一种半导体探针测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体探针测试治具，包括支撑架和探针切换机构；支撑架：其上表面固定连接有固定板，支撑架的下表面四角均螺纹连接有支脚，固定板的上表面中部固定连接有测试台，测试台上表面开设的滑动槽内滑动连接有活动台，固定板的上表面左侧固定连接有支柱，支柱的上端通过销轴转动连接有摆臂，固定板的上表面右侧设置有显示屏；探针切换机构：其设置于摆臂的内部，摆臂的上表面设置有第二电动推杆，第二电动推杆的伸缩端与位于其下方的探针切换机构配合安装，该半导体探针测试治具，可以对需要进行测试的探针进行快速准确的切换，可以对探针进行多角度测试，便于使用。便于使用。便于使用。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体探针测试治具


[0001]本技术涉及半导体探针
，具体为一种半导体探针测试治具。

技术介绍

[0002]半导体探针也被称测试探针，是应用于电子测试中测试半导体元器件的一种功能测试探针，起连接导电和传播信号的作用，除了一般的芯片测试用途，也可广泛应用在汽车、智能手机、平板电脑、GSP导航、电视机等作为内部连接配件，在半导体探针的生产中，常常需要对半导体探针进行测试，现有的半导体探针测试治具是将半导体探针进行固定在电动推杆伸缩端的安装座上，使半导体探针的输入端点连接外部PLC控制器的输出端，然后对PCB板进行固定，使PCB板的输出端点连接PLC控制器的输入端，然后由电动推杆驱动需要进行测试的半导体探针靠近PCB板，如果可以由PCB板向PCB板传输信息则说明半导体探针合格，但是在对半导体探针的测试中，人员需要不断的更换半导体探针来进行测试，比较费时费力，为此，我们提出一种半导体探针测试治具。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种半导体探针测试治具，可以对需要进行测试的探针进行快速准确的切换，可以对探针进行多角度测试，便于使用，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体探针测试治具，包括支撑架和探针切换机构；
[0005]支撑架：其上表面固定连接有固定板，支撑架的下表面四角均螺纹连接有支脚，固定板的上表面中部固定连接有测试台，测试台上表面开设的滑动槽内滑动连接有活动台，固定板的上表面左侧固定连接有支柱，支柱的上端通过销轴转动连接有摆臂，固定板的上表面右侧设置有显示屏；
[0006]探针切换机构：其设置于摆臂的内部，摆臂的上表面设置有第二电动推杆，第二电动推杆的伸缩端与位于其下方的探针切换机构配合安装；
[0007]其中：所述固定板的上表面左侧设置有PLC控制器，第二电动推杆和显示屏的输入端均电连接PLC控制器的输出端，可以对需要进行测试的探针进行快速准确的切换，可以对探针进行多角度测试，便于使用。
[0008]进一步的，所述探针切换机构包括转动盘、弹簧、活动板和滑柱，所述转动盘通过转轴转动连接于摆臂的下表面，转动盘的下表面固定连接有均匀分布的滑柱，滑柱的底端均固定连接有挡片，相邻的两个滑柱的外弧面之间均滑动连接有活动板，活动板上表面靠近转动盘竖向中心的一侧均匀开设的放置槽内均固定连接有橡胶圈，挡片与活动板之间均设置有弹簧，弹簧均套设于滑柱的外弧面，第二电动推杆的伸缩端与位于其下方的活动板配合安装，通过放置槽来对需要进行测试的探针进行安装，通过活动板带动安装之后的探针上下移动。
[0009]进一步的，所述探针切换机构还包括第二支座、蜗杆、蜗轮、第一齿轮和第二齿轮，所述第一齿轮通过转动轴转动连接于摆臂的内部底端右侧，第二齿轮固定套设于转轴的外弧面上端，第一齿轮与第二齿轮啮合连接，蜗轮固定套设于转动轴的外弧面下侧，摆臂的内部底端固定连接有两个左右对称分布的第二支座，两个第二支座之间通过轴承转动连接有蜗杆，蜗杆与蜗轮啮合连接，通过蜗杆与蜗轮之间的啮合关系带动转动盘的转动实现对探针的切换。
[0010]进一步的，所述摆臂的内部底端后侧设置有第一电机，第一电机的输出轴与蜗杆固定连接，第一电机的输入端电连接PLC控制器的输出端，控制蜗杆的转动。
[0011]进一步的，所述支柱的后侧面下端通过销轴转动连接有第一电动推杆，第一电动推杆的伸缩端通过销轴与摆臂转动连接，第一电动推杆的输入端电连接PLC控制器的输出端，控制探针的转动角度。
[0012]进一步的，固定板的上表面中部固定连接有两个左右对称分布的第一支座，两个第一支座之间通过轴承转动连接有调节丝杆，调节丝杆与活动台螺纹连接，通过调节丝杆的转动来带动活动台的移动。
[0013]进一步的，所述固定板的上表面右侧设置有第二电机，第二电机的输出轴与调节丝杆固定连接，第二电机的输入端电连接PLC控制器的输出端，控制调节丝杆的转动。
