用于测试射频元件的测试结构制造技术

一种用于测试射频元件的测试结构，通过于测试设备的传输线的端部套设第一阻抗件，以于测试射频元件时，使该第一阻抗件产生极大阻抗，借此抑制于该传输线的端部所产生的电流与辐射。

Test structure for testing RF components

A test structure for testing RF elements, through which a first impedance piece is sleeved at the end of the transmission line of the test equipment, so that when testing RF elements, the first impedance piece generates a great impedance, thereby inhibiting the current and radiation generated at the end of the transmission line.

【技术实现步骤摘要】
用于测试射频元件的测试结构
本专利技术有关一种测试结构，尤指一种用于测试射频元件的测试结构。
技术介绍
随着电子产业向轻、薄、短、小、高速、高密度发展，目前无线通讯技术已广泛应用于各式各样的消费性电子产品以利接收或发送各种无线讯号，例如，全球移动通讯系统(GlobalSystemforMobileCommunications，简称GMS)、无线局域网(WirelessLAN，简称WLAN)、全球定位系统(GlobalPositioningSystem，简称GPS)、蓝牙(Bluetooth)、手持式数字视频广播(DigitalVideoBroadcasting-Handheld，简称DVB-H)等，故悉知无线通讯产品中均会配置有能接收或发送射频(Radiofrequency，简称RF)讯号的天线模组。由于天线于无线通讯产品中属于讯号收发的重要构件，故于无线通讯产品的生产过程中，需对天线的收发功率进行测试。如图1所示，悉知用于检测天线的测试设备中，其测试设备用于将一传输线1借由讯号探针12a与接地探针12b接触所对应的讯号测试垫9a与接地测试垫9b。具体地，该传输线1以绝缘体10包覆讯号端口11a，且该讯号端口11a伸出该绝缘体10以形成该讯号探针12a，并于该绝缘体10外形成接地层11b，以令该接地探针12b设于该接地层11b上。又，作为天线的射频元件9以其天线本体90连接该讯号测试垫9a，而未连接该些接地测试垫9b。当进行测试作业时，该测试设备提供交流电流I经由该讯号端口11a与该讯号测试垫9a流到该天线本体90，并将辐射a发射至环境空气中，以令该测试设备接收该辐射a的讯号，借此判断该射频元件9的收发功率。然而，当交流电流经过该讯号端口11a时，因电气的回流特性会于该接地层11b的表面上产生反向交流电流I’，而该反向交流电流I’会经该接地探针12b流到该接地测试垫9b，致使该接地层11b无法包覆整体电流，即该反向交流电流I’存在于该传输线1的外表面上，故该反向交流电流I’会产生辐射b，因而该测试设备不仅会接受到预期的辐射a的讯号，还会接收到该传输线1的外表面所产生的非期望辐射b的讯号，致使该测试设备于接收讯号时会受到非期望辐射b的干扰而造成误判或测试误差。因此，如何克服悉知技术中的问题，实已成目前亟欲解决的课题。
技术实现思路
鉴于上述悉知技术的缺失，本专利技术揭露一种用于测试射频元件的测试结构，可抑制于传输线的端部所产生的电流与辐射。本专利技术的用于测试射频元件的测试结构，且该射频元件设有测试部，该测试结构包括：传输线，其端部具有多个外接端口、及隔离各该外接端口的绝缘体，且该外接端口上配置有探针件，以令该探针件电性连接该射频元件的测试部；以及第一阻抗件，其设于该传输线的端部外侧，其中，该第一阻抗件包含导电部与绝缘部，该绝缘部接触该传输线的端部的外侧，且该导电部设于该绝缘部的外侧并电性连接该传输线。前述的测试结构中，该传输线为配置于一测试设备上的电缆或线路。前述的测试结构中，该第一阻抗件为环体。前述的测试结构中，该绝缘部的长度为该射频元件的讯号频率所产生的电磁波的波长的四分之一。前述的测试结构中，还包括至少一第二阻抗件，其设于该第一阻抗件的外侧。例如，该第二导电件为环体。此外，该第二阻抗件包含导电部与绝缘部，该绝缘部接触该第一阻抗件的外侧，且该导电部设于该绝缘部的外侧并电性连接该第一阻抗件与该传输线。进一步，该绝缘部的长度对应该射频元件的讯号频率。