全行程式射频测试头制造技术

技术编号:20720861 阅读:41 留言:0更新日期:2019-03-30 16:53
本实用新型专利技术提供了一种全行程式射频测试头,涉及射频测试领域,包括外壳、第一绝缘体、第二绝缘体、针管、第一弹簧、针轴、第三绝缘体、第二弹簧以及接触头;第一绝缘体和第二绝缘体固定在外壳内;针管包括安插部和容置部,安插部安插在第一绝缘体内,容置部安插在第二绝缘体内;针轴的一端位于容置部内,另一端从容置部内探出;第一弹簧安装在针轴与容置部之间;接触头固定在外壳的一端,第三绝缘体位于接触头内,针轴从容置部内探出的一端位于第三绝缘体内。本实用新型专利技术将一体结构的绝缘体分成三个相互独立的部分,对于绝缘体不同直径的部分可以采取分段加工的方式,成品率增高,也降低了生产成本。

【技术实现步骤摘要】
全行程式射频测试头
本技术涉及受射频测试领域,尤其是涉及一种全行程式射频测试头。
技术介绍
随着射频测试行业的发展,射频测试头要求在越来越局促的空间内容纳越来越小的互连,测试要求也越来越高,改善测试射频头的测试运行过程的运动传导部分方式已成必然趋势。但是,在现有技术中的射频测试头使用过程中,采用非全行程的驻波比等各项指标的一致性和稳定性达不到理论要求。原因在于,上述产品存在着如下的问题和缺陷:1.现有技术中的射频测试头因体积小,为了保证接触头的轴向往复运动,非全行程结构是将接触头内腔绝缘体和针管部分的绝缘体做成了一体式结构,在实际使用过程中,接触头部部分的阻抗匹配混乱,驻波等参数会随着轴向运动而变化,影响使用效果;而且,由于存在粗端和细长端,一体结构的绝缘体加工难度大,废品率高;2.现有技术中的射频测试头,大弹簧在轴向往复运动过程中会发生弯曲现象,造成大弹簧无法发挥设计性能;3.现有技术中的射频测试头,针轴、绝缘体过于细长且尺寸过渡较大,加工难度增大,不但使生产过程中的报废率增高,成本增加,也间接导致了存储难度加大、生产过程中损耗率增高,综合成本得不到有效的控制。综上所述,非全行程的运动传导方式,不仅对产品各零部件有较高的加工要求,也对产品生产、检验、存储等环节提出了更高的要求,导致产品的生产难度大,成本高。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种全行程式射频测试头,采用分离式绝缘体设计,能够降低生产难度,提高产品的合格率。为解决上述问题,本技术提供的一种全行程式射频测试头,包括外壳、第一绝缘体、第二绝缘体、针管、第一弹簧、针轴、第三绝缘体、第二弹簧以及接触头;所述第一绝缘体和第二绝缘体固定在外壳内;所述针管包括安插部和容置部,所述安插部安插在第一绝缘体内,所述容置部安插在所述第二绝缘体内;所述针轴的一端位于容置部内,另一端从容置部内探出;所述第一弹簧安装在针轴与容置部之间;所述接触头固定在外壳的一端,所述第三绝缘体位于接触头内,所述针轴从容置部内探出的一端位于第三绝缘体内。在上述技术方案中,进一步的,所述针轴包括滑动部、粗径部以及细径部;所述滑动部位于针管的容置部内,所述粗径部穿过第二绝缘体,所述细径部位于第三绝缘体内。在上述技术方案中,进一步的,还包括衬套,所述衬套安装在外壳内,位于第二绝缘体和接触头之间,所述第二弹簧的一端抵在衬套上。在上述技术方案中,进一步的,所述外壳包括法兰和主壳体,所述法兰和主壳体通过螺纹连接。在上述技术方案中,进一步的,所述接触头包括一体成型的弹簧安插段、粗径段和头段,所述粗径段固定在外壳的一端,所述弹簧安插段用于固定第二弹簧,所述头段从外壳内探出。相较于现有技术,本技术提供的全行程式射频测试头,将现有技术中一体结构的绝缘体分成三个相互独立的部分,针管的安插部安插在第一绝缘体内,针管的容置部安插在所述第二绝缘体内,针轴从容置部内探出的一端位于第三绝缘体内;对于绝缘体不同直径的部分可以采取分段加工的方式,成品率增高,也降低了生产成本。本技术的附加方面和优点将在下面的描述部分中变得明显,或通过本技术的实践了解到。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本技术的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术提供的全行程式射频测试头的结构示意图。