一种移动物体表面缺陷检测方法技术

本发明专利技术尤其涉及一种移动物体表面缺陷检测方法；包括步骤一：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制至少一个处于不同拍摄位置的相机拍摄待测物体表面，获得第1、3、5....n‑1次拍摄记录组成图像；步骤二：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制至少一个处于不同拍摄位置的同一相机拍摄待测物体表面，获得第2、4、6....n次拍摄记录组成的图像；步骤三：处理器对所拍摄的图像进行分析处理；本发明专利技术提供的移动物体表面缺陷检测方法可以检测移动的物体表面缺陷，检测方法简单，方便检测，减少人工漏检率，减少人工成本，提高检测效率。

A detection method for surface defects of moving objects

【技术实现步骤摘要】
一种移动物体表面缺陷检测方法
本专利技术属于光学检测领域，具体涉及一种移动物体表面缺陷检测方法。
技术介绍
现有技术中对物体缺陷的检测，一般是在一定光照下通过人眼观察找出缺陷，这种方式下检测人员的工作量大，容易漏检，人工成本高。传统的表面缺陷检测设备包括待测量的主体，用于照明的光源单元，以及用于捕捉主体图像的检测相机并在经由检测相机捕捉的图像上执行图像处理以确定主体的表面缺陷是否存在。本专利技术所提供的检测方法可以检测移动的物体表面缺陷，检测方法简单，方便检测，减少人工漏检率，减少人工成本，提高检测效率。而且本专利技术可以避免将表面的灰尘当做缺陷造成的错误检测，还可以同时检测到凹凸的缺陷以及表面图案的缺陷。
技术实现思路
为了对移动物体表面的缺陷进行检测，本方法包括以下步骤：步骤一：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制至少一个处于不同拍摄位置的相机拍摄待测物体表面，获得第1、3、5....n-1次拍摄记录组成图像；步骤二：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制至少一个处于不同拍摄位置的同一相机拍摄待测物体表面，获得第2、4、6....n次拍摄记录组成的图像；步骤三：处理器对所拍摄的图像进行分析处理。进一步的，所述步骤一和步骤二中的相机一位于所述待测物体上待测线的正上方。进一步的，所述步骤一和步骤二中的相机二位于所述待测物体上待测线和光源的同一侧。进一步的，所述步骤一和步骤二中的相机三位于与所述相机二相对的位置。进一步的，所述光源和/或者侧边灯为线光灯。进一步的，所述侧边灯设置在待测物体表面一侧和/或另一侧的水平位置。更进一步的，所述侧边灯在待测物体斜上方且与所述待测物体所处的水平面所成的夹角小于15°。进一步的，所述步骤三中的所述处理器将所有所述步骤一中拍摄的图像抽取出来组成第一幅图像，将所述步骤二中所有拍摄出来的图像抽取出来组成第二幅图像，从第二幅图像中排除第一幅图像中的异常点，剩下的异常点即判断为缺陷。进一步的，当步骤一和步骤二中有两个相机，则抽取第1、5、9....n-3次拍摄记录组成第一幅图像、第2、6、10...n-2次拍摄记录组成第二幅图像、第3、7、11...n-1次拍摄记录组成第三幅图像和第4、8、12...n次拍摄记录组成第四幅图像，此时需要从第二幅图像中排除第一幅图像中的异常点，同样需要从第四幅图像中排除第三幅图像中的异常点。进一步的，若步骤一和步骤二中有三个相机，则抽取第1、7、13....n-5次拍摄记录组成第一幅图像、第2、8、14...n-4次拍摄记录组成第二幅图像、第3、9、15...n-3次拍摄记录组成第三幅图像、第4、10、16...n-2次拍摄记录组成第四幅图像、第5、11、17…n-1次拍摄记录组成第五幅图像和第6、12、18…n次拍摄记录组成第六幅图像，此时需要从第二幅图像中排除第一幅图像中的异常点，同样需要从第四幅图像中排除第三幅图像中的异常点，还需要从第六幅图像中拍出第四幅图像中的异常点。借由上述方案，本专利技术至少具有以下优点：用单一相机拍摄可以检测到移动物体表面的缺陷，用多相机组合检测可以更准确的检测到物体表面的多样性缺陷，检测效果更好。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。附图说明图1为本专利技术的结构示意图。11号相机22号相机33号相机4光源5侧边灯6待测物体7待测线具体实施方式下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。实施例一步骤一：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制1号相机拍摄待测物体表面，获得第1、3、5....n-1次拍摄记录组成图像；步骤二：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制1号相机拍摄待测物体表面，获得第2、4、6....n次拍摄记录组成的图像；步骤三：处理器对所拍摄的图像进行分析处理。实施例二步骤一：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制2号相机拍摄待测物体表面，获得第1、3、5....n-1次拍摄记录组成图像；步骤二：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制2号相机拍摄待测物体表面，获得第2、4、6....n次拍摄记录组成的图像；步骤三：处理器对所拍摄的图像进行分析处理。实施例三步骤一：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制3号相机拍摄待测物体表面，获得第1、3、5....n-1次拍摄记录组成图像；步骤二：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制3号相机拍摄待测物体表面，获得第2、4、6....n次拍摄记录组成的图像；步骤三：处理器对所拍摄的图像进行分析处理。实施例四步骤一：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制1号相机拍摄待测物体表面，第1、5、9....n-3次拍摄记录组成第一幅图像；步骤二：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制1号相机拍摄待测物体表面，第2、6、10...n-2次拍摄记录组成第二幅图像；步骤三：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制3号相机拍摄待测物体表面，第3、7、11...n-1次拍摄记录组成第三幅图像；步骤四：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制3号相机拍摄待测物体表面，第4、8、12...n次拍摄记录组成第四幅图像；步骤五：处理器对所拍摄的图像进行分析处理。实施例五步骤一：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制2号相机拍摄待测物体表面，第1、5、9....n-3次拍摄记录组成第一幅图像；步骤二：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制2号相机拍摄待测物体表面，第2、6、10...n-2次拍摄记录组成第二幅图像；步骤三：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制3号相机拍摄待测物体表面，第3、7、11...n-1次拍摄记录组成第三幅图像；步骤四：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制3号相机拍摄待测物体表面，第4、8、12...n次拍摄记录组成第四幅图像；步骤五：处理器对所拍摄的图像进行分析处理。实施例六步骤一：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制1号相机拍摄待测物体表面，第1、7、13....n-5次拍摄记录组成第一幅图像；步骤二：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制1号相机拍摄待测物体表面，第2、8、14...n-4次拍摄记录组成第二幅图像；步骤三：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制2号相机拍摄待测物体表面，第3、9、15...n-3次拍摄记录组成第三幅图像；步骤四：控制器控制光源打开和侧边条关闭，再控制2号相机拍摄待测物体表面，第4、10、16...n-2次拍摄记录组成第四幅图本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种移动物体表面缺陷检测方法，其特征在于包括以下步骤：/n步骤一：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制至少一个处于不同拍摄位置的相机拍摄待测物体表面，获得第1、3、5....n-1次拍摄记录组成图像；/n步骤二：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制至少一个处于不同拍摄位置的同一相机拍摄待测物体表面，获得第2、4、6....n次拍摄记录组成的图像；/n步骤三：处理器对所拍摄的图像进行分析处理。/n

