一种新型测试板及测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种新型测试板及测试装置，新型测试板包括：叠设的两个以上测试板；沿着叠设方向相邻设置的一对测试板可拆卸式连接；至少两个以上测试板适用于不同类型PCB。本发明专利技术无需像现有技术每一次更换测试板时都需要对测试板进行拆卸并重新定位，在保证探针行走的基准点不变的同时，还大大节省了测试板更换所耗流程和时间，降低工作人员的工作量，也降低了机台空闲率，从而实现一台测试台可测试多种类型PCB，大大节约的企业的设备成本。

【技术实现步骤摘要】
一种新型测试板及测试装置
本专利技术涉及测试板
，尤指一种新型测试板及测试装置。
技术介绍
随着科技的发展，通讯产品多种多样，导致通讯产品的核心部件-PCB的类型也是多种多样，但现有的一些测试板由于使用局限性较大，只能放置某种特定尺寸PCB，根本不适用目前日趋多尺寸的PCB产品，导致通讯产品的公司需要购置多类型的测试板以及与该测试板相适配的测试台以满足其产品日益多样化的测式需求。如申请人目前需要同时使用93000平台和Ultra-flex平台来实现两种类型的PCB的测试，且每一个探针台配置的是各自的多个测试板，而每一个测试板对应一种PCB；当每一台探针台需要测试不同类型的PCB时，都需要将之前的测试板从探针台上拆卸下来再安装适用待测试PCB的测试板，由于现有的测试板是通过两条分设于测试板相对两侧的导轨进行固定，因此，每次更换测试板都需要将导轨从探针台拆卸下来再安装，但两条平行导轨的平行度很难控制，很容易导致测试板安装出现偏移，测试板实际安装位置与设计安装位置出现偏差，这样探针的移动轨迹(基于设计安装位置的基准点)与PCB实际位置不匹配，导致测试容易失真、甚至失败，测试效率低且对测试板安装精准度要求高，导致更换测试板时需要消耗较长的时间进行定位，更换测试板的效率低。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种新型测试板及测试装置，无需像现有技术每一次更换测试板时都需要对测试板进行拆卸并重新定位，在保证探针行走的基准点不变的同时，还大大节省了测试板更换所耗流程和时间，降低工作人员的工作量，也降低了机台空闲率，从而实现一台测试台可测试多种类型PCB，大大节约的企业的设备成本。本专利技术提供的技术方案如下：一种新型测试板，包括：叠设的两个以上测试板；沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板可拆卸式连接；至少两个以上所述测试板适用于不同类型PCB。本技术方案中，叠设的测试板相互间可拆卸式连接，使得本专利技术只需于测试台安装一次以实现精准安装，后期需要对不同类型PCB进行测试时，只需将与该PCB对应的测试板显露出来，移除不适用该PCB的测试板即可，无需像现有技术每一次更换测试板时都需要对测试板进行拆卸并重新定位，在保证探针行走的基准点不变的同时，还大大节省了测试板更换所耗流程和时间，降低工作人员的工作量，也降低了机台空闲率，从而实现一台测试台可测试多种类型PCB(只需通过改变编程即可实现一台测试台测试多种类型PCB)，无需企业因要测试多种PCB需购置多种测试台，大大节约的企业的设备成本，提高了测试台的使用频率。进一步优选地，一个以上所述测试板为框架结构；所述框架结构的一个以上中空位置用于容设PCB的电子元器件；所述框架结构的一个以上框条设有与PCB的定位孔对应的第一连接孔；一连接件依次贯穿对应设置的所述定位孔和所述第一连接孔以实现PCB与所述测试板的连接。本技术方案中，满足了PCB远离探针一侧的板面设有电子元器件的PCB，从而使得本专利技术同时也适用于PCB远离探针一侧的板面没有电子元器件的PCB；同时还节省了每一测试板的制作原材料，并降低了每一测试板的重量；使得本专利技术成本低且便于搬运、拆装，适用范围广，实用性强。更优的，连接件与定位孔和第一连接孔的配合，提高了PCB与测试板的连接紧固性和稳定性，避免测试过程中PCB出现位移现象，从而保证了测试的顺利进行以及测试结果的精准性和科学性(测试过程中出现偏移可能会导致测试点测试失败)。进一步优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板设于所述第二测试板的下方；所述第一测试板设有避空部，所述避空部为所述第二测试板的防呆标识。本技术方案中，避空部的设置降低了本专利技术的制作难度和制作成本，更优的，避空部还可作为设置该测试板上方的测试板的防呆标识，从而降低了本专利技术更换测试板的难度，无需专业人员进行更换(如果没有防呆标识，需要专业人员根据待测的PCB类型来安装测试板)，节约人力成本的投入的同时，进一步缩短了测试板更换所耗时间。进一步优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板和所述第二测试板的接触处设有两组以上限位组件；所述限位组件包括相适配的限位孔和限位柱；所述限位孔设于所述第一测试板，所述限位柱设于所述第二测试板。