一种环状物缺陷检测方法技术

本发明专利技术涉及一种环状物缺陷检测方法，一种环状物缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤S1，在三维坐标体系里生成环状物边缘一圈的点云数据；步骤S2，计算出这些点云中能支撑环状物边缘到一个假定平面的唯一的三个支撑点A、B和C；步骤S3，利用这三个支撑点A、B和C形成一个唯一的平面；步骤S4，计算点云中所有点到这个平面之间的投射距离；步骤S5，判断计算出来的距离是否大于阈值。本发明专利技术可以检测环装物体边缘表面的缺陷，检测方法简单，方便检测，减少人工漏检率和误检率，减少人工成本，检测效率高。

A method of ring defect detection

【技术实现步骤摘要】
一种环状物缺陷检测方法
本专利技术涉及检测
，尤其涉及环状物边缘表面检测相关
，具体涉及一种环状物缺陷检测方法。
技术介绍
缺陷检测通常是指对物品表面缺陷的检测，表面缺陷检测是采用先进的机器视觉检测技术，对工件表面的斑点、凹坑、划痕、色差、缺损等缺陷进行检测。现有技术中对环状物边缘表面平整度的检测，一般是通过人为用不同尺寸的塞规来检测，这种方式下检测人员需要不断插拔塞规和更换塞规，工作量大，而且容易漏检误检，效率低，人工成本高。有鉴于上述的缺陷，本设计人积极加以研究创新，以期创设一种环状物缺陷检测方法，使其更具有产业上的利用价值。
技术实现思路
为解决上述技术问题，如何高效检测环状物的边缘表面缺陷，本专利技术的目的是提供一种环状物缺陷检测方法。为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种环状物缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤S1，在三维坐标体系里生成环状物边缘一圈的点云数据；步骤S2，计算出这些点云中能支撑环状物边缘到一个假定平面的唯一的三个支撑点A、B和C；步骤S3，利用这三个支撑点A、B和C形成一个唯一的平面；步骤S4，计算点云中所有点到这个平面之间的投射距离；步骤S5，判断计算出来的距离是否大于阈值。作为本专利技术的进一步改进，步骤S1和步骤S2，首先在三维坐标体系里生成环状物的三维点云数据，假定有一个虚拟的平面去接触到环状物边缘的三维模型，此时环状物边缘的三维点云中必定有且仅有三个点与该虚拟平面接触，那这三个点就起到了主要支撑的作用，也就是该环状物的重力平衡落脚点A、B和C。作为本专利技术的进一步改进，步骤S3和步骤S4，然后通过数学迭代的方法计算出这三个支撑点A、B和C的具体坐标值，然后再通过数学推导方法通过这三个点计算出一个唯一的平面R，然后再将环状物边缘点云中的其他所有的点投射到这个唯一的平面R上，计算出垂直距离。作为本专利技术的进一步改进，步骤S5，经过统计分析，若有多个点到平面之间的垂直距离大于了检测规定的阈值范围，则说明该环状物边缘的平整度达不到规定的要求，属于残次品。作为本专利技术的进一步改进，步骤S5，若仅有个别点到平面之间的垂直距离超过了阈值范围，则有可能是由于高光或毛刺等因素造成的可以忽略。作为本专利技术的进一步改进，环状物为手机中框或者手机后盖或者手机卡托。借由上述方案，本专利技术至少具有以下优点：本专利技术一种环状物缺陷检测方法，可以检测环装物体边缘表面的缺陷，检测方法简单，方便检测，减少人工漏检率和误检率，减少人工成本，检测效率高。本专利技术可以检测所有环装物体的边缘表面的平整度，不仅仅局限于环状物中框，比如环状物的后盖、卡托，同样适用于平板电脑等其他电子产品内的环装结构。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1是本专利技术一种环状物缺陷检测方法的示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本领域技术人员应理解的是，在本专利技术的揭露中，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系是基于附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本专利技术的限制。