一种集成电路印制板的测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种集成电路印制板的测试装置及测试方法，该测试装置包括：第一边界扫描调试器，包含第一端口及第二端口，第一端口与集成电路印制板的第一部分器件中的第一个器件的输入端连接，第二端口与第一部分器件中的最后一个器件的输出端连接；第二边界扫描调试器，包含第三端口及第四端口，第三端口与集成电路印制板的第二部分器件中的第一个器件的输入端连接，第四端口与第二部分器件中的最后一个器件的输出端连接；连接线测试单元，包含第三边界扫描调试器及第四边界扫描调试器，第三边界扫描调试器与第一器件的N个第一端口连接，第四边界扫描调试器与至少两个器件包含的N个第二端口连接，N个第一端口与N个第二端口连接。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路印制板的测试装置及测试方法
本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种集成电路印制板的测试装置及测试方法。
技术介绍
随着通信设备的小型化，通信板卡的集成密度越来越大，该通信板卡可以为基带处理单元(BuildingBasebandUnit，BBU)板卡，从而无法通过在板卡上预留测试点然后下探针的方式，对通信板卡的质量进行测试。在现有技术中，采用边界扫描(BoundaryScan，BSCAN)测试来对通信板卡的质量进行测试。具体来讲，如图1所述，在每个芯片内部集成了用于测试的单元，即边界扫描单元，在芯片正常运行时，该边界扫描单元绕开(Bypass)所有的输入信号或输出信号，不对该输入信号或输出信号产生影响，如图2中的信号流向1所示；在芯片进行BSCAN测试时，该边界扫描单元可以在BSCAN调试器的控制下，在输入端口写入输入信号，并读取输出端口的输出信号，如图2中的信号流向2所示，然后该BSCAN调试器比较该输入信号与该输出信号的大小关系是否与芯片正常运行时相同，若相同，则芯片在板卡上的连接成功，若不相同，则芯片的连接不正确，从而完成对该芯片的检测。然而，在对通信板卡进行BSCAN测试时，由于该通信板卡上通常包含有多个芯片，例如，FPGA，SOC以及EPLD等，若需要让BSCAN测试的覆盖率最大，则要求将该通信板卡的所有待测试的芯片连接到同一个测试链路中，但由于不同的待测试芯片所需的测试电压不同，因此，当将多个待测试芯片连接到同一测试电路时，不同测试电压之间需要增加电压转换的电路，造成测试成本增加，因此，现有技术中的BSCAN测试方法存在覆盖率和测试成本的矛盾。
技术实现思路
本专利技术提供一种集成电路印制板的测试装置及测试方法，用以解决现有技术中的BSCAN测试方法存在覆盖率和测试成本的矛盾的技术问题。本专利技术第一方面提供了一种集成电路印制板的测试装置，包括：第一边界扫描调试器，包含第一端口及第二端口，所述第一端口与所述集成电路印制板的第一部分器件中的第一个器件的输入端连接，所述第二端口与所述第一部分器件中的最后一个器件的输出端连接，所述第一部分器件为所述集成电路印制板中顺序连接的多个器件，从而通过所述第一边界扫描调试器完成对所述第一部分器件的边界测试；第二边界扫描调试器，包含第三端口及第四端口，所述第三端口与所述集成电路印制板的第二部分器件中的第一个器件的输入端连接，所述第四端口与所述第二部分器件中的最后一个器件的输出端连接；其中，所述第二部分器件为所述集成电路印制板中除所述第一部分器件外的顺序连接的多个器件，所述第一部分器件与所述第二部分器件的功能不同，所述第一部分器件中的第一器件用于对所述第二部分器件中的至少两个第二器件进行电压转换，从而通过所述第二边界扫描调试器完成对所述第二部分器件的边界测试；连接线测试单元，包含第三边界扫描调试器及第四边界扫描调试器，所述第三边界扫描调试器与所述第一器件的N个第一端口连接，所述第四边界扫描调试器与所述至少两个器件包含的N个第二端口连接，所述N个第一端口与所述N个第二端口连接，N为正整数，从而通过所述连接线测试单元完成对所述第一部分器件与所述第二部分器件之间的连接线的边界测试。可能的实施方式中，所述第一部分器件及所述第二部分器件中的每个器件中包含多个边界扫描单元BSC，所述每个器件中包含的多个边界扫描单元与该器件中的多个端口一一对应。