【技术实现步骤摘要】
一体式测试探针及测试设备
本技术涉及测试技术，特别是涉及一种一体式测试探针及测试设备。
技术介绍
随着集成电路集成规模的扩大和时钟频率的提高，信号连接线上的互连效应已成为影响电路信号完整性以及系统整体性能的主要因素。在高速电路中，由于趋肤效应，边缘效应以及衬底损耗等因素的影响，互连线的分布参数随频率变化的现象越来越普遍。对测试技术的要求也越来越高。如图1所示，现有集成电路测试装置中所采用的传统测试探针一般由上针杆、下针杆、针管和弹簧4个零部件组装而成，传统测试探针在测试时，针头靠弹簧的预压缩力与针管接触，压缩时会有一定的摩擦，影响测试探针使用寿命，针头与针管的接触为活动式接触，接触电阻比较大且不稳定，无法承载测试中需要的大电流。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提供一种一体式测试探针及测试设备，能承载测试中需要的大电流。为达到上述目的，本技术的技术方案如下：本技术提供了一种一体式测试探针，所述测试探针包括连接测试设备的上接触部、连接待测产品的下接触部及位于所述上接触部和下接触部...
【技术保护点】
1.一种一体式测试探针，其特征在于，所述测试探针包括连接测试设备的上接触部、连接待测产品的下接触部及位于所述上接触部和下接触部之间的弹性继电部；所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部沿所述测试探针的长度方向顺序连接；/n所述上接触部包括至少一个接触凸起，所述下接触部包括至少一个针头，所述接触凸起和所述针头均为沿所述测试探针的长度方向延伸，所述弹性继电部的弹力方向与所述接触凸起或所述针头的延伸方向相同；/n所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部的材质相同，且为一体成形。/n
【技术特征摘要】
1.一种一体式测试探针，其特征在于，所述测试探针包括连接测试设备的上接触部、连接待测产品的下接触部及位于所述上接触部和下接触部之间的弹性继电部；所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部沿所述测试探针的长度方向顺序连接；
所述上接触部包括至少一个接触凸起，所述下接触部包括至少一个针头，所述接触凸起和所述针头均为沿所述测试探针的长度方向延伸，所述弹性继电部的弹力方向与所述接触凸起或所述针头的延伸方向相同；
所述上接触部、所述弹性继电部和所述下接触部的材质相同，且为一体成形。
2.如权利要求1所述的一体式测试探针，其特征在于，所述弹性继电部包括至少三条沿所述测试探针的长度方向间隔预设距离、均匀排列的弹性条，所述弹性条的长度方向垂直于所述测试探针的长度方向，至少三条所述弹性条在所述测试探针的长度方向相互交错连接而成，且为一体成形。
3.如权利要求2所述的一体式测试探针，其特征在于，所述弹性条包括在其长度方向的中部的至少一个折弯部，所述折弯部的弯曲方向为所述测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：费保兴，刘达，杨亚坤，周嘉伟，黄绍伟，
申请(专利权)人：太仓比泰科自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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