可以理解的是，术语“一”应理解为“至少一”或“一或多个”，即在一实施例中，一元件的数量可以为一，而在另外的实施例中，所述元件的数量可以为多个，术语“一”不能理解为对数量的限制。实施例如图1所示，一种环状物缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤S1，在三维坐标体系里生成环状物边缘一圈的点云数据；步骤S2，计算出这些点云中能支撑环状物边缘到一个假定平面的唯一的三个支撑点A、B和C；步骤S3，利用这三个支撑点A、B和C形成一个唯一的平面；步骤S4，计算点云中所有点到这个平面之间的投射距离；步骤S5，判断计算出来的距离是否大于阈值。优选的，步骤S1和步骤S2，首先在三维坐标体系里生成环状物的三维点云数据，假定有一个虚拟的平面去接触到环状物边缘的三维模型，此时环状物边缘的三维点云中必定有且仅有三个点与该虚拟平面接触，那这三个点就起到了主要支撑的作用，也就是该环状物的重力平衡落脚点A、B和C。优选的，步骤S3和步骤S4，然后通过数学迭代的方法计算出这三个支撑点A、B和C的具体坐标值，然后再通过数学推导方法通过这三个点计算出一个唯一的平面R，然后再将环状物边缘点云中的其他所有的点投射到这个唯一的平面R上，计算出垂直距离。优选的，步骤S5，经过统计分析，若有多个点到平面之间的垂直距离大于了检测规定的阈值范围，则说明该环状物边缘的平整度达不到规定的要求，属于残次品。优选的，步骤S5，若仅有个别点到平面之间的垂直距离超过了阈值范围，则有可能是由于高光或毛刺等因素造成的可以忽略。优选的，环状物为手机中框或者手机后盖或者手机卡托。本专利技术第一实施例如图1所示：例如检测环状物为手机中框结构边缘的平整度：首先在三维坐标体系里生成手机中框的三维点云数据，假定有一个虚拟的平面去接触到手机中框边缘的三维模型，此时手机中框边缘的三维点云中必定有且仅有三个点与该虚拟平面接触，那这三个点就起到了主要支撑的作用，也就是该手机中框的重力平衡落脚点，称为支撑点如图1中的A、B和C三点。然后通过数学迭代的方法计算出这三个支撑点的具体坐标值，然后再通过数学推导方法通过这三个点计算出一个唯一的平面R。然后再将手机中框边缘点云中的其他所有的点投射到这个唯一的平面R上，计算出垂直距离。经过统计分析，若有多个点到平面之间的垂直距离大于了检测规定的阈值范围，则说明该本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种环状物缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤S1，在三维坐标体系里生成环状物边缘一圈的点云数据；/n步骤S2，计算出这些点云中能支撑环状物边缘到一个假定平面的唯一的三个支撑点A、B和C；/n步骤S3，利用这三个支撑点A、B和C形成一个唯一的平面；/n步骤S4，计算点云中所有点到这个平面之间的投射距离；/n步骤S5，判断计算出来的距离是否大于阈值。/n

【技术特征摘要】
1.一种环状物缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1，在三维坐标体系里生成环状物边缘一圈的点云数据；
步骤S2，计算出这些点云中能支撑环状物边缘到一个假定平面的唯一的三个支撑点A、B和C；
步骤S3，利用这三个支撑点A、B和C形成一个唯一的平面；
步骤S4，计算点云中所有点到这个平面之间的投射距离；
步骤S5，判断计算出来的距离是否大于阈值。


2.如权利要求1所述的一种环状物缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S1和步骤S2，首先在三维坐标体系里生成环状物的三维点云数据，假定有一个虚拟的平面去接触到环状物边缘的三维模型，此时环状物边缘的三维点云中必定有且仅有三个点与该虚拟平面接触，那这三个点就起到了主要支撑的作用，也就是该环状物的重力平衡落脚点A、B和C。


3.如权利要求1所述的一种环状物缺陷检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宁，程文涛，钟才明，符强，周丽娟，米鹏飞，
申请(专利权)人：苏州伟信奥图智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32