可能的实施方式中，在所述集成电路印制板为基带处理单元BBU时，所述第一部分器件包含多个可擦除可编辑逻辑器件EPLD，所述第二部分器件包含多个现场可编程门阵列FPGA及多个系统级芯片SOC。可能的实施方式中，在所述集成电路印制板为基带处理单元BBU时，所述第三器件为电可擦可编程只读存储器EEPROM或闪存Flash芯片。本专利技术第二方面提供了一种集成电路印制板的测试方法，应用于如第一方面所述的集成电路印制板的测试装置中，所述方法包括：所述测试装置的第一边界扫描调试器对所述集成电路印制板的第一部分器件进行测试，确定所述第一部分器件是否连接成功；其中，所述第一部分器件为所述集成电路印制板中顺序连接的具有第一功能的多个器件；所述测试装置的第二边界扫描调试器对所述集成电路印制板的第二部分器件进行测试，确定所述第二部分器件是否连接成功；其中，所述第二部分器件为所述集成电路印制板中顺序连接的具有第二功能的多个器件，所述第一功能与所述第二功能不同，所述第一部分器件中的第一器件用于对所述第二部分器件中的至少两个第二器件进行电压转换；在确定所述第一部分器件及所述第二部分器件连接成功后，所述测试装置的连接线测试单元对所述第一器件与所述至少两个第二器件之间的连接线进行测试，确定所述连接线是否连接成功；其中，所述第三边界扫描调试器与所述第一器件的N个第一端口连接，所述第四边界扫描调试器与所述至少两个器件包含的N个第二端口连接，所述N个第一端口与所述N个第二端口连接，N为正整数；在所述测试装置的连接线测试单元确定所述连接线连接成功后，完成对所述集成电路印制板的测试过程。可能的实施方式中，所述测试装置的连接线测试单元对所述第一器件与所述至少两个第二器件之间的连接线进行测试，包括：通过所述连接线测试单元的第三边界扫描调试器控制所述第一器件处于测试模式，通过所述第四边界扫描调试器控制所述至少两个第二器件处于所述测试模式；其中，所述第一器件及所述至少两个第二器件均包含所述测试模式和工作模式，在所述第一器件处于所述测试模式时，所述第一器件的输入值通过所述第一器件内的边界扫描单元BSC设置；通过所述第三边界扫描调试器将所述N个第一端口中用于向所述至少两个第二器件中的任一器件输出的输出端口的输出值配置为预设电平值；通过所述连接线测试单元的第四边界扫描调试器将所述N个第二端口中用于向所述第一器件输出的输出端口的输出值配置为预设电平值；通过所述第三边界扫描调试器和所述第四边界扫描调试器分别读取所述N个第一端口中用于接收所述至少两个第二器件中的任一器件的输出值的输入端口的第一取值及所述N个第二端口中用于接收所述第一器件的输出值的输入端口的第二取值；在所述第一取值与所述第二取值均为所述预设电平值时，所述连接线测试单元确定所述连接线连接成功，完成对所述连接线的测试。可能的实施方式中，所述集成电路印制板包含第三器件，所述第三器件与所述第一部分器件的最后一个器件连接，所述第三器件不包含BSC，所述方法还包括：所述第一边界调试器控制所述第一部分器件模拟所述第三器件的工作时序；其中，所述工作时序为所述第三器件进行擦除操作时的时序或所述第三器件进行读操作的时序或所述第三器件进行写操作的时序；所述第一边界调试器将所述工作时序输入至所述第三器件；当所述第三器件完成与所述工作时序对应的操作时，所述第一边界调试器确定所述第三器件与所述第一部分器件的最后一个器件连接成功，完成对所述第三器件的测试。可能的实施方式中，所述第一边界调试器控制所述第一部分器件模拟所述第三器件的工作时序，包括：所述第一边界扫描调试器控制所述最后一个器件中的M个端口在第一时间段的输出值与所述工作时序在所述第一时间段的取值相同；所述第一边界扫描调试器控制所述M个端口的输出值按照预设周期进行更新，以使所述M个端口的输出值在第i本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路印制板的测试装置，其特征在于，包括：第一边界扫描调试器，包含第一端口及第二端口，所述第一端口与所述集成电路印制板的第一部分器件中的第一个器件的输入端连接，所述第二端口与所述第一部分器件中的最后一个器件的输出端连接，所述第一部分器件为所述集成电路印制板中顺序连接的多个器件，从而通过所述第一边界扫描调