平台上设置有接受板，位于轨道的对面设置，所述载体上设置有激光发射器，激光朝向接受板设置，所述操作平台上设置有相机，与接受板相对设置，且将导轨位于中间设置，所述载体上设置有驱动装置，驱动装置与控制器相连，所述控制器还与相机相连设置，所述相机的输出端与处理器相连。借由上述方案，本专利技术至少具有以下优点：本专利技术能实现对轨道的直线度的测量，测量方法简单，测量精度高，成本低。同时采用的设备简单，便于实施和安装，可以在任何地点进行操作，有效的提升了测量的环境。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1是本专利技术的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例如图1所示，一种轨道直线度测量装置，包括操作平台1，所述操作平台1上设置有导轨1，所述导轨2上设置有移动的载体3，可以沿导轨作直线运动，所述操作平台1上设置有接受板4，位于轨道2的对面设置，所述载体3上设置有激光发射器5，激光朝向接受板4设置，所述操作平台1上设置有相机6，与接受板4相对设置，且将导轨2位于中间设置，所述载体3上设置有驱动装置，驱动装置与控制器7相连，所述控制器7还与相机6相连设置，所述相机6的输出端与处理器8相连。本专利技术中所述处理器为PC。一种轨道直线度测量方法，包括以下步骤：步骤1：发射激光，控制器控制激光发射器发射激光投射到导轨正前方的接受板上；步骤2：拍摄图像，控制器控制相机打开拍摄接受板上激光发射器发射激光投射的图像；步骤3：校正直线，将拍摄的图像传入处理器处理并重复步骤1和步骤2的步骤来校正激光发射器的位置；步骤4：移动载体并拍摄图像，控制器控制带有激光发射器的载体沿着导轨移动，同时控制相机打开延时拍摄移动时的激光投射的图像；步骤5：处理延时后的图像，将延时拍摄的图像传入处理器处理来判断轨道是否为直线。本专利技术中所述接受板上设置有预设的准确位置。本专利技术中所述激光发射器通过稳定器固设在载体上，所述载体为可在轨道上移动的载体。本专利技术中所述步骤5中判断依据是相机拍摄的图像，如果出现一条线，则为导轨发生偏移，其中，所述轨道的偏移可通过一条线的反向来判断。实施例一如图1所示，布置测量系统，导轨的正前方设置一块接受板用于接收激光发射器发出的激光，导轨上设置有载体，载体上安装有激光发射器。导轨的另一端设置有相机用于拍摄接受板上的成像。首先校正激光发射器的在载体上的安装位置，以排除激光发射器与导轨的直线度偏差。先将载体置于导轨的起始端，激光发射器安装在载体上，控制器控制激光发射器发射激光投射到导轨正前方的接受板上，同时控制相机打开拍摄成像，将拍摄的图像传入PC进行理器，分析所成像的位置与预设的准确位置是否有偏差，若有偏差则成像位置会偏离预设位置，则进行校正再重复上面的步骤直到成像位置与预设位置匹配，以确保激光发射器在载本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种轨道直线度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤1：发射激光，控制器控制激光发射器发射激光投射到导轨正前方的接受板上；/n步骤2：拍摄图像，控制器控制相机打开拍摄接受板上激光发射器发射激光投射的图像；/n步骤3：校正直线，将拍摄的图像传入处理器处理并重复步骤1和步骤2的步骤来校正激光发射器的位置；/n步骤4：移动载体并拍摄图像，控制器控制带有激光发射器的载体沿着导轨移动，同时控制相机打开延时拍摄移动时的激光投射的图像；/n步骤5：处理延时后的图像，将延时拍摄的图像传入处理器处理来判断轨道是否为直线。/n

【技术特征摘要】
1.一种轨道直线度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1：发射激光，控制器控制激光发射器发射激光投射到导轨正前方的接受板上；
步骤2：拍摄图像，控制器控制相机打开拍摄接受板上激光发射器发射激光投射的图像；
步骤3：校正直线，将拍摄的图像传入处理器处理并重复步骤1和步骤2的步骤来校正激光发射器的位置；
步骤4：移动载体并拍摄图像，控制器控制带有激光发射器的载体沿着导轨移动，同时控制相机打开延时拍摄移动时的激光投射的图像；
步骤5：处理延时后的图像，将延时拍摄的图像传入处理器处理来判断轨道是否为直线。


2.根据权利要求1所述的一种轨道直线度测量方法，其特征在于：所述处理器为PC。


3.根据权利要求1所述的一种轨道直线度测量方法，其特征在于：所述接受板上设置有预设的准确位置。


4.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宁，程文涛，钟才明，符强，周丽娟，米鹏飞，
申请(专利权)人：苏州伟信奥图智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32