一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头技术方案

本实用新型专利技术提供一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头，其包括第一外导体、第二外导体、法兰、复位弹簧、接触头和针轴，所述复位弹簧套设于第一外导体上，所述复位弹簧的底端安装有第二外导体，所述法兰上端套设于第一外导体上位于复位弹簧的外侧，所述法兰下端套设于第二外导体上，所述第二外导体底部安装有接触头，所述针轴底端位于接触头下侧，所述法兰底端的内侧设有向内凸起的导正凸台，所述法兰上端与所述第一外导体上端设有斜坡结构。本技术方案，其可有效解决现有射频测试头由于中心针轴部分与天线测试系统对位不正，导致中心针轴变形，中心针轴部分的使用寿命不长，中心针轴每次回位的一致性低，误测率高的技术问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头


[0001]本技术涉及射频测试头
，特别涉及一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头。

技术介绍

[0002]随着无线通信系统的发展，天线系统是不可或缺的部分。然而，随着5G技术的发展，有限的空间内，随着工作频率的提高和射频天线数量的增加，天线系统无论在体积，还是性能上的要求越来越高，为此也要求射频测试头在越来越局促的空间中，对于射频测试头自动适配能力提出了更高的要求，同时，当射频测试头测试完毕，恢复原位的重复性要求更加严格，以便于自动产线下一个产品的精准测试。目前市面上的天线测试系统的射频测试头无自动适配结构的射频测试头，没有自动适配或者适配结构不合理的射频测试头，中心针部分需要承担绝大部分的导向功能，中心针势必会出现较为严重的变形情况，大大降低了产品寿命，中心针轴每次回位的一致性低，误测率高。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的在于提出一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头，旨在解决现有解决现有射频测试头由于中心针轴部分与天线测试系统对位不正，导致中心针轴变形，中心针轴部分的使用寿命不长，中心针轴每次回位的一致性低，误测率高的技术问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供的一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头，包括第一外导体、第二外导体、法兰、复位弹簧、接触头和针轴，所述复位弹簧套设于第一外导体上，所述复位弹簧的底端安装有第二外导体，所述法兰上端套设于第一外导体上位于复位弹簧的外侧，所述法兰下端套设于第二外导体上，所述第二外导体底部安装有接触头，所述针轴底端位于接触头下侧，所述法兰底端的内侧设有向内凸起的导正凸台，所述法兰上端与所述第一外导体上端设有斜坡结构。
[0005]进一步地，所述斜坡结构包括第一外导体斜坡和法兰斜坡，所述第一外导体斜坡与所述法兰斜坡相匹配。
[0006]进一步地，所述第一外导体斜坡位于第一外导体的上端，由第一外导体上端向外延伸与竖直方向形成一定夹角的第一外导体斜坡；所述法兰斜坡位于法兰上侧内表面处，由法兰上侧内表面与竖直方向形成一定夹角的法兰斜坡。
[0007]进一步地，所述第一外导体上端向外延伸与竖直方向形成的夹角度数等于法兰上侧内表面与竖直方向形成的夹角度数，夹角度数范围为10
°
到75
°
之间。
[0008]进一步地，所述第二外导体包括第二外导体上端和第二外导体下端，第二外导体上端位于在未工作状态下所述法兰内部，从复位弹簧连接处延伸至法兰的导正凸台上端，第二外导体下端位于导正凸台的下侧，第二外导体上端直径大于第二外导体下端直径，第二外导体上端与第二外导体下端相接处的凸出部分与导正凸台相接。
[0009]进一步地，所述导正凸台位于法兰下侧内表面与第二外导体上端的底部相接，与法兰为一体式结构。
[0010]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0011]1、使用这种新型结构，不仅降低测试治具的制作要求，也减少了天线测试系统的辅助机构，从而降低了天线系统的测试成本。
[0012]2、保证了中心针轴每次回位的一致性，降低误测率，提高测系统的稼动率。
[0013]3、改善了由于中心针轴部分与天线测试系统对位不正，导致的变形，提高了中心针轴部分的使用寿命，从而降低了天线系统的测试成本。
附图说明
