一种电子元件检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电子元件检测装置，包括机架、上料装置、检测机构和分拣机构，检测机构上设置有检测轨道，在检测轨道上通过输送装置对电子元件进行抓取输送，从而将电子元件沿检测轨道依次移动至与每组检测探针位置相对应，检测探针可检测电子元件的引脚电极，通过多组检测探针，将电子元件的所有引脚电极组合进行检测。之后电子元件移动至分拣机构上，通过系统控制分拣夹具夹持电子元件移动，如果电子元件存在质量问题，电子元件会在分拣夹具的作用下落入对应的分装箱内，而检测合格的电子元件会被分拣夹具直接输送出去，从而完成检测全过程。通过本方案，检测的过程全程自动化进行，省时省力，节省了大量的人力成本。

A testing device for electronic components

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件检测装置
本技术涉及检测领域，特别是一种电子元件检测装置。
技术介绍
现在在电子领域内，各种电子元件是常用的零部件，这些电子元件大多都是将主要部件先进行封装，然后伸出电极引脚与其他元器件相连从而进行工作。然而存在的一个问题是，在电子元件生产完成后，不能确定电子元件的每个引脚是否都可以导通，如果存在某条引脚无法导通的话，这电子元件就是一个不良品。现有技术中，对电子元件的引脚电极进行检测一般是通过工人手持电极夹，然后对电子元件的引脚进行夹持判定，这种方式会消耗大量人力，而且存在误判的风险。而且判定的速度取决于每个工人的手速和经验。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本技术的目的在于提供一种可以自动对电子元件引脚电极的导通与否进行检测的电子元件检测装置。本技术为解决问题所采用的技术方案是：一种电子元件检测装置，包括：机架；上料装置，所述上料装置位于机架的一侧；检测机构，所述检测机构位于机架上，所述检测机构位于上料装置后方，所述检测机构上设置有一个承料台，所述上料装置用于将电子元件按规定的顺序输送至承料台上；检测轨道，所述检测轨道位于检测机构上，所述承料台可将电子元件按规定方式运输至检测轨道上，所述检测轨道上设置有一输送装置，所述输送装置可抓取电子元件并驱动电子元件在检测轨道上移动，所述检测轨道下方设置有若干组检测探针，每组检测探针可与电子元件不同的引脚组合抵接；分拣机构，所述分拣机构设置于检测机构后方，所述分拣机构上设置有分装箱，所述分拣机构上设置有分拣夹具，所述分拣夹具可带动电子元件在分拣机构上移动至相应的分装箱上，所述分装箱用于分装存在不同问题的电子元件。作为上述技术方案的进一步改进，所述检测探针底部设置有升降结构，所述升降结构用于驱动检测探针上下移动，从而抵接或远离电子元件的引脚。作为上述技术方案的进一步改进，所述上料装置与检测轨道错位布置，所述承料台设置于上料装置与检测轨道之间并可在其间进行往复运动，所述承料台靠近上料装置的一侧设置有至少一个承料槽，所述承料槽用于承接电子元件，所述承料槽的宽度不大于一个电子元件的宽度，承料槽在同一时间内只会与上料装置或检测轨道中的一个相配合，所述承料台的另一侧可封堵所述上料装置的末端。作为上述技术方案的进一步改进，所述输送装置包括：第一夹具，所述第一夹具上设置有至少两组夹持槽，所述夹持槽朝向下方，所述第一夹具可夹持电子元件并限制电子元件向上移动；驱动装置，所述驱动装置可驱动第一夹具移动，所述驱动装置包括：水平驱动器，所述第一夹具位于水平驱动器上，所述水平驱动器可带动第一夹具沿检测轨道的长度方向上移动；垂直驱动器，所述水平驱动器设置于垂直驱动器上，所述垂直驱动器可带动水平驱动器沿竖直方向运动。作为上述技术方案的进一步改进，所述检测轨道包括：骑跨轨道，骑跨轨道两侧设置有依靠轨道，依靠轨道与骑跨轨道之间设置有容置槽，所述电子元件骑跨于所述骑跨轨道上，电子元件的引脚位于所述容置槽内。作为上述技术方案的进一步改进，所述分拣机构包括一条分拣轨道，所述分拣轨道与检测轨道相接洽，所述分拣轨道的一侧或两侧沿长度方向设置有若干活动板，所述活动板与分拣轨道之间形成用于承接电子元件的承接槽，所述电子元件的两侧可承接于承接槽的两侧边，所述活动板可相对分拣轨道做前后运动从而扩大或缩小所述承接槽的宽度，所述分装箱位于所述承接槽下方，所述分装箱上设置有若干分装格，每个分装格与一块活动板相配合。作为上述技术方案的进一步改进，所述分装箱位于机架下方，所述机架上设置有贯通上下的贯通槽，所述分拣轨道位于机架上方。作为上述技术方案的进一步改进，所述分拣夹具包括：驱动器；第二夹具，所述第二夹具设置于驱动器上，所述驱动器可驱动第二夹具夹持电子元件并带动电子元件沿分拣轨道移动。作为上述技术方案的进一步改进，所述第二夹具包括：夹持板，所述夹持板一端连接在驱动器上，所述夹持板另一端开设有若干道夹槽，所述夹槽可将电子元件卡入其中并带动其沿分拣轨道移动。作为上述技术方案的进一步改进，还包括一下料轨道，所述下料轨道与分拣轨道相接洽，所述下料轨道用于输送检测完成后质量达标的电子元件。本技术的有益效果是：通过上料装置将待检测的电子元件运输至承料台上，然后承料台按规定的数量以及时间间隔将电子元件移动运输至检测轨道上，在检测轨道上通过输送装置对电子元件进行抓取输送，从而将电子元件沿检测轨道依次移动至与每组检测探针位置相对应，每组检测探针可检测一种排列组合的电子元件的引脚电极，通过多组检测探针，从而将电子元件的所有引脚电极组合进行检测。之后电子元件移动至分拣机构上，然后通过系统控制分拣夹具夹持电子元件移动，如果电子元件存在质量问题，当分拣夹具夹持电子元件移动至相应的分装箱上方时，电子元件会落入对应的分装箱内，而检测合格的电子元件会被分拣夹具直接输送出去，从而完成检测全过程。通过本方案，使检测的过程全程自动化进行，而且可以对存在不同问题的电子元件进行分类分装，省时省力，节省了大量的人力成本，而且速度更加稳定。附图说明下面结合附图说明和具体实施方式对本技术做进一步解释说明。图1为本技术优选实施方式的结构示意图；图2为本技术优选实施方式除去遮挡门的结构示意图；图3为图2的E处局部放大结构示意图；图4为本技术优选实施方式的正视图；图5为图4的A-A方向剖解面结构示意图；图6为图5的F处局部放大结构示意图；图7为图4的B-B方向剖解面结构示意图；图8为图7的G处局部放大结构示意图；图9为图4的C-C方向剖解面结构示意图；图10为图9的H处局部放大结构示意图；图11为图4的D-D方向剖解面结构示意图；图12为本技术优选实施方式中承料台的结构示意图；图13为本技术优选实施方式中第一夹具的结构示意图；图14为本技术优选实施方式中第二夹具的结构示意图。具体实施方式本部分将详细描述本技术的具体实施例，本技术之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本技术的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本技术保护范围的限制。在本技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件检测装置，其特征在于，包括：机架(50)；上料装置(10)，所述上料装置(10)位于机架(50)的一侧；检测机构(20)，所述检测机构(20)位于机架(50)上，所述检测机构(20)位于上料装置(10)后方，所述检测机构(20)上设置有一个承料台(201)，所述上料装置(10)用于将电子元件(60)按规定的顺序输送至承料台(201)上；检测轨道，所述检测轨道位于检测机构(20)上，所述承料台(201)可将电子元件(60)按规定方式运输至检测轨道上，所述检测轨道上设置有一输送装置，所述输送装置可抓取电子元件(60)并驱动电子元件(60)在检测轨道上移动，所述检测轨道下方设置有若干组检测探针，每组检测探针可与电子元件(60)不同的引脚组合抵接；分拣机构(30)，所述分拣机构(30)设置于检测机构(20)后方，所述分拣机构(30)上设置有分装箱(80)，所述分拣机构(30)上设置有分拣夹具，所述分拣夹具可带动电子元件(60)在分拣机构(30)上移动至相应的分装箱(80)上，所述分装箱(80)用于分装存在不同问题的电子元件(60)。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子元件检测装置，其特征在于，包括：机架(50)；上料装置(10)，所述上料装置(10)位于机架(50)的一侧；检测机构(20)，所述检测机构(20)位于机架(50)上，所述检测机构(20)位于上料装置(10)后方，所述检测机构(20)上设置有一个承料台(201)，所述上料装置(10)用于将电子元件(60)按规定的顺序输送至承料台(201)上；检测轨道，所述检测轨道位于检测机构(20)上，所述承料台(201)可将电子元件(60)按规定方式运输至检测轨道上，所述检测轨道上设置有一输送装置，所述输送装置可抓取电子元件(60)并驱动电子元件(60)在检测轨道上移动，所述检测轨道下方设置有若干组检测探针，每组检测探针可与电子元件(60)不同的引脚组合抵接；分拣机构(30)，所述分拣机构(30)设置于检测机构(20)后方，所述分拣机构(30)上设置有分装箱(80)，所述分拣机构(30)上设置有分拣夹具，所述分拣夹具可带动电子元件(60)在分拣机构(30)上移动至相应的分装箱(80)上，所述分装箱(80)用于分装存在不同问题的电子元件(60)。