【技术特征摘要】
1.一种移动物体表面缺陷检测方法，其特征在于包括以下步骤：
步骤一：控制器控制光源关闭和侧边灯打开，再控制至少一个处于不同拍摄位置的相机拍摄待测物体表面，获得第1、3、5....n-1次拍摄记录组成图像；
步骤二：控制器控制光源打开和侧边灯关闭，再控制至少一个处于不同拍摄位置的同一相机拍摄待测物体表面，获得第2、4、6....n次拍摄记录组成的图像；
步骤三：处理器对所拍摄的图像进行分析处理。


2.根据权利要求1所述的移动物体表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤一和步骤二中的相机一位于所述待测物体上待测线的正上方。


3.根据权利要求1所述的移动物体表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤一和步骤二中的相机二位于所述待测物体上待测线和光源的同一侧。


4.根据权利要求1所述的移动物体表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤一和步骤二中的相机三位于与所述相机二相对的位置。


5.根据权利要求1所述的移动物体表面缺陷检测方法，其特征在于：所述光源和/或者侧边灯为线光灯。


6.根据权利要求1所述的移动物体表面缺陷检测方法，其特征在于：所述侧边灯设置在待测物体表面一侧和/或另一侧的水平位置。


7.根据权利要求7所述的移动物体表面缺陷检测方法，其特征在于：所述侧边灯在待测物体斜上方且与所述待测物体所处的水平面所成的夹角小于15°。...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宁，程文涛，钟才明，符强，周丽娟，米鹏飞，
申请(专利权)人：苏州伟信奥图智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32