一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构，包括法兰、绝缘体、针管、第一弹簧、导电圆珠、针轴、衬套、第二弹簧、外导体和接触头，所述法兰套接在绝缘体的顶部，所述绝缘体的内部竖直设置有针管，所述针管的内部空腔设置有第一弹簧，所述针管的底部嵌入安装有针轴，该新型结构，可以通过针轴尾端与针管之间的接触进行传导，另外一方面，可以通过导电圆珠与针管的接触进行传导，使得传导效率大幅度的提升，传功过程稳定，从而降低射频头的插损，因此来降低产品的误测率，提高全自动测试产线的设备稼动率；另外，使用这种新型结构，对针管内壁的光洁度要求也会降低，从而提高生产针管的效率和降低加工针管的成本。

A new structure of test RF head for reducing contact resistance of center pin

【技术实现步骤摘要】
一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构
本技术涉及测试射频头
，具体为一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构。
技术介绍
目前市面上的测试射频头，是中心针的尾端采用斜坡结构，在小弹簧的作用下，中心针倾斜，使中心针尾端与针管接触，这样的结构存在以下弊端：1.接触面积偏小，接触电阻大，导致测试射频头的插损(InsertionLoss)偏大，误测率高；2.目前全自动测试生产线在逐步被广泛应用的情况下，射频头的误测率高，直接降低了整条自动化测试线体的稼动率；3.中心针在受到压力，小弹簧在瞬间压缩时，为了中心针不出现不规则的震动，针管的光洁度一定要非常好，所以加工效率比较低，因此成本比较高。所以设计一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构是十分有必要的。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为了解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构，包括法兰、绝缘体、针管、第一弹簧、导电圆珠、针轴、衬套、第二弹簧、外导体和接触头，所述法兰套接在绝缘体的顶部，所述绝缘体的内部竖直设置有针管，所述针管的内部空腔设置有第一弹簧，所述针管的底部嵌入安装有针轴，所述针轴的外侧套接有衬套，所述衬套的外部套接有第二弹簧，所述第二弹簧设置在外导体的内部，所述外导体的底部嵌入安装有接触头。进一步的，所述第一弹簧的底部与针轴的顶部之间设置有导电圆珠。进一步的，所述导电圆珠的直径与针管的内径相同。进一步的，所述针轴的尾部位于接触头内部，且针轴的顶部为斜面。进一步的，所述第二弹簧的底部套接在接触头的顶部。进一步的，所述外导体竖直固定安装在绝缘体的底部。与现有技术相比，本技术所达到的有益效果是：该降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构，可以通过针轴尾端与针管之间的接触进行传导，另外一方面，可以通过导电圆珠与针管的接触进行传导，使得传导效率大幅度的提升，传功过程稳定，从而降低射频头的插损，因此来降低产品的误测率，提高全自动测试产线的设备稼动率；另外，使用这种新型结构，对针管内壁的光洁度要求也会降低，从而提高生产针管的效率和降低加工针管的成本。附图说明附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：图1是本技术的整体结构剖视图；图2是本技术的针管内部结构示意图；图中：1、法兰；2、绝缘体；3、针管；4、第一弹簧；5、导电圆珠；6、针轴；7、衬套；8、第二弹簧；9、外导体；10、接触头。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-2，本技术提供一种技术方案：一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构，包括法兰1、绝缘体2、针管3、第一弹簧4、导电圆珠5、针轴6、衬套7、第二弹簧8、外导体9和接触头10，法兰1套接在绝缘体2的顶部，绝缘体2的内部竖直设置有针管3，针管3的内部空腔设置有第一弹簧4，针管3的底部嵌入安装有针轴6，第一弹簧4的底部与针轴6的顶部之间设置有导电圆珠5，导电圆珠5的直径与针管3的内径相同，针轴6的外侧套接有衬套7，衬套7的外部套接有第二弹簧8，第二弹簧8设置在外导体9的内部，外导体9竖直固定安装在绝缘体2的底部，外导体9的底部嵌入安装有接触头10，针轴6的尾部位于接触头10内部，且针轴6的顶部为斜面，第二弹簧8的底部套接在接触头10的顶部，保证了第二弹簧8压缩伸长时的稳定性；该测试射频头新型结构通过针轴6尾端与针管3之间的接触进行传导，另外一方面，可以通过导电圆珠5与针管3的接触进行传导，使得传导效率大幅度的提升，从而降低射频头的插损；另外，使用这种新型结构，对针管3内壁的光洁度要求也会降低，传动更加稳定。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。最后应说明的是：以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构，包括法兰(1)、绝缘体(2)、针管(3)、第一弹簧(4)、导电圆珠(5)、针轴(6)、衬套(7)、第二弹簧(8)、外导体(9)和接触头(10)，其特征在于：所述法兰(1)套接在绝缘体(2)的顶部，所述绝缘体(2)的内部竖直设置有针管(3)，所述针管(3)的内部空腔设置有第一弹簧(4)，所述针管(3)的底部嵌入安装有针轴(6)，所述针轴(6)的外侧套接有衬套(7)，所述衬套(7)的外部套接有第二弹簧(8)，所述第二弹簧(8)设置在外导体(9)的内部，所述外导体(9)的底部嵌入安装有接触头(10)。/n

【技术特征摘要】
1.一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构，包括法兰(1)、绝缘体(2)、针管(3)、第一弹簧(4)、导电圆珠(5)、针轴(6)、衬套(7)、第二弹簧(8)、外导体(9)和接触头(10)，其特征在于：所述法兰(1)套接在绝缘体(2)的顶部，所述绝缘体(2)的内部竖直设置有针管(3)，所述针管(3)的内部空腔设置有第一弹簧(4)，所述针管(3)的底部嵌入安装有针轴(6)，所述针轴(6)的外侧套接有衬套(7)，所述衬套(7)的外部套接有第二弹簧(8)，所述第二弹簧(8)设置在外导体(9)的内部，所述外导体(9)的底部嵌入安装有接触头(10)。


2.根据权利要求1所述的一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构，其特征在于：所述第一弹簧(4)的底部与...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄鑫，傅依常，傅玉荣，
申请(专利权)人：谷连精密机械深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44