双探针系统及印制电路板检测设备技术方案

本实用新型专利技术提供了一种双探针系统及印制电路板检测设备，包括固定支架、固定于固定支架的探针驱动机构以及由探针驱动机构驱动的间距调整机构，间距调整机构包括直线驱动组件、导轨组件、第一探针组件和第二探针组件，第一探针组件和第二探针组件中至少之一为在直线驱动组件驱动下沿导轨组件往复滑动的活动探针组件。本实用新型专利技术提供的双探针系统及印制电路板检测设备，活动探针组件可以在直线驱动组件的带动下沿着导轨组件移动，从而对固定探针组件和活动探针组件之间的相对位置进行调整，可以实现对印制电路板检测过程中双探针的同步探刺，可以通过仅移动单个印制电路板检测设备既可以实现多印制电路板的检测，大大的提高了检测效率。

Double probe system and PCB testing equipment

The utility model provides a double probe system and a printed circuit board testing device, which comprises a fixed bracket, a probe driving mechanism fixed on the fixed bracket and a spacing adjusting mechanism driven by the probe driving mechanism, wherein the spacing adjusting mechanism comprises a linear driving component, a guide rail component, a first probe component and a second probe component, wherein the first probe component and the second probe component are at least One is a movable probe assembly which slides back and forth along the guide rail assembly driven by a linear driving assembly. The double probe system and printed circuit board detection equipment provided by the utility model can move along the guide rail assembly driven by the linear driving assembly, so as to adjust the relative position between the fixed probe assembly and the movable probe assembly, so as to realize the synchronous detection of double probes in the detection process of printed circuit board, and can move only a single printed circuit The circuit board detection equipment can not only realize the detection of multiple printed circuit boards, but also greatly improve the detection efficiency.

【技术实现步骤摘要】
双探针系统及印制电路板检测设备
本技术属于印制电路板的加工检测设备的
，更具体地说，是涉及一种双探针系统及印制电路板检测设备。
技术介绍
印制电路板检测设备一般包括多个探测系统协同工作，每个探针系统上驱动单个探针完成探测动作，从而保证检测的效率。在对于内置线圈的电路板进行电感值检测时，需要同时对两点同时进行刺探测量，且同一规格的印制电路板中被测点的相对位置以及点距完全相同。现有技术中，普遍采用传统单的探针系统对内置线圈的电路板进行探测，在进行检测时通过两个探针系统相配合，从而实现探刺操作，在对大批量多规格的内置线圈的电路板进行检测时，检测效率较低。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种双探针系统及印制电路板检测设备，以解决现有技术中存在单探针系统对大批量多规格的内置线圈的电路板进行检测时效率较低的技术问题。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种双探针系统，包括：固定支架、固定于所述固定支架的探针驱动机构以及由所述探针驱动机构驱动的间距调整机构，所述间距调整机构包括直线驱动组件、导轨组件、第一探针组件和第二探针组件，所述第一探针组件和所述第二探针组件中至少之一为在所述直线驱动组件驱动下沿所述导轨组件往复滑动的活动探针组件。进一步地，所述第一探针组件为固定于所述导轨组件的侧壁的固定探针组件，所述第二探针组件为所述活动探针组件，所述活动探针组件与所述直线驱动组件相连接。进一步地，所述直线驱动组件包括直线电机、固定杆和探针臂，所述固定杆的两端均固定于所述导轨组件上，所述直线电机设于所述固定杆上并沿所述固定杆直线运动，所述探针臂与所述直线电机固定连接。进一步地，所述导轨组件包括基板和设于所述基板底部的第一导轨，所述第一导轨的长度方向与所述固定杆的长度方向一致。进一步地，所述基板的两侧开设有长条孔，所述探针臂穿过所述长条孔与所述活动探针组件固定连接。进一步地，所述探针臂的底部固定连接有第一滑块，所述第一滑块上开设有与所述第一导轨配合的第一滑槽。进一步地，所述活动探针组件和所述固定探针组件均包括依次连接的高度连接件、间距调整件和探针，所述高度连接件和探针臂或基板固定连接，所述间距调整件调整两个所述探针之间的间距。进一步地，所述探针驱动机构包括角度调节组件和高度调节组件，所述角度调节组件与所述固定支架固定连接，所述高度调节组件固定于所述角度调节组件上，且所述高度调节组件带动所述间距调整机构移动。进一步地，所述角度调节组件包括旋转电机、电机固定板和支柱组，所述旋转电机设于所述电机固定板上且与所述固定支架固定连接，所述支柱组与所述电机固定板固定连接。进一步地，所述高度调节组件包括固定背板、高度调节电机和传动部，所述支柱组和所述固定背板固定连接，且所述高度调节电机固定于所述固定背板上，所述传动部连接所述高度调节电机和所述间距调整机构。进一步地，所述传动部包括主动轮、从动轮和同步带，所述主动轮设于所述高度调节电机的输出端，所述从动轮设于所述导轨组件的一侧，且所述同步带连接所述主动轮和所述从动轮，所述同步带上套设有同步连接件，所述同步连接件与所述导轨组件固定连接。进一步地，所述从动轮的中心设有调整杆，所述固定背板上开设有与所述调整杆滑动连接的调节孔。进一步地，所述高度调节组件还包括设于所述固定背板内侧壁的第二导轨，所述导轨组件的外侧固定有第二滑块，所述第二滑块上开设有与所述第二导轨配合的第二滑槽。本技术还公开了一种印制电路板检测设备，包括如上任一条所述的双探针系统。本技术提供的双探针系统及印制电路板检测设备的有益效果在于：与现有技术相比，本技术双探针系统及印制电路板检测设备，通过固定支架与印制电路板检测设备上的其他部件相连接，活动探针组件可以在直线驱动组件的带动下沿着导轨组件移动，从而对第一探针组件和第二探针组件之间的相对位置进行调整，可以实现对印制电路板检测过程中双探针的同步探刺，可以通过仅移动单个印制电路板检测设备既可以实现多印制电路板的检测，大大的提高了检测效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的双探针系统的立体结构示意图；图2为本技术实施例所采用的间距调整机构的立体结构示意图；图3为图2所采用的间距调整机构的另一角度的立体结构示意图；图4为本技术实施例所采用的固定支架的立体结构示意图；图5为本技术实施例所采用的角度调节组件的立体结构示意图；图6为本技术实施例所采用的高度调节组件的立体结构示意图；图7为图6所采用的高度调节组件的另一角度的立体结构示意图，其中从动轮未示；图8为图7中的A部分的局部放大示意图。其中，图中各附图标记：1、固定支架；2、探针驱动机构；3、间距调整机构；21、角度调节组件；22、高度调节组件；211、旋转电机；212、电机固定板；213、支柱组；221、固定背板；222、高度调节电机；223、传动部；224、第二滑块；225、第二滑槽；2231、主动轮；2232、从动轮；2233、同步带；2234、同步连接件；2235、调整杆；2236、调节孔；31、直线驱动组件；32、导轨组件；33、固定探针组件；34、活动探针组件；311、直线电机；312、固定杆；313、探针臂；321、基板；322、第一导轨；3211、长条孔；3131、第一滑块；331、高度连接件；332、间距调整件；333、探针；341、高度连接件；342、间距调整件；343、探针；344、“L”形连接板；3421、连接板；3422、调节块；3423、推板。具体实施方式为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。请一并参阅图1至图3，现对本技术提供的双探针系统进行说明。所述双探针系统，包括固定支架1、固定于所述固定支架1的探针驱动机构2以及由所述探针驱动机构本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.双探针系统，其特征在于：包括固定支架(1)、固定于所述固定支架(1)的探针驱动机构(2)以及由所述探针驱动机构(2)驱动的间距调整机构(3)，所述间距调整机构(3)包括直线驱动组件(31)、导轨组件(32)、第一探针组件和第二探针组件，所述第一探针组件和所述第二探针组件中至少之一为在所述直线驱动组件(31)驱动下沿所述导轨组件(32)往复滑动的活动探针组件(34)。