2.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述检测探针底部设置有升降结构(71)，所述升降结构(71)用于驱动检测探针上下移动，从而抵接或远离电子元件(60)的引脚。


3.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述上料装置(10)与检测轨道错位布置，所述承料台(201)设置于上料装置(10)与检测轨道之间并可在其间进行往复运动，所述承料台(201)靠近上料装置(10)的一侧设置有至少一个承料槽，所述承料槽用于承接电子元件(60)，所述承料槽的宽度不大于一个电子元件(60)的宽度，承料槽在同一时间内只会与上料装置(10)或检测轨道中的一个相配合，所述承料台(201)的另一侧可封堵所述上料装置(10)的末端。


4.如权利要求1所述的一种电子元件检测装置，其特征在于：所述输送装置包括：第一夹具(202)，所述第一夹具(202)上设置有至少两组夹持槽(203)，所述夹持槽(203)朝向下方，所述第一夹具(202)可夹持电子元件(60)并限制电子元件(60)向上移动；驱动装置(204)，所述驱动装置(204)可驱动第一夹具(202)移动，所述驱动装置(204)包括：水平驱动器(304)，所述第一夹具(202)位于水平驱动器(304)上，所述水平驱动器(304)可带动第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：祝胜光，李江，
申请(专利权)人：电子科技大学中山学院，
类型：新型
国别省市：广东;44