一种芯片测试的自定心结构制造技术

本实用新型专利技术涉及机械技术领域，具体为一种芯片测试的自定心结构，包括十字支撑架，十字支撑架的下方设有上卡盘和下卡盘，上卡盘上设有芯片孔，下卡盘的下表面设有面板。该芯片测试的自定心结构，将十字支撑架靠近张开限位柱的一端向卡口内推进，使得位于十字支撑架两侧的滚轮向上卡盘和下卡盘的两侧滑进，位于十字支撑架后端的滚轮向滚轮孔内滑进，使得芯片夹持在上卡盘和下卡盘之间，以此实现芯片中心快速定位的效果，提高测试速度，解决芯片测试机构不便于芯片进行快速中心定位的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试的自定心结构
本技术涉及机械
，具体为一种芯片测试的自定心结构。
技术介绍
目前，芯片是半导体元件产品的统称，芯片在投入市场前都需要经过严密的测试，现有的芯片测试机构不便于芯片快速与测试机器进行中心定位，降低测试速度，不便于使用。鉴于此，我们提出一种芯片测试的自定心结构。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种芯片测试的自定心结构，以解决上述
技术介绍
中提出的芯片测试机构不便于芯片进行快速中心定位的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片测试的自定心结构，包括十字支撑架，所述十字支撑架的后端以及两侧均设有第一通孔，所述十字支撑架的前端两侧均设有第二通孔，所述十字支撑架的前端设有第三通孔，所述第一通孔上设有滚轮，所述滚轮上设有两个环形槽，所述第二通孔上设有转轴，所述转轴上设有摇臂，所述摇臂上设有圆孔，所述第三通孔上设有张开限位柱，所述十字支撑架的下方设有上卡盘和下卡盘，所述上卡盘上设有芯片孔，所述上卡盘位于所述芯片孔的位置处紧密焊接有挡块，所述上卡盘的一端设有第一摇臂孔，所述上卡盘的一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试的自定心结构，包括十字支撑架(1)，其特征在于：所述十字支撑架(1)的后端以及两侧均设有第一通孔(11)，所述十字支撑架(1)的前端两侧均设有第二通孔(12)，所述十字支撑架(1)的前端设有第三通孔(13)，所述第一通孔(11)上设有滚轮(14)，所述滚轮(14)上设有两个环形槽(141)，所述第二通孔(12)上设有转轴(15)，所述转轴(15)上设有摇臂(16)，所述摇臂(16)上设有圆孔(161)，所述第三通孔(13)上设有张开限位柱(17)，所述十字支撑架(1)的下方设有上卡盘(2)和下卡盘(3)，所述上卡盘(2)上设有芯片孔(21)，所述上卡盘(2)位于所述芯片孔(21...

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试的自定心结构，包括十字支撑架(1)，其特征在于：所述十字支撑架(1)的后端以及两侧均设有第一通孔(11)，所述十字支撑架(1)的前端两侧均设有第二通孔(12)，所述十字支撑架(1)的前端设有第三通孔(13)，所述第一通孔(11)上设有滚轮(14)，所述滚轮(14)上设有两个环形槽(141)，所述第二通孔(12)上设有转轴(15)，所述转轴(15)上设有摇臂(16)，所述摇臂(16)上设有圆孔(161)，所述第三通孔(13)上设有张开限位柱(17)，所述十字支撑架(1)的下方设有上卡盘(2)和下卡盘(3)，所述上卡盘(2)上设有芯片孔(21)，所述上卡盘(2)位于所述芯片孔(21)的位置处紧密焊接有挡块(211)，所述上卡盘(2)的一端设有第一摇臂孔(22)，所述上卡盘(2)的一端设有滚轮孔(23)，所述下卡盘(3)上设有异形孔(31)，所述下卡盘(3)的一端对称设有两个第二摇臂孔(32)，所述下卡盘(3)的下表面设有面板(4)，所述面板(4)上设有方形孔(41)，所述面板(4)的前端设有卡口(42)，所述面板(4)的后端设有滚轮活动孔(43)，所述面板(4)的后端对称设有两个限位孔(44)，所述限位孔(44)内设有闭合限位柱(441)。


2.根据权利要求1所述的芯片测试的自定心结构，其特征在于：所述转轴(15)的顶端与所述第二通孔(12)插接配合，所述转轴(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵成兵，
申请(专利权)人：苏州格巨电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32