试器完成对所述第一部分器件的边界测试；第二边界扫描调试器，包含第三端口及第四端口，所述第三端口与所述集成电路印制板的第二部分器件中的第一个器件的输入端连接，所述第四端口与所述第二部分器件中的最后一个器件的输出端连接；其中，所述第二部分器件为所述集成电路印制板中除所述第一部分器件外的顺序连接的多个器件，所述第一部分器件与所述第二部分器件的功能不同，所述第一部分器件中的第一器件用于对所述第二部分器件中的至少两个第二器件进行电压转换，从而通过所述第二边界扫描调试器完成对所述第二部分器件的边界测试；连接线测试单元，包含第三边界扫描调试器及第四边界扫描调试器，所述第三边界扫描调试器与所述第一器件的N个第一端口连接，所述第四边界扫描调试器与所述至少两个器件包含的N个第二端口连接，所述N个第一端口与所述N个第二端口连接，N为正整数，从而通过所述连接线测试单元完成对所述第一部分器件与所述第二部分器件之间的连接线的边界测试。...

【技术特征摘要】
1.一种集成电路印制板的测试装置，其特征在于，包括：第一边界扫描调试器，包含第一端口及第二端口，所述第一端口与所述集成电路印制板的第一部分器件中的第一个器件的输入端连接，所述第二端口与所述第一部分器件中的最后一个器件的输出端连接，所述第一部分器件为所述集成电路印制板中顺序连接的多个器件，从而通过所述第一边界扫描调试器完成对所述第一部分器件的边界测试；第二边界扫描调试器，包含第三端口及第四端口，所述第三端口与所述集成电路印制板的第二部分器件中的第一个器件的输入端连接，所述第四端口与所述第二部分器件中的最后一个器件的输出端连接；其中，所述第二部分器件为所述集成电路印制板中除所述第一部分器件外的顺序连接的多个器件，所述第一部分器件与所述第二部分器件的功能不同，所述第一部分器件中的第一器件用于对所述第二部分器件中的至少两个第二器件进行电压转换，从而通过所述第二边界扫描调试器完成对所述第二部分器件的边界测试；连接线测试单元，包含第三边界扫描调试器及第四边界扫描调试器，所述第三边界扫描调试器与所述第一器件的N个第一端口连接，所述第四边界扫描调试器与所述至少两个器件包含的N个第二端口连接，所述N个第一端口与所述N个第二端口连接，N为正整数，从而通过所述连接线测试单元完成对所述第一部分器件与所述第二部分器件之间的连接线的边界测试。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一部分器件及所述第二部分器件中的每个器件中包含多个边界扫描单元BSC，所述每个器件中包含的多个边界扫描单元与该器件中的多个端口一一对应。3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述集成电路印制板为基带处理单元BBU时，所述第一部分器件包含多个可擦除可编辑逻辑器件EPLD，所述第二部分器件包含多个现场可编程门阵列FPGA及多个系统级芯片SOC。4.如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，在所述集成电路印制板为基带处理单元BBU时，所述第三器件为电可擦可编程只读存储器EEPROM或闪存Flash芯片。5.一种集成电路印制板的测试方法，应用于如权利要求1-4中任一项所述的集成电路印制板的测试装置中，其特征在于，所述方法包括：所述测试装置的第一边界扫描调试器对所述集成电路印制板的第一部分器件进行测试，确定所述第一部分器件是否连接成功；其中，所述第一部分器件为所述集成电路印制板中顺序连接的具有第一功能的多个器件；所述测试装置的第二边界扫描调试器对所述集成电路印制板的第二部分器件进行测试，确定所述第二部分器件是否连接成功；其中，所述第二部分器件为所述集成电路印制板中顺序连接的具有第二功能的多个器件，所述第一功能与所述第二功能不同，所述第一部分器件中的第一器件用于对所述第二部分器件中的至少两个第二器件进行电压转换；在确定所述第一部分器件及所述第二部分器...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑洋，冯亮，
申请(专利权)人：大唐移动通信设备有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11