一种精密测试探针用铍青铜底柱头制造技术

本实用新型专利技术公开了一种精密测试探针用铍青铜底柱头，包括绝缘外壳、连接头和限位板，所述绝缘外壳顶端固定连接有连接头，所述绝缘外壳内部固定设有底柱头，所述底柱头底端活动连接有连接杆，所述连接杆外围固定设有伸缩弹簧，所述伸缩弹簧顶端固定连接有绝缘板，所述绝缘板顶端固定连接有一号连接片，所述连接杆顶端固定连接有二号连接片，所述二号连接片外围固定连接有绝缘套，所述二号连接片顶端固定连接有导电杆，所述绝缘套一侧固定连接有滑动杆，所述绝缘套底端固定连接有固定杆。本实用新型专利技术设计新颖，结构简单，具有良好的导电性和耐磨性，使其不易发生损坏，大大的提升了测试探针的准确度和使用寿命，较为实用适合被广泛推广和使用。

A Beryllium Bronze Base Pillar for Precision Test Probe

The utility model discloses a beryllium bronze base column head for precision test probe, which comprises an insulating shell, a connecting head and a limit plate. The top of the insulating shell is fixed with a connecting head, the bottom of the insulating shell is fixed with a bottom column head, the bottom end of the bottom column head is movably connected with a connecting rod, and the outer part of the connecting rod is fixed with a telescopic spring, and the top end of the telescopic spring is fixed with a connecting rod. There is an insulating plate, the top of the insulating plate is fixedly connected with a connecting piece No. 1, the top of the connecting rod is fixedly connected with a connecting piece No. 2, the outer periphery of the connecting piece No. 2 is fixedly connected with an insulating sleeve, the top of the connecting piece No. 2 is fixedly connected with a conducting rod, the one side of the insulating sleeve is fixedly connected with a sliding rod, and the bottom end of the insulating sleeve is fixedly connected The utility model has novel design, simple structure, good conductivity and wear resistance, which makes it not easy to be damaged, greatly improves the accuracy and service life of the test probe, and is more practical and suitable for wide promotion and use.