【技术特征摘要】
1.双探针系统，其特征在于：包括固定支架(1)、固定于所述固定支架(1)的探针驱动机构(2)以及由所述探针驱动机构(2)驱动的间距调整机构(3)，所述间距调整机构(3)包括直线驱动组件(31)、导轨组件(32)、第一探针组件和第二探针组件，所述第一探针组件和所述第二探针组件中至少之一为在所述直线驱动组件(31)驱动下沿所述导轨组件(32)往复滑动的活动探针组件(34)。2.根据权利要求1所述的双探针系统，其特征在于：所述第一探针组件为固定于所述导轨组件(32)的侧壁的固定探针组件(33)，所述第二探针组件为所述活动探针组件(34)，所述活动探针组件(34)与所述直线驱动组件(31)相连接。3.如权利要求2所述的双探针系统，其特征在于：所述直线驱动组件(31)包括直线电机(311)、固定杆(312)和探针臂(313)，所述固定杆(312)的两端均固定于所述导轨组件(32)上，所述直线电机(311)设于所述固定杆(312)上并沿所述固定杆(312)直线运动，所述探针臂(313)与所述直线电机(311)固定连接。4.如权利要求3所述的双探针系统，其特征在于：所述导轨组件(32)包括基板(321)和设于所述基板(321)底部的第一导轨(322)，所述第一导轨(322)的长度方向与所述固定杆(312)的长度方向一致。5.如权利要求4所述的双探针系统，其特征在于：所述基板(321)的两侧开设有长条孔(3211)，所述探针臂(313)穿过所述长条孔(3211)与所述活动探针组件(34)固定连接。6.如权利要求4所述的双探针系统，其特征在于：所述探针臂(313)的底部固定连接有第一滑块(3131)，所述第一滑块(3131)上开设有与所述第一导轨(322)配合的第一滑槽。7.如权利要求3所述的双探针系统，其特征在于：所述活动探针组件(34)和所述固定探针组件(33)均包括依次连接的高度连接件(331或341)、间距调整件(332或342)和探针(333或343)，所述高度连接件(331或341)和探针臂(313)或基板(321)固定连接，所述间距调整件(332或342)调整两个所述探针(333和343)之间的间距。8.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：李景涛，
申请(专利权)人：南京协辰电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32