芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片技术

本公开提供一种用于测试多个芯片的芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片，涉及半导体测试技术领域。芯片测试方法包括：对被测芯片输出预设激活指令，使所述被测芯片响应测试指令，所述多个芯片中除所述被测芯片以外的其他芯片停止响应除所述预设激活指令以外的信号；输出所述测试指令，测试所述被测芯片。本公开提供的芯片测试方法可以利用有限的测试信号线测试尽可能多的芯片，且能实现每个芯片的单独测试。

Chip test method, chip test equipment and chip

【技术实现步骤摘要】
芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片
本公开涉及半导体测试
，具体而言，涉及一种芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片。
技术介绍
在相关技术中，对多个芯片进行测试时，为了实现对每个芯片的单独测试，往往需要为每个芯片单独配置片选线。图1是一种相关技术中多芯片测试场景的示意图。参考图1，在图1中，五个被测芯片的片选线各占用一个I/O接口。在测试设备的可用I/O接口有限的情况下，占用I/O接口配置片选线会降低测试设备的测试效率，减少测试设备能够测试的芯片数量，使被测芯片数量受到测试设备I/O接口数量的限制。因此，需要对芯片测试方式进行改进，以提高测试设备能同时连接的芯片的数量，进而提升芯片测试效率。需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本公开的目的在于提供一种用于测试多个芯片的芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片，用于至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的测试芯片数量受芯片测试设备信号引脚数量所限的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试多个芯片的芯片测试方法，所述多个芯片耦接于同一台芯片测试设备，其特征在于，包括：/n对被测芯片输出预设激活指令，使所述被测芯片响应测试指令，所述多个芯片中除所述被测芯片以外的其他芯片停止响应除所述预设激活指令以外的信号；/n输出所述测试指令，测试所述被测芯片。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于测试多个芯片的芯片测试方法，所述多个芯片耦接于同一台芯片测试设备，其特征在于，包括：
对被测芯片输出预设激活指令，使所述被测芯片响应测试指令，所述多个芯片中除所述被测芯片以外的其他芯片停止响应除所述预设激活指令以外的信号；
输出所述测试指令，测试所述被测芯片。


2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述多个芯片共用所述芯片测试设备的控制信号线、地址信号线、片选信号线，所述对所述被测芯片输出预设激活指令包括：
通过对应于每个所述芯片的数据信号线对所述被测芯片输出所述预设激活指令。


3.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述多个芯片共用所述芯片测试设备的控制信号线、地址信号线、片选信号线，每个所述芯片单独与所述芯片测试设备的一组数据信号线耦接，所述预设激活指令包括格式位和状态位；所述对所述被测芯片输出预设激活指令包括：
同时利用所述片选信号线、所述控制信号线、所述地址信号线输出所述预设激活指令的格式位数据；
通过对应于所述被测芯片的数据信号线输出所述预设激活指令的状态位数据。


4.如权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述预设激活指令的状态位数据对应所述数据信号线的首位。


5.如权利要求1至4任一项所述的芯片测试方法，其特征在于，在对所述被测芯片输出所述预设激活指令的同时还包括：
对所述其他芯片输出预设锁指令。


6.如权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，所述预设激活指令和所述预设锁指令均包括格式位和状态位，所述预设锁指令的状态位与所述预设激活指令的状态位按位反相。


7.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，还包括：
在所述芯片测试设备启动和重启时，对所述多个芯片写入所述预设激活指令。


8.一种芯片测试方法，所述芯片耦接于芯片测试设备的控制信号线、片选信号线、地址信号线和数据信号线，其特征在于，包括：
响应数据输入信号，判断输入数据是预设激活指令还是测试指令；
在所述输入数据是所述预设激活指令时，记录响应状态为激活状态；
在所述输入数据是所述测试指令时，如果所述响应状态为所述激活状态，响应所述测试指令，否则停止响应所述测试指令。


9.如权利要求8所述的芯片测试方法，其特征在于，还包括：
在所述输入数据是预设锁指令时，记录所述响应状态为锁定状态。


10.如权利要求8或9所述的芯片测试方法，其特征在于，所述响...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34