一体式测试探针及测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种一体式测试探针及测试设备，包括连接测试设备的上接触部、连接待测产品的下接触部及位于所述上接触部和下接触部之间的弹性继电部；所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部沿所述测试探针的长度方向顺序连接；所述上接触部包括至少一个接触凸起，所述下接触部包括至少一个针头，所述接触凸起和所述针头均为沿所述测试探针的长度方向延伸，所述弹性继电部的弹力方向与所述接触凸起或所述针头的延伸方向相同；所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部的材质相同，且为一体成形。本实用新型专利技术的一体式测试探针及测试设备，能承载测试中需要的大电流。

Integrated test probe and test equipment

【技术实现步骤摘要】
一体式测试探针及测试设备
本技术涉及测试技术，特别是涉及一种一体式测试探针及测试设备。
技术介绍
随着集成电路集成规模的扩大和时钟频率的提高，信号连接线上的互连效应已成为影响电路信号完整性以及系统整体性能的主要因素。在高速电路中，由于趋肤效应，边缘效应以及衬底损耗等因素的影响，互连线的分布参数随频率变化的现象越来越普遍。对测试技术的要求也越来越高。如图1所示，现有集成电路测试装置中所采用的传统测试探针一般由上针杆、下针杆、针管和弹簧4个零部件组装而成，传统测试探针在测试时，针头靠弹簧的预压缩力与针管接触，压缩时会有一定的摩擦，影响测试探针使用寿命，针头与针管的接触为活动式接触，接触电阻比较大且不稳定，无法承载测试中需要的大电流。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提供一种一体式测试探针及测试设备，能承载测试中需要的大电流。为达到上述目的，本技术的技术方案如下：本技术提供了一种一体式测试探针，所述测试探针包括连接测试设备的上接触部、连接待测产品的下接触部及位于所述上接触部和下接触部之间的弹性继电部；所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部沿所述测试探针的长度方向顺序连接；所述上接触部包括至少一个接触凸起，所述下接触部包括至少一个针头，所述接触凸起和所述针头均为沿所述测试探针的长度方向延伸，所述弹性继电部的弹力方向与所述接触凸起或所述针头的延伸方向相同；所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部的材质相同，且为一体成形。优选的，所述弹性继电部包括至少三条沿所述测试探针的长度方向间隔预设距离、均匀排列的弹性条，所述弹性条的长度方向垂直于所述测试探针的长度方向，至少三条所述弹性条在所述测试探针的长度方向相互交错连接而成，且为一体成形。优选的，所述弹性条包括在其长度方向的中部的至少一个折弯部，所述折弯部的弯曲方向为所述测试探针的长度方向。优选的，所述折弯部为顶点朝针头方向延伸的钝角，所述钝角的角度为大于90°、小于160°。优选的，所述弹性条在其宽度方向的中部还开设有镂空槽，所述镂空槽在所述弹性条的厚度方向贯通所述弹性条。优选的，所述上接触部包括两个均匀排布的接触凸起，所述下接触部包括一个针头。优选的，所述下接触部还包括至少一个加强筋，所述加强筋的长度方向垂直于所述测试探针的长度方向。优选的，所述相邻两个所述弹性条的连接处均为圆弧连接。本技术还提供了一种测试设备，所述测试设备包括测试电路板和上面所述的任意一种一体式测试探针，所述一体式测试探针的上接触部连接所述测试电路板。通过上述技术方案，本技术的一体式测试探针及测试设备，一体化设计，接触电阻更小，能承载测试中需要的大电流。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。图1为现有技术中的传统测试探针示意图；图2为本技术实施例一一体式测试探针的示意图；图3为本技术实施例一一体式测试探针中弹性继电部的局部放大图的示意图；图4为本技术实施例一一体式测试探针中针头的多种结构形式中的C型；图5为本技术实施例一一体式测试探针中针头的多种结构形式中的D型；图6为本技术实施例一一体式测试探针中针头的多种结构形式中的E型；图7为本技术实施例一一体式测试探针中针头的多种结构形式中的F型；图8为本技术实施例一一体式测试探针中针头的多种结构形式中的I型；图9为本技术实施例二测试设备的示意图。具体实施方式本技术实施例提供了一种一体式测试探针，所述测试探针包括连接测试设备的上接触部、连接待测产品的下接触部及位于所述上接触部和下接触部之间的弹性继电部；所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部沿所述测试探针的长度方向顺序连接；所述上接触部包括至少一个接触凸起，所述下接触部包括至少一个针头，所述接触凸起和所述针头均为沿所述测试探针的长度方向延伸，所述弹性继电部的弹力方向与所述接触凸起或所述针头的延伸方向相同；所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部的材质相同，且为一体成形。