集成电路成品处理方法、装置及终端设备制造方法及图纸

技术编号:22417433 阅读:28 留言:0更新日期:2019-10-30 01:49
本发明专利技术适用于工业控制技术领域,提供了集成电路成品处理方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质,包括:获取待处理的集成电路成品的丝印信息;将所述丝印信息与预设的集成电路产品订单中的生产信息比对,所述生产信息包括型号或/和产品批号或/和生产序列号;根据比对结果生成是否对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令。通过上述方法,能够将具有不同生产信息且混杂在一起的集成电路成品区分开,同时,避免对集成电路成品的不良率产生消极的影响。

【技术实现步骤摘要】
集成电路成品处理方法、装置及终端设备
本专利技术属于工业控制
,尤其涉及一种集成电路成品处理方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
集成电路(integratedcircuit,IC)是一种微型电子器件或部件。现有的集成电路的大致生产过程是:采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。然而,具有不同生产信息且具有相同封装的集成电路成品可能混杂在一起。而在现实中,由于生产信息相同的集成电路成品的功能必然相同或相似,因此,通常通过测试集成电路成品的功能来区分具有不同生产信息的集成电路成品。但这种方法只能区分出功能相差较大的集成电路成品,并不能将混杂在一起的具有不同生产信息、且具有相同封装但功能相似或相同的集成电路成品区分开,即不能将所有具有相同封装、具有不同生产信息且混杂在一起的集成电路成品区分开,况且,在不了解集成电路成品的情况下,就直接测试集成电路成品的功能,会对某些集成电路成品造成不可逆的损坏,例如,假设某型号的集成电路成品的额定电压是1.5伏,而测试该集成电路成品时所采用的是3伏的测试电压,测试电压大于该型号的集成电路成品的额定电压,则容易对该集成电路成品造成不可逆的损坏。如此,便增大了集成电路成品的不良率。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术实施例提供了一种集成电路成品处理方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质,以解决现有技术不能将所有具有相同封装、具有不同生产信息且混杂在一起的集成电路成品区分开,况且,在不了解集成电路成品的生产信息的情况下,就直接测试集成电路成品的功能,造成集成电路成品的不良率增大的问题。本专利技术实施例的第一方面提供了一种集成电路成品处理方法,包括:获取待处理的集成电路成品的丝印信息;将所述丝印信息与预设的集成电路产品订单中的生产信息比对,所述生产信息包括型号或/和产品批号或/和生产序列号;根据比对结果生成是否对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令。本专利技术实施例的第二方面提供了一种集成电路成品处理装置,包括:丝印信息获取单元,用于获取待处理的集成电路成品的丝印信息;比对单元,用于将所述丝印信息与预设的集成电路产品订单中的生产信息比对,所述生产信息包括型号或/和产品批号或/和生产序列号;指令生成单元,用于根据比对结果生成是否对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令。本专利技术实施例的第三方面提供了一种终端设备,包括:存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如所述集成电路成品处理方法的步骤。本专利技术实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如所述集成电路成品处理方法的步骤。本专利技术实施例与现有技术相比存在的有益效果是:由于根据待处理的集成电路成品的丝印信息与预设的集成电路产品订单中的生产信息的比对结果生成是否对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令,而生产信息包括型号或/和产品批号或/和生产序列号,即根据待处理的集成电路成品的型号或/和产品批号或/和生产序列号生成是否对该待处理的集成电路成品进行功能测试的指令,因此,本申请能够将具有不同生产信息且混杂在一起的集成电路成品区分开,同时,由于是在确定了集成电路成品的生产信息的情况下,才决定是否对所述待处理的集成电路成品进行功能测试,避免了对集成电路成品造成不可逆的损坏,从而避免了对集成电路成品的不良率产生消极的影响。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的第一种集成电路成品处理方法的流程示意图;图2是本专利技术实施例提供的第二种集成电路成品处理方法的流程示意图;图3是本专利技术实施例提供的一种集成电路成品处理装置的结构示意图;图4是本专利技术实施例提供的终端设备的示意图。具体实施方式以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本专利技术实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本专利技术。在其它情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本专利技术的描述。为了说明本专利技术所述的技术方案,下面通过具体实施例来进行说明。应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。还应当理解,在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。还应当进一步理解,在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样,术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地,短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。具体实现中,本申请实施例中描述的终端设备包括但不限于诸如具有触摸敏感表面(例如,触摸屏显示器和/或触摸板)的移动电话、膝上型计算机或平板计算机之类的其它便携式设备。还应当理解的是,在某些实施例中,上述设备并非便携式通信设备,而是具有触摸敏感表面(例如,触摸屏显示器和/或触摸板)的台式计算机。在接下来的讨论中,描述了包括显示器和触摸敏感表面的终端设备。然而,应当理解的是,终端设备可以包括诸如物理键盘、鼠标和/或控制杆的一个或多个其它物理用户接口设备。终端设备支持各种应用程序,例如以下中的一个或多个:绘图应用程序、演示应用程序、文字处理应用程序、网站创建应用程序、盘刻录应用程序、电子表格应用程序、游戏应用程序、电话应用程序、视频会议应用程序、电子邮件应用程序、即时消息收发应用程序、锻炼支持应用程序、照片管理应用程序、数码相机应用程序、数字摄影机应用程序、web浏览应用程序、数字音乐播放器应用程序和/或数字视频播放器应用程序。可以在终端设备上执行的各种应用程序可以使用诸如触摸敏感表面的至少一个公共物理用户接口设备。可以在应用程序之间和/或相应应用程序内调整和/或改变触摸敏感表面的一个或多个功能以及终端上显示的相应信息。这样,终端的公共物理架构(例如,触摸敏感表面)可以支持具有对用户而言直观且透明的用户界面的各种应用程序。实施例一:图1示出了本申请实施例提供的第一种集成电路成品处理方法的流程示意图,详述如下:步骤S1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路成品处理方法,其特征在于,包括:获取待处理的集成电路成品的丝印信息;将所述丝印信息与预设的集成电路产品订单中的生产信息比对,所述生产信息包括型号或/和产品批号或/和生产序列号;根据比对结果生成是否对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路成品处理方法,其特征在于,包括:获取待处理的集成电路成品的丝印信息;将所述丝印信息与预设的集成电路产品订单中的生产信息比对,所述生产信息包括型号或/和产品批号或/和生产序列号;根据比对结果生成是否对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令。2.如权利要求1所述的集成电路成品处理方法,其特征在于,所述根据比对结果生成是否对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令,包括:若比对结果为所述丝印信息的生产信息与所述预设的集成电路产品订单中的生产信息相同,则生成对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令。3.如权利要求2所述的集成电路成品处理方法,其特征在于,在所述生成对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令之后,包括:发送所述对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令至集成电路成品测试设备,以指示所述集成电路成品测试设备对所述待处理的集成电路成品进行功能测试。4.如权利要求3所述的集成电路成品处理方法,其特征在于,所述集成电路成品测试设备包括:集成电路测试仪,对应地,在所述发送所述对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令至集成电路成品测试设备之后,包括:获取所述预设的集成电路产品订单中的功能测试程序信息;加载所述功能测试程序信息对应的功能测试程序至所述集成电路测试仪上,以指示所述集成电路测试仪根据所述对所述待处理的集成电路成品进行功能测试的指令和所述功能测试程序对所述待处理的集成电路成品进行功能测试。5.如权利要求1所述的集成电路...

【专利技术属性】
技术研发人员:韦敏荣舒雄栗伟斌李安平李建强云星王英广
申请(专利权)人:深圳米飞泰克科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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