【技术实现步骤摘要】
一种用于共轴双雷达系统的零位标较方法及系统
本专利技术属于电子
,涉及电子领域的探测技术,尤其涉及一种用于共轴双雷达系统零位标较的方法及系统。
技术介绍
目前,很多武器系统如激光武器等,进行目标跟踪时,具有粗跟、精跟两种跟踪子系统,通过粗跟子系统的跟踪结果引导精跟子系统,即通过粗跟子系统获得跟踪目标的数据,由粗跟子系统输出跟踪数据,粗跟子系统的输出数据作为精跟子系统的输入,才能引导武器进行精准打击。由于两套子系统有各自的器件的基准零位,为了提高武器精准度,各子系统的零位标较工作则必不可少。在探测领域,雷达用无线电的方法发现目标并测定它们的空间位置。因此,雷达也被称为“无线电定位”。雷达是利用电磁波探测目标的电子设备。雷达发射电磁波对目标进行照射并接收其回波,由此获得目标至电磁波发射点的距离、距离变化率(径向速度)、方位、高度等信息。现有的探测系统中,安装有扫描雷达和跟踪雷达,或者将扫描雷达与跟踪雷达置于同一转台。但是,在具有扫描雷达和跟踪雷达的系统中,由于机械加工、组装零件、器件安装都存在误差,以及各雷达系统零 ...
【技术保护点】
1.一种共轴双雷达系统的零位标校方法,其特征在于,所述方法包括:/n步骤S101:在暗室分别对所述共轴双雷达系统的各单套雷达执行光轴与机械轴标校;/n步骤S102:室外设置超远距离标靶,对所述共轴双雷达系统进行零位标校;调整所述各单套雷达的零位。/n
【技术特征摘要】
1.一种共轴双雷达系统的零位标校方法,其特征在于,所述方法包括:
步骤S101:在暗室分别对所述共轴双雷达系统的各单套雷达执行光轴与机械轴标校;
步骤S102:室外设置超远距离标靶,对所述共轴双雷达系统进行零位标校;调整所述各单套雷达的零位。
2.如权利要求1所述的共轴双雷达系统的零位标校方法,其特征在于,所述共轴双雷达系统的各单套雷达配置全站仪,所述全站仪发射激光执行光轴与机械轴标校。
3.如权利要求1所述的共轴双雷达系统的零位标校方法,其特征在于,所述各单套雷达包括雷达阵面、参考平面。
4.如权利要求2所述的共轴双雷达系统的零位标校方法,其特征在于,所述在暗室分别对所述共轴双雷达系统的各单套雷达执行光轴与机械轴标校,包括:
所述各单套雷达配置全站仪,所述全站仪与所述雷达阵面平行,所述雷达阵面中心对准所述喇叭天线中心;
调整所述全站仪的方位角、俯仰角,使得所述全站仪激光中心对准所述标靶的目标标靶位置;
记录所述全站仪的方位角ai、俯仰角bi;
记录各全站仪的偏差角度Xi,Xi=(ai,bi)。
5.如权利要求4所述的共轴双雷达系统的零位标校方法,其特征在于,所述使得所述全站仪激光中心对准所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:贾阳,张平,
申请(专利权)人:成都汇蓉国科微系统技术有限公司,
类型:发明
国别省市:四川;51
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