[0014]与现有技术相比，本技术的有益效果是：本半导体探针测试治具，具有以下好处：
[0015]通过PLC控制器调控显示屏和第二电动推杆运行，第二电动推杆的伸缩端向下伸出，使得第二电动推杆的伸缩端带动位于其下侧的活动板与滑柱发生滑动，弹簧被压缩，使得活动板带动需要测试的半导体探针向下移动，使需要测试的半导体探针与PCB板的触点接触，当PCB板的输出端向PLC控制器传输数据时，则由PLC控制器向显示屏发出合格的信息，由显示屏将信息显示出来，然后通过PLC控制器调控第一电动推杆运行，使第一电动推杆的伸缩端收回一定的长度，使得摆臂与支柱发生转动，使得摆臂带动需要测试的半导体探针发生倾斜，通过PLC控制器调控第二电机运行，第二电机的输出轴带动调节丝杆发生转动，使得调节丝杆带动活动台带动PCB板发生移动，对PCB板的位置进行调整，再由PLC控制器调控第二电动推杆运行，使得第二电动推杆运行的伸缩端推动，需要测试的半导体探针重新与PCB板触点接触，对需要测试的半导体探针进行多角度的接触，在需要更换半导体探针测试时，通过PLC控制器调控第一电机发生转动，使得第一电机的输出轴带动蜗杆发生转动，进而通过蜗杆与蜗轮之间的啮合关系，使得蜗轮发生转动，进而使第一齿轮发生转动，通过第一齿轮与第二齿轮之间的啮合关系，使得转轴发生转动，进而使转轴带动转动盘发生转动，使转动盘转动一定的角度，对位于第二电动推杆下方的活动板进行切换，进而对需要更换半导体探针进行切换，然后重复上述测试操作，实现对半导体探针的测试，通过蜗杆与蜗轮之间的啮合关系实现第一齿轮的自锁，再由第一齿轮与第二齿轮之间的啮合关系实现转动盘的自锁，进而使转动盘可以快速稳定的切换需要进行测试的半导体探针的测试，通过第二电动推杆的伸缩端推动位于其下方的活动板向下，使得需要进行测试的半导体探针向下接触PCB板，对半导体探针进行检测，再通过第一电动推杆控制需要进行测试的半导体探针发生转动，对半导体探针进行多角度测试，可以对需要进行测试的探针进行快速准确的切换，可以对探针进行多角度测试，便于使用。
附图说明
[0016]图1为本技术结构示意图；
[0017]图2为本技术摆臂的内部剖视结构示意图；
[0018]图3为本技术结构A处放大示意图。
[0019]图中：1支撑架、2支脚、3固定板、4测试台、5第一支座、6调节丝杆、7活动台、8支柱、9摆臂、10第一电动推杆、11探针切换机构、111第二支座、112蜗杆、113蜗轮、114第一齿轮、115第二齿轮、116转动盘、117弹簧、118活动板、119滑柱、12第一电机、13第二电动推杆、14第二电机、15显示屏、16PLC控制器。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体探针测试治具，其特征在于：包括支撑架(1)和探针切换机构(11)；支撑架(1)：其上表面固定连接有固定板(3)，支撑架(1)的下表面四角均螺纹连接有支脚(2)，固定板(3)的上表面中部固定连接有测试台(4)，测试台(4)上表面开设的滑动槽内滑动连接有活动台(7)，固定板(3)的上表面左侧固定连接有支柱(8)，支柱(8)的上端通过销轴转动连接有摆臂(9)，固定板(3)的上表面右侧设置有显示屏(15)；探针切换机构(11)：其设置于摆臂(9)的内部，摆臂(9)的上表面设置有第二电动推杆(13)，第二电动推杆(13)的伸缩端与位于其下方的探针切换机构(11)配合安装；其中：所述固定板(3)的上表面左侧设置有PLC控制器(16)，第二电动推杆(13)和显示屏(15)的输入端均电连接PLC控制器(16)的输出端。2.根据权利要求1所述的一种半导体探针测试治具，其特征在于：所述探针切换机构(11)包括转动盘(116)、弹簧(117)、活动板(118)和滑柱(119)，所述转动盘(116)通过转轴转动连接于摆臂(9)的下表面，转动盘(116)的下表面固定连接有均匀分布的滑柱(119)，滑柱(119)的底端均固定连接有挡片，相邻的两个滑柱(119)的外弧面之间均滑动连接有活动板(118)，活动板(118)上表面靠近转动盘(116)竖向中心的一侧均匀开设的放置槽内均固定连接有橡胶圈，挡片与活动板(118)之间均设置有弹簧(117)，弹簧(117)均套设于滑柱(119)的外弧面，第二电动推杆(13)的伸缩端与位于其下方的活动板(118)配合安装。3.根据权利要求2所述的一种半导体探针测试治具，其特征在于：所...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵成兵，
申请(专利权)人：苏州格巨电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：