图2为本技术提供的全行程式射频测试头的针管的结构示意图。图3为本技术提供的全行程式射频测试头的针轴的结构示意图。附图标记:11-外壳;12-第一绝缘体;13-第二绝缘体;14-针管;15-第一弹簧;16-针轴;17-第三绝缘体;18-第二弹簧;19-接触头;20-衬套;111-法兰;112-主壳体;141-安插部;142-容置部;161-滑动部;162-粗径部;163-细径部。具体实施方式下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。图1为本技术提供的全行程式射频测试头的结构示意图。图2为本技术提供的全行程式射频测试头的针管的结构示意图。参阅图1和图2,本技术提供的全行程式射频测试头,包括外壳11、第一绝缘体12、第二绝缘体13、针管14、第一弹簧15、针轴16、第三绝缘体17、第二弹簧18以及接触头19;所述第一绝缘体12和第二绝缘体13固定在外壳11内;所述针管14包括安插部141和容置部142,所述安插部141安插在第一绝缘体12内,所述容置部142安插在所述第二绝缘体13内;所述针轴16的一端位于容置部142内,另一端从容置部142内探出;所述第一弹簧15安装在针轴16与容置部142之间;所述接触头19固定在外壳11的一端,所述第三绝缘体17位于接触头19内,所述针轴16从容置部142内探出的一端位于第三绝缘体17内。相较于现有技术,本技术提供的全行程式射频测试头,将现有技术中一体结构的绝缘体分成三个相互独立的部分,针管14的安插部141安插在第一绝缘体12内,针管14的容置部142安插在所述第二绝缘体13内,针轴16从容置部142内探出的一端位于第三绝缘体17内;对于绝缘体不同直径的部分可以采取分段加工的方式,成品率增高,也降低了生产成本。图3为本技术提供的全行程式射频测试头的针轴16的结构示意图。参阅图3,本技术提供的全行程式射频测试头,所述针轴16包括滑动部161、粗径部162以及细径部163;所述滑动部161位于针管14的容置部142内,所述粗径部162穿过第二绝缘体13,所述细径部163位于第三绝缘体17内。第三绝缘体17套入接触头19中,组合成阻抗匹配的接触头19组合体,在使用过程中接触头19组合体往复运动,当接触头19组合体受压到一定程度,接触到针轴16上粗径部162和细径部163之间的台阶面后,带动针轴16在针管14和衬套20内腔中同时运动。在现有技术中,接触头19运动到一定距离后,不再运动,只有针轴16保持运动本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种全行程式射频测试头,其特征在于,包括外壳、第一绝缘体、第二绝缘体、针管、第一弹簧、针轴、第三绝缘体、第二弹簧以及接触头;所述第一绝缘体和第二绝缘体固定在外壳内;所述针管包括安插部和容置部,所述安插部安插在第一绝缘体内,所述容置部安插在所述第二绝缘体内;所述针轴的一端位于容置部内,另一端从容置部内探出;所述第一弹簧安装在针轴与容置部之间;所述接触头固定在外壳的一端,所述第三绝缘体位于接触头内,所述针轴从容置部内探出的一端位于第三绝缘体内。

【技术特征摘要】
1.一种全行程式射频测试头,其特征在于,包括外壳、第一绝缘体、第二绝缘体、针管、第一弹簧、针轴、第三绝缘体、第二弹簧以及接触头;所述第一绝缘体和第二绝缘体固定在外壳内;所述针管包括安插部和容置部,所述安插部安插在第一绝缘体内,所述容置部安插在所述第二绝缘体内;所述针轴的一端位于容置部内,另一端从容置部内探出;所述第一弹簧安装在针轴与容置部之间;所述接触头固定在外壳的一端,所述第三绝缘体位于接触头内,所述针轴从容置部内探出的一端位于第三绝缘体内。2.根据权利要求1所述的全行程式射频测试头,其特征在于,所述针轴包括滑动部、粗径部以及细...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄鑫傅依常傅玉荣
申请(专利权)人:谷连精密机械深圳有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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