【技术实现步骤摘要】
一种精密测试探针用铍青铜底柱头
本技术涉及一种测试探针，特别涉及一种精密测试探针用铍青铜底柱头。
技术介绍
近年来，大数据越来越普及，芯片作为数据传输处理的载体，其性能往往影响到整个电子设备的执行能力，为确保芯片的正常运行，在芯片安装之前必须采用测试探针对芯片进行检测。而现有的检测探针不具有良好的导电性能，从而使测试探针在工作时较为容易出现误差，严重的影响到测试探针准确度，同时不具有良好的保护作用，使其较为容易出现损坏，已经满足不了人们的需求，为此，我们提出一种精密测试探针用铍青铜底柱头。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种精密测试探针用铍青铜底柱头，设计新颖，结构简单，具有良好的导电性和耐磨性，使其不易发生损坏，大大的提升了测试探针的准确度和使用寿命，较为实用适合被广泛推广和使用，可以有效解决
技术介绍
中的问题。为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：一种精密测试探针用铍青铜底柱头，包括绝缘外壳、连接头和限位板，所述绝缘外壳顶端固定连接有连接头，所述绝缘外壳内部固定设有底柱头，所述底柱头底端活动连接有连接杆，所述连接杆外围固定设有伸缩弹簧，所述伸缩弹簧顶端固定连接有绝缘板，所述绝缘板顶端固定连接有一号连接片，所述连接杆顶端固定连接有二号连接片，所述二号连接片外围固定连接有绝缘套，所述二号连接片顶端固定连接有导电杆，所述绝缘套一侧固定连接有滑动杆，所述绝缘套底端固定连接有固定杆。进一步地，所述绝缘套顶端固定设有限位板，所述连接头内部固定连接有连接件，所述连接头内侧壁固定设有内螺纹。进一步地，所述绝缘外壳内侧壁固定设有滑动槽，所述滑动槽底端固定设有固定孔。进一步地，所述绝缘套通过滑动杆和滑动槽与绝缘外壳内侧壁滑动连接，所述绝缘套通过固定杆和固定孔与绝缘外壳内侧壁滑动连接，所述绝缘板和一号连接片滑动连接，所述限位板与绝缘外壳内侧壁固定连接。进一步地，所述二号连接片通过导电杆与一号连接片电性连接，所述一号连接片通过导线与连接件电性连接，所述底柱头为铍青铜制作的底柱头。与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：1.通过推动滑动杆，可以使绝缘套带动固定杆向下移动，同时绝缘板会对伸缩弹簧进行压缩，使底柱头显露在绝缘外壳外侧，以便于操作人员对测试探针进行使用。2.通过按动滑动杆使其推动固定杆脱离固定孔内部，在固定杆脱离固定孔内部后，伸缩弹簧会推动绝缘板向上移动，使其带动连接杆进行复位，从而可以使底柱头进入绝缘外壳内部，以便于对底柱头进行良好的保护，防止底柱头遭到破坏，避免影响到操作人员对测试谭针的使用。3.通过铍青铜制作底柱头，具有良好的耐腐性、导热性和导电性，同时还具有很高的硬度和耐磨性，使自身不易发生损坏，同时可以提升测试谭针对芯片的测试准确度，较为实用。附图说明图1为本技术一种精密测试探针用铍青铜底柱头的整体结构示意图。图2为本技术一种精密测试探针用铍青铜底柱头的绝缘外壳内部结构示意图。图3为本技术一种精密测试探针用铍青铜底柱头的滑动槽结构示意图。图中：1、绝缘外壳；2、连接头；3、底柱头；4、连接杆；5、伸缩弹簧；6、绝缘板；7、一号连接片；8、二号连接片；9、绝缘套；10、导电杆；11、滑动杆；12、固定杆；13、限位板；14、连接件；15、内螺纹；16、滑动槽；17、固定孔。具体实施方式为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。如图1-3所示，一种精密测试探针用铍青铜底柱头，包括绝缘外壳1、连接头2和限位板13，所述绝缘外壳1顶端固定连接有连接头2，所述绝缘外壳1内部固定设有底柱头3，所述底柱头3底端活动连接有连接杆4，所述连接杆4外围固定设有伸缩弹簧5，所述伸缩弹簧5顶端固定连接有绝缘板6，所述绝缘板6顶端固定连接有一号连接片7，所述连接杆4顶端固定连接有二号连接片8，所述二号连接片8外围固定连接有绝缘套9，所述二号连接片8顶端固定连接有导电杆10，所述绝缘套9一侧固定连接有滑动杆11，所述绝缘套9底端固定连接有固定杆12。本实施例中如图2所示，通过底柱头3具有良好的耐腐性、导热性和导电性，同时还具有很高的硬度和耐磨性，使自身不易发生损坏。其中，所述绝缘套9顶端固定设有限位板13，所述连接头2内部固定连接有连接件14，所述连接头2内侧壁固定设有内螺纹15。本实施例中如图1所示，通过连接头2和内螺纹15的结合，便于操作人员将测试探针对外部装置进行固定。