本技术方案中，限位孔和限位柱降低了相邻设置的两个测试板安装过程中的对位难度，只需将其对准并使得限位柱插入限位孔中便可实现该两个测试板的初步定位，进一步缩短了测试板安装所需时间。进一步优选地，叠设于最下方的测试板为与测试台连接的底部测试板；所述底部测试板设有两个以上用于与测试台第二连接孔。本技术方案中，通过第二连接孔实现本专利技术与测试台的固定与连接，实现方式简便且易于实现和操作。进一步优选地，所述第二连接孔为长条孔；或，所述第二连接孔为长条孔，两个以上所述长条孔的延展方向平行；或，所述第二连接孔为长条孔，两个以上所述长条孔的延展方向平行，两个以上所述长条孔的延展方向呈角度设置，所述长条孔的总数量为三个以上；或，所述底部测试板设有便于人体握持的握持部。本技术方案中，长条孔提高了测试台与本专利技术之间的安装误差和制造误差容忍度，进而降低了本专利技术和测试台的制作要求，提高了本专利技术和测试台的合格率，从而降低了成本。而通过多个延展方向不同的长条孔，大大限制了本专利技术于测试台的偏移量，从而提高了本专利技术与测试台的连接紧固性和牢靠性。进一步优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板设有两个以上第三连接孔，所述第二测试板对应每一所述第三连接孔的位置设有一第四连接孔；一连接件依次贯穿对应设置的所述第三连接孔和第四连接孔以实现所述第一测试板和所述第二测试板的连接。本技术方案中，相邻设置的两个测试板通过相互配合的连接件、第三连接孔和第四连接孔实现可拆卸式连接，连接紧固、牢靠，且易于实现和操作。进一步优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板和所述第二测试板的接触处设有凹凸配合结构。本技术方案中，凹凸配合的可拆卸方式便于测试板的更换，缩短测试板更换时间。进一步优选地，沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板和所述第二测试板磁吸式连接。本技术方案中，磁吸式方式易于实现和操作。本专利技术还提供了一种测试装置，包括：上述任意一项所述的新型测试板；以及，测试台；所述测试台包括用于放置所述新型测试板的测试平台以及用于安装探针并带动所述探针测试放置于所述新型测试板的其中一测试板的PCB。本技术方案中，只需于测试台精准安装一次本新型测试板，后期需要对不同类型PCB进行测试时，只需将与该PCB对应的测试板显露出来，移除不适用该PCB的测试板即可，无需像现有技术每一次更换测试板时都需要对测试板进行拆卸并重新定位，在保证探针行走的基准点不变的同时，还大大节省了测试板更换所耗流程和时间，降低工作人员的工作量，也降低了机台空闲率，从而实现一台测试台可测试多种类型PCB(只需通过改变编程即可实现一台测试台测试多种类型PCB)，无需企业因要测试多种PCB需购置多种测试台，大大节约的企业的设备成本，提高了测试台的使用频率。本专利技术提供的一种新型本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型测试板，其特征在于，包括：叠设的两个以上测试板；沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板可拆卸式连接；至少两个以上所述测试板适用于不同类型PCB。

【技术特征摘要】
1.一种新型测试板，其特征在于，包括：叠设的两个以上测试板；沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板可拆卸式连接；至少两个以上所述测试板适用于不同类型PCB。2.根据权利要求1所述的新型测试板，其特征在于：一个以上所述测试板为框架结构；所述框架结构的一个以上中空位置用于容设PCB的电子元器件；所述框架结构的一个以上框条设有与PCB的定位孔对应的第一连接孔；一连接件依次贯穿对应设置的所述定位孔和所述第一连接孔以实现PCB与所述测试板的连接。3.根据权利要求1所述的新型测试板，其特征在于：沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板设于所述第二测试板的下方；所述第一测试板设有避空部，所述避空部为所述第二测试板的防呆标识。4.根据权利要求1所述的新型测试板，其特征在于：沿着叠设方向相邻设置的一对所述测试板包括第一测试板和第二测试板；所述第一测试板和所述第二测试板的接触处设有两组以上限位组件；所述限位组件包括相适配的限位孔和限位柱；所述限位孔设于所述第一测试板，所述限位柱设于所述第二测试板。5.根据权利要求1所述的新型测试板，其特征在于：叠设于最下方的测试板为与测试台连接的底部测试板；所述底部测试板设有两个以上用于与测试台第二连接孔。6.根据权利要求5所述的新型测试板，其特征在于：所述第二连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁建，罗雄科，
申请(专利权)人：上海泽丰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31