[0014]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1为本技术实施例工作状态下的结构示意图。
[0016]图2为本技术实施例未工作状态下结构示意图。
[0017]图3为本技术实施例法兰结构示意图。
[0018]图4为本技术实施例斜坡结构局部放大图。
[0019]图中：1、第一外导体；2、第二外导体；3、法兰；4、复位弹簧；5、接触头；6、针轴；7、斜坡结构；31、导正凸台、71、第一外导体斜坡；72、法兰斜坡。
具体实施方式
[0020]下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步说明。在此需要说明的是，对于这些实施方式的说明用于帮助理解本技术，但并不构成对本技术的限定。此外，下面所描述的本技术各个实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0021]如图1及图2所示，本技术实施例提供一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头，包括第一外导体1、第二外导体2、法兰3、复位弹簧4、接触头5和针轴6，复位弹簧4套设于第一外导体上1，复位弹簧4的底端安装有第二外导体2，法兰3上端套设于第一外导体1上位于复位弹簧4的外侧，法兰3下端套设于第二外导体上2，第二外导体2底部安装有接触头5，针轴6底端位于接触头5下侧，法兰3底端的内侧设有向内凸起的导正凸台31，法兰3 上端与第一外导体上端设有斜坡结构7，这样一来，通过增加斜坡结构7和法兰3底部内表面增加导正凸台31，当接触头5受到压力，复位弹簧4压缩，接触头5、第一外导体1和第二外导体2为一个整体，开始回缩，回缩过导正凸台31后，由于第二外导体下端直径小于第二外导体上端直径，第二外导体下端与法兰的空隙大，可以使第二外导体与第一外导体共同在法兰内部左右摆动可以倾斜一定的角度，接触头5以及针轴6部分便能够自动适配天线测试系统。当测试完毕，接触头5、第一外导体1和第二外导体2，在复位弹簧4作用力下，开始恢复初始位置，斜坡结构7以及法兰3上的凸台结构 31可以保证第一外导体1、第二外导体2、接触头5和中心针轴6 部分的组合体在往复运动中，每次都可以恢复到初始状态，以便于自动产线
下一个产品的精准测试。
[0022]如图3及图4所示，斜坡结构7包括第一外导体斜坡71和法兰斜坡72，第一外导体斜坡71与法兰斜坡72相匹配，第一外导体斜坡71位于第一外导体1的上端，由第一外导体1上端向外延伸与竖直方向形成一定夹角的第一外导体斜坡71，法兰斜坡72位于法兰3 上侧内表面处，由法兰3上侧内表面与竖直方向形成一定夹角的法兰斜坡72，第一外导体1上端向外延伸与竖直方向形成的夹角度数等于法兰3，上侧内表面与竖直方向形成的夹角度数，夹角度数范围为 10
°
到75
°
之间；通过在第一外导体1和法兰3上设置斜坡结构7，保证在测试完毕后，射频测试头中心针部分又能够很好的恢复原位，为下一个产品的测试提供一个良好的初始工作位置。
[0023]如图1及图2所示，第二外导体2包括第二外导体上端和第二外导体下端，第二外导体上端位于在未工作状态下所述法兰3内部，从复位弹簧4连接处延伸至法兰3的导正凸台31上端，第二外导体下端位于导正凸台31的下侧，第二外导体上端直径大于第二外导体下端直径，第二外本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头，其特征在于，包括第一外导体、第二外导体、法兰、复位弹簧、接触头和针轴，所述复位弹簧套设于第一外导体上，所述复位弹簧的底端安装有第二外导体，所述法兰上端套设于第一外导体上位于复位弹簧的外侧，所述法兰下端套设于第二外导体上，所述第二外导体底部安装有接触头，所述针轴底端位于接触头下侧，所述法兰底端的内侧设有向内凸起的导正凸台，所述法兰上端与所述第一外导体上端设有斜坡结构。2.根据权利要求1所述的自动适配结构的天线测试系统射频测试头，其特征在于，所述斜坡结构包括第一外导体斜坡和法兰斜坡，所述第一外导体斜坡与所述法兰斜坡相匹配。3.根据权利要求2所述的自动适配结构的天线测试系统射频测试头，其特征在于，所述第一外导体斜坡位于第一外导体的上端，由第一外导体上端向外延伸与竖直方向形成一定夹角的第一外导体斜坡；所述法兰斜坡位于法兰上侧内表面处，由法兰上侧内表面与竖...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴晓洁，黄鑫，傅玉荣，傅依常，
申请(专利权)人：谷连精密机械深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：