由上可知，本专利技术的测试结构，主要借由该第一阻抗件设于该传输线的端部外侧，以于该测试结构测试该射频元件时，使该第一阻抗件具有极大阻抗，故可抑制于该传输线外侧的外接端口(或接地层)产生电流与辐射。附图说明图1为悉知测试设备的传输线于使用时的上视剖面示意图；图2为本专利技术的测试结构的第一实施例于使用时的上视剖面示意图；图2’为图2的电路图；图3为本专利技术的测试结构的第二实施例于使用时的上视剖面示意图；以及图4为图1、图2及图3的传输线所产生的辐射能量的曲线图。符号说明1,2a传输线10,20绝缘体11a讯号端口11b接地层12a讯号探针12b接地探针2,3测试结构20a第一端面20b第二端面21a,21b外接端口22a,22b探针件23第一阻抗件23a第一导电部23b第一绝缘部31,32第二阻抗件31a,32a第二导电部31b,32b第二绝缘部33导接件9射频元件9a讯号测试垫9b接地测试垫90天线本体L,L0,L1,L2长度S1第一端部S2第二端部a,b辐射I,I’电流A1,A2,A3曲线。具体实施方式以下借由特定的具体实施例说明本专利技术的实施方式，熟悉此技艺的人士可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本专利技术的其他优点及功效。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技艺的人士的了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如「外侧」、「中心」、「第一」、「第二」及「一」等用语，也仅为便于叙述的明了，而非用以限定本专利技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当也视为本专利技术可实施的范畴。图2为本专利技术的测试结构2的第一实施例的剖面示意图。如图2所示，所述的测试结构2包括：一传输线2a以及一第一阻抗件23。于本实施例中，所述的测试结构2用于测试一射频元件9，如天线结构。例如，该射频元件9用以配置于如智能手机的电子装置(图略)上，其包含一天线本体90及多个可传输讯号至该天线本体90的电性测试垫(例如为讯号测试垫9a与接地测试垫9b)以作为测试部，其中，该天线本体90连接该讯号测试垫9a，而未连接该接地测试垫9b。所述的传输线2a为配置于一测试设备(图略)上的电缆或线路。于本实施例中，该传输线2a具有相对的第一与第二端部S1,S2，其中，该第一端部S1配置有多个外接端口21a,21b，且各该外接端口21a,21b之间设有用以隔离的绝缘体20，而第二端部S2安装于该测试设备上。例如，其中一外接端口21a位于该传输线2a的中心轴线上以作为讯号端口，而其它外接端口21b位于该绝缘体20外表面以作为接地端口。应可理解地，外侧的外接端口21b可视为一体成形的表层，如金属片绻曲成管状、镀附于该绝缘体20上的金属层等。此外，各该外接端口21a,21b的一侧上配置有一探针件22a,22b，以接触及电性连接该射频元件9的电性测试垫。所述的第一阻抗件23设于该传输线2a的第一端部S1外侧并电性连接该传输线2a。于本实施例中，该第一阻抗本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试射频元件的测试结构，且该射频元件设有测试部，其特征在于，该测试结构包括：/n传输线，其端部具有多个外接端口及隔离各该外接端口的绝缘体，且该外接端口上配置有探针件，以令该探针件电性连接该射频元件的测试部；以及/n第一阻抗件，其设于该传输线的端部外侧，其中，该第一阻抗件包含导电部与绝缘部，该绝缘部接触该传输线的端部的外侧，且该导电部设于该绝缘部的外侧并电性连接该传输线。/n

【技术特征摘要】
20180510 TW 1071159461.一种用于测试射频元件的测试结构，且该射频元件设有测试部，其特征在于，该测试结构包括：
传输线，其端部具有多个外接端口及隔离各该外接端口的绝缘体，且该外接端口上配置有探针件，以令该探针件电性连接该射频元件的测试部；以及
第一阻抗件，其设于该传输线的端部外侧，其中，该第一阻抗件包含导电部与绝缘部，该绝缘部接触该传输线的端部的外侧，且该导电部设于该绝缘部的外侧并电性连接该传输线。


2.根据权利要求1所述的测试结构，其特征在于，该传输线为配置于一测试设备上的电缆或线路。


3.根据权利要求1所述的测试结构，其特征在于，该第一阻抗件...

【专利技术属性】
技术研发人员：方柏翔，陈冠达，赖佳助，
申请(专利权)人：矽品精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;TW