其中，所述绝缘外壳1内侧壁固定设有滑动槽16，所述滑动槽16底端固定设有固定孔17。本实施例中如图3所示，通过滑动槽16便于滑动杆11在绝缘外壳1内部进行滑动。其中，所述绝缘套9通过滑动杆11和滑动槽16与绝缘外壳1内侧壁滑动连接，所述绝缘套9通过固定杆12和固定孔17与绝缘外壳1内侧壁滑动连接，所述绝缘板6和一号连接片7滑动连接，所述限位板13与绝缘外壳1内侧壁固定连接。本实施例中如图2所示，通过推动滑动杆11，可以使绝缘套9带动固定杆12向下移动。其中，所述二号连接片8通过导电杆10与一号连接片7电性连接，所述一号连接片7通过导线与连接件14电性连接，所述底柱头3为铍青铜制作的底柱头。本实施例中如图2所示，通过一号连接片7和连接件14的结合，从而可以使测试探针与外部装置进行连接。需要说明的是，本技术为一种精密测试探针用铍青铜底柱头，工作时，本专利技术1、绝缘外壳；2、连接头；3、底柱头；4、连接杆；5、伸缩弹簧；6、绝缘板；7、一号连接片；8、二号连接片；9、绝缘套；10、导电杆；11、滑动杆；12、固定杆；13、限位板；14、连接件；15、内螺纹；16、滑动槽；17、固定孔，部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知，本专利技术操作人员通过推动滑动杆11，从而可以使绝缘套9带动固定杆12向下移动，同时绝缘板6会对伸缩弹簧5进行压缩，使底柱头3显露在绝缘外壳1外侧，当固定杆12移动到一定位置时，会与固定孔17相结合，从而可以将连接杆4进行固定，以便于操作人员对测试探针进行使用，使其对芯片进行检测，其中当连接杆4进行固定后，导电杆10会与一号连接片7进行接触，使其进行通电，且一号连接片7通过导线与连接件14电性连接，从而可以使测试探针与外部装置进行结合，以便于使测试探针进行正常运转，其中，通过连接头2和内螺纹15的结合，便于操作人员将测试探针对外部装置进行固定，从而便于操作人员对测试探针进行操作，较为实用，当操作人员使用完毕后，可以通过按动滑动杆11使其推动固定杆12脱离固定孔17内部，在固定杆12脱离固定孔17内部后，伸缩弹簧5会推动绝缘板6向上移动，使其带动连接杆4进行复位，从而可以使底柱头3进入绝缘外壳1内部，以便于对底柱头3进行良好的保护，防止底柱头3遭到破坏，避免影响到操作人员对测试谭针的使用，其中底柱头3为铍青铜制作，具有良好的耐腐性、导热性和导电性，同时还具有很高的硬度和耐磨性，使自身不易发生损坏，同时可以提升测试谭针对芯片的测试准确度，较为实用。以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种精密测试探针用铍青铜底柱头，包括绝缘外壳（1）、连接头（2）和限位板（13），所述绝缘外壳（1）顶端固定连接有连接头（2），其特征在于：所述绝缘外壳（1）内部固定设有底柱头（3），所述底柱头（3）底端活动连接有连接杆（4），所述连接杆（4）外围固定设有伸缩弹簧（5），所述伸缩弹簧（5）顶端固定连接有绝缘板（6），所述绝缘板（6）顶端固定连接有一号连接片（7），所述连接杆（4）顶端固定连接有二号连接片（8），所述二号连接片（8）外围固定连接有绝缘套（9），所述二号连接片（8）顶端固定连接有导电杆（10），所述绝缘套（9）一侧固定连接有滑动杆（11），所述绝缘套（9）底端固定连接有固定杆（12）。

【技术特征摘要】
1.一种精密测试探针用铍青铜底柱头，包括绝缘外壳（1）、连接头（2）和限位板（13），所述绝缘外壳（1）顶端固定连接有连接头（2），其特征在于：所述绝缘外壳（1）内部固定设有底柱头（3），所述底柱头（3）底端活动连接有连接杆（4），所述连接杆（4）外围固定设有伸缩弹簧（5），所述伸缩弹簧（5）顶端固定连接有绝缘板（6），所述绝缘板（6）顶端固定连接有一号连接片（7），所述连接杆（4）顶端固定连接有二号连接片（8），所述二号连接片（8）外围固定连接有绝缘套（9），所述二号连接片（8）顶端固定连接有导电杆（10），所述绝缘套（9）一侧固定连接有滑动杆（11），所述绝缘套（9）底端固定连接有固定杆（12）。2.根据权利要求1所述的一种精密测试探针用铍青铜底柱头，其特征在于：所述绝缘套（9）顶端固定设有限位板（13），所述连接头（2）内部固定连接有连接件（14...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹镭，
申请(专利权)人：浙江金连接科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33