本技术还提供了测试设备，所述测试设备包括上面所述的任意一种一体式测试探针。本技术的一体式测试探针及测试设备，一体化设计，接触电阻更小，能承载测试中需要的大电流。另外，一体式的结构设计，也减少接触摩擦，使测试探针的使用寿命更长。下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。实施例一图2为本技术实施例一一体式测试探针的示意图，如图2所示，所述测试探针包括连接测试设备的上接触部10、连接待测产品的下接触部20及位于所述上接触部10和下接触部20之间的弹性继电部30；所述上接触部10、所述弹性继电部30和所述下接触部20沿所述测试探针的长度方向顺序连接；所述上接触部10包括两个接触凸起101，所述下接触部20包括一个针头201，所述接触凸起101和所述针头201均为沿所述测试探针的长度方向延伸，所述弹性继电部30的弹力方向与所述接触凸起101或所述针头201的延伸方向相同；能够理解，所述接触凸起101设置两个是优选方式，也可以是一个或两个以上，所述针头201设置一个是优选方式，也可以是两个或两个以上。所述上接触部10、所述弹性继电部30和所述下接触部20的材质相同，且为一体成形。由于是一体成形，接触电阻更小，能承载测试中需要的大电流，本实施例中，可以承载3A的大电流。另外，一体式的结构设计，也减少接触摩擦，使测试探针的使用寿命更长，一般使用寿命可达到常规探针的5倍以上。并且一体化的设计，一次加工成型，不需要繁琐的组装工序，也不需要组装设备，大大提高了生产效率，节约人力成本，节约设备损耗成本。其中，一体式测试探针是采用电铸的工艺制作的，材质表面硬度≥450HV，且采用电铸工艺制作，针头201厚度可控制在0.1mm以内，可用于测试点间距小于或等于0.1mm的集成电路。另外，电铸完成后，表面还会作镀金处理，防止氧化，增加产品的稳定性。另外，如图4-8所示，针头可以选择多种形状，以便适应不同的待测产品。本实施例的探针对比一般弹簧探针结构更简单、体积更小、更容易加工、成本更低。其中，所述弹性继电部30包括五条沿所述测试探针的长度方向间隔预设距离、均匀排列的弹性条301，所述弹性条301的长度方向垂直于所述测试探针的长度方向，五条所述弹性条301在所述测试探针的长度方向相互交错连接而成，且为一体成形。即第一条的右边连接第二条的右边，第二条的左边连接第三条的左边，第三条的右边连接第四条的右边，依次类推。这样，便于与上接触部10和下接触部20一体成形制作；这里，弹性条301的宽度方向为所述测试探针的长度方向，所述弹性条301的宽度越大，弹力越大；能够理解，也可以是其它产生弹力，且能与上接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种一体式测试探针，其特征在于，所述测试探针包括连接测试设备的上接触部、连接待测产品的下接触部及位于所述上接触部和下接触部之间的弹性继电部；所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部沿所述测试探针的长度方向顺序连接；/n所述上接触部包括至少一个接触凸起，所述下接触部包括至少一个针头，所述接触凸起和所述针头均为沿所述测试探针的长度方向延伸，所述弹性继电部的弹力方向与所述接触凸起或所述针头的延伸方向相同；/n所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部的材质相同，且为一体成形。/n

【技术特征摘要】
1.一种一体式测试探针，其特征在于，所述测试探针包括连接测试设备的上接触部、连接待测产品的下接触部及位于所述上接触部和下接触部之间的弹性继电部；所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部沿所述测试探针的长度方向顺序连接；
所述上接触部包括至少一个接触凸起，所述下接触部包括至少一个针头，所述接触凸起和所述针头均为沿所述测试探针的长度方向延伸，所述弹性继电部的弹力方向与所述接触凸起或所述针头的延伸方向相同；
所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部的材质相同，且为一体成形。


2.如权利要求1所述的一体式测试探针，其特征在于，所述弹性继电部包括至少三条沿所述测试探针的长度方向间隔预设距离、均匀排列的弹性条，所述弹性条的长度方向垂直于所述测试探针的长度方向，至少三条所述弹性条在所述测试探针的长度方向相互交错连接而成，且为一体成形。


3.如权利要求2所述的一体式测试探针，其特征在于，所述弹性条包括在其长度方向的中部的至少一个折弯部，所述折弯部的弯曲方向为所述测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：费保兴，刘达，杨亚坤，周嘉伟，黄绍伟，
申请(专利权)人：太仓比泰科自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32